Анализ структуры методами рентгеновской дифракции

Рентгеновская дифрактометрия является одним из наиболее распространенных методов для определения фазового состава исследуемых образцов. Она позволяет идентифицировать структуру, оценить содержание той или иной фазы в образце, вид кристаллической решетки, размер элементарной ячейки и многое другое.

Благодаря рентгеноструктурному анализу возможно исследование образцов в виде порошков, пленок, тел макро- и микрообъема. Предложенные многоцелевые дифрактометры позволяют определить характеристики широкого спектра материалов: металлы, композитные материалы, объекты неорганического или органического происхождения, наноматериалы, сверхпроводящие материалы и т.д. Также рентгеноструктурный анализ широко используется при определении параметров глинистых почв, строительных материалов, производственной пыли, продуктов химической промышленности, фармацевтических препаратов и т.д.

Сегодня существует множество специализированных баз, хранящих информацию о структуре и фазовом составе большинства известных материалов, например: базы по кристаллографии ICSD и по материаловедению ICDD.

Смотреть оборудование Получить консультацию

Категория:

Подкатегория:

Бренд:

Область применения:

Товары раздела

Настольный рентгеновский дифрактометр HAOYUAN DX-27mini

Предназначен для контроля качества в различных сферах промышленного производства. Качественный анализ, количественная оценка и анализ кристаллической структуры металлических и неметаллических образцов.

Рентгеновский анализатор напряжений HAOYUAN DST-17

Позволяет точно определить остаточные напряжения даже у самых сложных деталей, характеризующихся сложной/неправильной формой или многодоменной структурой. Характеризуется высокой мощностью, высоким разрешением и точными результатами измерений.

Многоцелевой рентгеновский дифрактометр HAOYUAN DX-2700BH

Сочетает рутинный анализ со специализированными измерениями. Его отличают высокоточная система измерения угла дифракции, высокостабильная система управления, разнообразные дополнительные аксессуары, специализированное ПО и многое другое.

Рентгеновский дифрактометр высокого разрешения HAOYUAN DX-2800

Предназначен для углубленного изучения структуры материала. Благодаря высокоточному измерению угла дифракции, особенностям конструкции и разработанному ПО возможны надежная оценка фазового состава в образце, его особенностей, оценка напряжений, структурный анализ и многое другое.

Аксессуары для рентгеноструктурного анализа

Предназначены для расширения возможностей стандартных дифрактометров. Позволяют проводит исследования структуры/текстуры самых различных образцов в температурном диапазоне от -193 ℃ до 1600 ℃.