Многоцелевой рентгеновский дифрактометр HAOYUAN DX-2700BH

Дифрактометр DX-2700BH — это комплексный продукт, сочетающий рутинный анализ со специализированными измерениями. Его отличают:

• идеальное сочетание аппаратной части и программного обеспечения для удовлетворения потребностей как ученых, так и работников производства;
• высокоточная система измерения угла дифракции;
• высокостабильная система управления для обеспечения отличной повторяемости измерений;
• широкий спектр дополнительных аксессуаров для самых различных целей;
• специализированные программное обеспечением и простота эксплуатации.
  
  

Рентгеновский дифрактометр — это универсальный измерительный прибор, позволяющий получить информацию о фазовом составе материала, его кристаллической структуре и существующих химических связях.

• идентификация одной и многих фаз в неизвестных образцах;
• количественный анализ известных фаз в смешанных образцах;
• анализ кристаллической структуры (анализ структуры по методу Ритвельда)
• исследование кристаллической структуры при высоких и низких температурах;
• анализ образцов в виде пленок: фазовый состав слоев, толщина слоев, шероховатость поверхности и т.д.;
• анализ образцов на микроуровне;
• оценка текстуры поверхности металлических образцов, анализ напряжений.
  
  

Дифрактометр DX-2700BH — сочетание высокой производительности, качества и практичности

• простота подготовки образцов и установки (plug-and-play) различных аксессуаров;
• металлокерамическая рентгеновская трубка для более высокой рабочей мощности;
• закрытый пропорциональный счетчик, прочный и не требующий дополнительного обслуживания;
• кремниевый дрейфовый детектор с превосходным угловым разрешением и разрешением по энергии;
• модульная конструкция или сборка plug-and-play, оператору не нужно калибровать оптическую систему.
  
  

Программное обеспечение для обработки данных включает в себя следующие функции:

• основные функции обработки данных (поиск пика, сглаживание, вычитание фона, подгонка формы пика, усиление формы пика, спектральный контраст, индексация дифракционной линии и т. д.);
• быстрый количественный анализ нестандартных образцов;
• оценка размера зерна;
• анализ кристаллической структуры (измерение и уточнение параметров ячейки);
• измерение макро- и микронапряжений;
• анализ картины дифракционных пиков;
• коррекция данных дифракции;
• рутинный количественный анализ на основе метода Ритвельда;
• качественный анализ с использованием базы данных ICDD или базы данных пользователей;
• количественный анализ с использованием базы данных ICDD или базы данных ICSD.