Партнеры
Scienta Omicron
![](/upload/iblock/988/ut3trsddsn29ee2lur91kqad0rlrhkw7.png)
Мировой лидер (по количеству накопленных критических технологий) в областях зондовой микроскопии, электронной спектроскопии и тонкопленочных технологий. Сумма технологий Scienta Omicron позволяет максимально гибко обслуживать научные интересы заказчиков в самых разных областях исследований, предлагая уникальные решения, специально интегрированные под самые специфические задачи.
![](/upload/iblock/ef1/hw2ibfw045kehgj78yjro1xb7no3kdkn.png)
Scienta R4000 является самым эффективным на сегодняшний день спектрометром c радиусом полусферы электронного анализатора 200 мм
![](/upload/iblock/8c3/bqjmecbvhi06sp7485kkpl9ao20tk664.png)
Модель Scienta R3000 — компактный спектрометр с 135 мм радиусом полусферы электронного анализатора, вакуумный корпус которого выполнен из мю-металла
![](/upload/iblock/ada/rourt06q94je8egipolndptzo8u0e69q.png)
Система VG Scienta DA30 является разработкой последнего поколения. Новейшая конструкция дефлектора этого анализатора позволяет прибору детектировать электроны в полном конусе с углом раствора 30 градусов
![](/upload/iblock/3ab/fgry4r5rh74965hvzo85t3x8ieqsx1qw.png)
Химический анализ Оже-спектрометрии и микроскопии с предельным разрешением
![](/upload/iblock/f55/78npjxto5bl8ex7i6fs335a3ftv48eem.png)
RHEED (Дифракция быстрых электронов или ДБЭ) система состоит из: — экрана на свинцовом стекле с окном просмотра (6″ OD)
![](/upload/iblock/a6e/rw8wbkpb2hrdp4xkn1vrsthqwilnbg70.png)
Спектрометрическая система MXPS оборудована тремя камерами: аналитической, препаративной и шлюзом быстрой загрузки образцов
![](/upload/iblock/326/qp3u8kuay5lt5nvrxhjli4cg55xp399z.png)
Argus является полусферическим анализатором нового поколения, который построен на базе мультиканального детектора и обеспечивает бескомпромиссную производительность в экспериментах РФЭС и ЭСХА
![](/upload/iblock/6df/bghoc5o5a9su28xa1b25nsjx7yiizg8m.png)
DA30 ARPES. Фотоэмиссионный спектрометр с угловым разрешением
![](/upload/iblock/bfb/4mv4qsboaac82eemwch101qon0xot56y.png)
Комплекс фотоэлектронной спектроскопии HAXPES-Lab построен на следующих базовых принципах
![](/upload/iblock/327/32iqf4aj77b1idm3v2dx3mqlv027qt1r.png)
Данный анализатор DFS30 оснащен инновационной технологией трехмерной регулировки фокуса
![](/upload/iblock/9bb/8to6uytm8vjcp8qkw6k04sxidbsz2uo1.png)
Представляет собой универсальную платформу для проведения исследований поверхности образцов методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии в сверхвысоком вакууме
![](/upload/iblock/717/9ce035qiw43m1lt3m0993cp4kf15d8ni.png)
Анализатор DA20 обладает инновационной технологией регистрации, которая ранее была доступна только в более крупных моделях, таких как ScientaOmicron DA30-L
![](/upload/iblock/bd6/rdf1krh1olcj35homd9v2g1bqqax5vnx.png)
Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии
![](/upload/iblock/00d/633zg7tso5tt14rm06pt4lnknha4t4k8.png)
Метод низкотемпературной сканирующей туннельной микроскопии с момента выхода на рынок 15 лет назад в 1996 году остается востребованным в широком кругу научных областей
![](/upload/iblock/d26/pirk70cql0c35cuhhj9uk22g1isqg0ky.png)
Спустя год после присуждения Биннигу и Рореру Нобелевской премии в 1986 году компания Omicron представила первый сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп — легендарный UHV STM1
![](/upload/iblock/008/eonest7ll7uktuyb7q4bc0u7px4rlkml.png)
Лаборатория MULTISCAN представляет собой инструмент, объединяющий различные методики анализа поверхности и работающие одновременно в одной области образца
![](/upload/iblock/450/run9pslfjdsggup382z1amk0k13h6k8a.png)
Уникальный четырехточечный нанозонд с РЭМ колонной. Интеграция наноманипулятора на основе сканирующего зондового микроскопа и растровой электронной микроскопии
![](/upload/iblock/0eb/9crqy3t8qx4rjeg5l7tgbx8cwl3085yo.png)
СЗМ Probe явлется компактным доступным завершенным решением для низкотемпературных СВВ СЗМ систем Omicron
![](/upload/iblock/7e6/magej31jfj9w9jz1g6hcqncsjul1np88.png)
Новые СЗМ Fermi представляют собой компактные решения для сверхвысоковакуумных СЗМ в температурном диапазоне от 15 до 400 К
![](/upload/iblock/e10/hoirauzrvu0i3ajfp237x7jmhvur9tu5.png)
Предназначен для ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии твердых тел с использованием газоразрядных линий HeI и HeII.
