Анализ структуры методами рентгеновской дифракции

   Рентгеновская дифрактометрия является одним из наиболее распространенных методов для определения фазового состава исследуемых образцов. Она позволяет идентифицировать структуру, оценить содержание той или иной фазы в образце, вид кристаллической решетки, размер элементарной ячейки и многое другое.

   Благодаря рентгеноструктурному анализу возможно исследование образцов в виде порошков, пленок, тел макро- и микрообъема. Предложенные многоцелевые дифрактометры позволяют определить характеристики широкого спектра материалов: металлы, композитные материалы, объекты неорганического или органического происхождения, наноматериалы, сверхпроводящие материалы и т.д. Также рентгеноструктурный анализ широко используется при определении параметров глинистых почв, строительных материалов, производственной пыли, продуктов химической промышленности, фармацевтических препаратов и т.д.

   Сегодня существует множество специализированных баз, хранящих информацию о структуре и фазовом составе большинства известных материалов, например: базы по кристаллографии ICSD и по материаловедению ICDD.