Описание оборудования
Кластерная пушка GCIB 10S предназначена для максимально производительного определения профиля распределения веществ по глубине в комбинации с РФЭС и другими системами анализа поверхности.
Кластерный пучок ионов позволяет проводить глубокий анализ профиля распределения веществ по глубине в полимерах с минимальной потерей информации о химических связях из-за повреждения поверхности ионным пучком. Это имеет решающее значение при анализе современных многослойных структур, например, органических светодиодов (OLED), биомедицинских устройств с чувствительным покрытием или других полимерных поверхностей, а также демонстрирует заметный прогресс в анализе хорошо известных материалов, поверхность которых заметно деградирует во время обычного профилирования с использованием Ar1.
Помимо использования аргонового кластерного ионного источника вместе с современными системами РФЭС, система GCIB 10S также может быть легко интегрирована в имеющуюся у заказчика систему сверхвысокого вакуума: монтаж осуществляется на свободный NW63CF фланец, направленный на образец. Использование GCIB 10S — экономичный способ модернизации РФЭС, МСВИ или других систем, которые используют кластерный пучок ионов для очистки образца или анализа профиля распределения веществ по глубине.

Сервис и ремонт измерительного оборудования
ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.
Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.