![](/upload/iblock/c82/01wq1y7rctbmb6xczyd3d4qeo5q40jd2.png)
HIS 13 — высоковакуумный источник фотонов ультрафиолетового диапазона, обладает очень высокой интенсивностью благодаря интеграции высоковольтного анода в самоцентрирующийся газоразрядный капилляр.
![](/upload/iblock/645/6gaddk61c0utrd1v47m5y1i4c1aowe96.png)
DAR 400 — высокоинтенсивный рентгеновский источник с двойным анодом. Уникальная конструкция источника позволяет минимизировать перекрёстные помехи между двумя анодами.
![](/upload/iblock/639/kaxw5ye923iuo8bimcll6i84rrm2pgrm.png)
Монохроматический рентгеновский источник XM 1000 обеспечивает оптимальный поток фотонов и отличное разрешение по энергии.
![](/upload/iblock/87c/tfpvmyekr547rcslbte08fyt3kpps8mt.png)
Данная ионная пушка от компании Scienta Omicron имеет точную фокусировку и четкое цифровое управление, что с легкостью обеспечивает регулируемый размер пучка с высочайшей плотностью тока, а также растровый режим для однородного травления образца.
![](/upload/iblock/9fb/eexi1j1zyev284dvnb27p64zgh34sct8.png)
ISE 5 представляет собой компактный и универсальный источник ионного распыления, который обладает высокими токами мишени свыше 80 мкА в широком диапазоне энергий от 300 эВ до 5 кэВ.
![](/upload/iblock/b44/vsujgyg226zcj5ks2tz3cts35k2cr662.png)
Источник EKF 300 с источником питания NGE 52 является универсальным источником электронов в диапазоне энергий от 0.1 кэВ до 5 кэВ.
![](/upload/iblock/de8/likdyvi8fen4houlzy8g3arwoytya2nk.png)
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС) идеально подходит для исследования изоляционных материалов, таких как полимеры, керамика, адгезивы и т.д.
![](/upload/iblock/26a/2k78okvgh9yd6ul2jokd9adnl8ekewe6.png)
Кластерная пушка GCIB 10S предназначена для максимально производительного определения профиля распределения веществ по глубине в комбинации с РФЭС и другими системами анализа поверхности.
![](/upload/iblock/af7/prirgbcde4nrh4fso8i37ejf9v4msvlq.png)
Источник электронов EKF 1000 с малым пятном облучения представляет собой компактное и экономически эффективное решение для решения широкого круга задач.
![](/upload/iblock/fd7/ziyh37u2r0y3tac8wnazlrvpz176aipz.png)
SEM 250: Источник электронов для сканирующей Оже- и растровой электронной микроскопии с размером пятна облучения лучше, чем 250 нм при 12 кВ напряжении / 1 нА токе пучка электронов.
![](/upload/iblock/093/toovtjh1m6fmkhdujb557c4ulvm0ruip.png)
Источник электронов для сканирующей Оже- и растровой электронной микроскопии с размером пятна облучения лучше, чем 20 нм при 25 кВ напряжении / 0.5 нА токе пучка электронов, на рабочем расстоянии 25 мм.
![](/upload/iblock/10b/q26qeo70hb30mftzplzgh9d0x1anli2w.png)
Источник электронов с монтажом на фланец NW35 CF, оптимизированный для параллельного пучка электронов при низких кинетических энергиях.
![](/upload/iblock/e71/ii6den3p3yrhmxatpmns6pa3ar5rm90r.png)
Разработан специально для применения в лабораторных фотоэлектронных спектрометрах.
![](/upload/iblock/fb9/tbty3zfctcv2ny7fem551il9vyjf5pt4.png)
Фотоэмиссионная электронная микроскопия (PEEM) является чрезвычайно мощным методом для получения изображений магнитного контраста, а также топографической и химической томографии в высоком разрешении.