Главная Каталог Наука и нанотехнологии Источники ионизирующего излучения Scienta Omicron Аргонная кластерная пушка с ионным пучком GCIB 10S

Источники ионизирующего излучения Scienta Omicron

Аргонная кластерная пушка с ионным пучком GCIB 10S

Заказать

Описание оборудования

Кластерная пушка GCIB 10S предназначена для максимально производительного определения профиля распределения веществ по глубине в комбинации с РФЭС и другими системами анализа поверхности.

Кластерный пучок ионов позволяет проводить глубокий анализ профиля распределения веществ по глубине в полимерах с минимальной потерей информации о химических связях из-за повреждения поверхности ионным пучком. Это имеет решающее значение при анализе современных многослойных структур, например, органических светодиодов (OLED), биомедицинских устройств с чувствительным покрытием или других полимерных поверхностей, а также демонстрирует заметный прогресс в анализе хорошо известных материалов, поверхность которых заметно деградирует во время обычного профилирования с использованием Ar₁.

Помимо использования аргонового кластерного ионного источника вместе с современными системами РФЭС, система GCIB 10S также может быть легко интегрирована в имеющуюся у заказчика систему сверхвысокого вакуума: монтаж осуществляется на свободный NW63CF фланец, направленный на образец. Использование GCIB 10S — экономичный способ модернизации РФЭС, МСВИ или других систем, которые используют кластерный пучок ионов для очистки образца или анализа профиля распределения веществ по глубине.

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Качество и безопасность пищевых продуктов

Фармацевтическая промышленность

Экология

Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам

Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:

Зонды для АСМ

Аксессуары для АСМ

Расходные материалы
для АСМ и СЭМ

Компоненты для
сверхвысокого вакуума

Похожее оборудование

Источник ультрафиолетового излучения UV-X

Источник ультрафиолетового излучения UV-X разработан специально для применения в лабораторных фотоэлектронных спектрометрах

Источник электронов SL 1000

Источник электронов с монтажом на фланец NW35 CF, оптимизированный для параллельного пучка электронов при низких кинетических энергиях

Источник электронов высокого разрешения SEM 20

Источник электронов для сканирующей Оже- и растровой электронной микроскопии с размером пятна облучения лучше, чем 20 нм при 25 кВ напряжении / 0.5 нА токе пучка электронов, на рабочем расстоянии 25 мм

Электронная пушка SEM 250 / SEM 500

SEM 250: Источник электронов для сканирующей Оже- и растровой электронной микроскопии с размером пятна облучения лучше, чем 250 нм при 12 кВ напряжении / 1 нА токе пучка электронов

Источник электронов с малым пятном EKF 1000

Источник электронов EKF 1000 с малым пятном облучения представляет собой компактное и экономически эффективное решение для решения широкого круга задач

Электронная пушка для нейтрализации заряда CN 10

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС) идеально подходит для исследования изоляционных материалов, таких как полимеры, керамика, адгезивы и т. д

Универсальная электронная пушка EKF 300

Источник EKF 300 с источником питания NGE 52 является универсальным источником электронов в диапазоне энергий от 0.1 кэВ до 5 кэВ

Ионная пушка ISE 5

ISE 5 представляет собой компактный и универсальный источник ионного распыления, который обладает высокими токами мишени свыше 80 мкА в широком диапазоне энергий от 300 эВ до 5 кэВ

Ионная пушка FDG 150

Данная ионная пушка от компании Scienta Omicron имеет точную фокусировку и четкое цифровое управление, что с легкостью обеспечивает регулируемый размер пучка с высочайшей плотностью тока, а также растровый режим для однородного травления образца

Источники монохроматического рентгена XM 1000 и XM 1200

Монохроматический рентгеновский источник XM 1000 обеспечивает оптимальный поток фотонов и отличное разрешение по энергии

Источники рентгена DAR 400 и DAR 450

DAR 400 — высокоинтенсивный рентгеновский источник с двойным анодом. Уникальная конструкция источника позволяет минимизировать перекрёстные помехи между двумя анодами

УФ источник HIS 13

HIS 13 — высоковакуумный источник фотонов ультрафиолетового диапазона, обладает очень высокой интенсивностью благодаря интеграции высоковольтного анода в самоцентрирующийся газоразрядный капилляр

УФ источник HIS 14 HD

Предназначен для ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии твердых тел с использованием газоразрядных линий HeI и HeII

Источники ультрафиолетового излучения для UPS и ARPES

Для проведения эффективных измерений ARPES и УФ фотоэлектронной спектроскопии требуется не только анализатор энергии, но также и источник излучения. Scienta VUV5000 является узкополосным источником высокой интенсивности крайнего УФ диапазона