Главная Области применения Микроэлектроника и полупроводниковая промышленность

Области применения

Микроэлектроника и полупроводниковая промышленность

Электронная промышленность - это одна из самых технологичных и капиталоемких отраслей. Каждый производственный этап требует соответствующего решения задач измерений и контроля соблюдения тех процесса. Наша компания предлагает широкий перечень оборудования для каждой стадии, начиная с определения качества подложки с помощью физических и химических методов анализа (электрохимическое профилирование, лазерная интерферометрия) и заканчивая измерениями топологической нормы на готовых полупроводниковых структурах (светло и темнопольная микроскопия, рентгеноскопия).

Категории оборудования

Все категории

Хроматография и масс-спектрометрия

Это метод разделения и анализа смесей, основанный на распределении вещества между двумя фазами, подвижной и неподвижной. Наиболее современным типом детектора для хроматографа являются масс-спектрометрические детекторы, обладающие высочайшей чувствительностью, а также позволяющие устанавливать структуру неизвестных соединений по точной массе, а также картине фрагментации.

Передвижные и стационарные комплексы экологического мониторинга

Передвижные экологические лаборатории и стационарные экологические посты предназначены для измерения концентраций загрязняющих веществ в атмосферном воздухе, почве и воде.

Оборудование для контроля качества воды

Оборудование предназначено для непрерывных измерений показателей качества воды: ХПК, БПК, ПАУ и нефтепродукты, нефтяные пленки на поверхности воды, нитраты, нитриты, аммонийный азот, pH, мутность, взвешенные вещества (TSS), проводимость, ОВП, температура, уровень, цветность, хлорамин, гуминовые кислоты, свободный хлор, диоксид хлора, растворенный кислород, цианобактерии, хлорофилл и т.д.

Системы непрерывного мониторинга выбросов предприятий

Системы непрерывного мониторинга выбросов предназначены для непрерывного измерения в режиме реального времени в газовых (дымовых) выбросах концентраций, а также расчета валового объема выбросов следующих веществ: оксидов азота (NO, NO2, NOx), диоксида серы (SO2), оксида и диоксида углерода (CO, CO2), кислорода (O2), аммиака (NH3), сероводорода (H2S), фтористого водорода (HF), хлористого водорода (HCl), органических токсичных вещества и др. Системы мониторинга оснащены устройствами для передачи полученных данных (в том числе беспроводной).

Мониторинг атмосферного воздуха

Оборудование предназначено для химического анализа, характеризации и оценки массовой концентрации или объемной доли компонентов в основном неорганического происхождения в атмосферном воздухе или воздухе рабочей зоны.

Искровые оптико-эмиссионные спектрометры

Оптико-эмиссионная или атомно-эмиссионная спектрометрия с искровым возбуждением спектра – хорошо зарекомендовавший временем экспрессный метод анализа, основанный на одновременной регистрации излучения атомных спектральных линий элементов, возникающего в высоковольтном искровом электрическом разряде между стержневым электродом и предварительно подготовленной поверхности проводящего образца.

Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой

Предназначены для измерения массовой концентрации элементов в растворах после необходимой пробоподготовки в соответствии со стандартизованными и аттестованными методиками выполнения измерений в диапазоне от нг/л до 100%.

Измерения геометрии и топологии

Контрольное и измерительное оборудование для электронной промышленности, обеспечивающее разнообразные технологические нормы, объемы производства и типы изделий электронной техники. Мы предлагаем оборудование для всех стадий производства электронных компонентов: от контроля чистых пластин и их обработки, до корпусирования и электрического тестирования готовых изделий.

Виброизоляционные столы

Антивибрационные платформы и системы изоляции для обеспечения минимальных помех при работе высокоточного оборудования.

Установки измерения дефектности пластин

Позволяют оценивать качество пластин и подложек, применяемых для производства электронных компонентов, определять источник появления загрязнений, повреждений и структурных дефектов.

Голографические микроскопы и профилометры

Предназначены для высокоточного определения геометрических параметров пластин из полупроводниковых и диэлектрических материалов, выявления царапин, изгибов, деформации и других дефектов.

Оборудование для анализа в нефтехимии и нефтепереработке

В нефтепереработке и нефтехимии используется широкий спектр физико-химических процессов, порой происходящих одновременно. Предлагаемое нами оборудование представляет собой широкий спектр котнрольно-измерительных приборов в потоке, подкрепленный серьезным опытом в области внедрения подобного оборудования на нефтеперерабатывающих производствах.

Анализаторы оборотной воды

Газоанализаторы для добычи и переработки природного газа

Широкий спектр контрольно-измерительных приборов в потоке, подкрепленный серьезным опытом в области внедрения подобного оборудования в различных отраслях промышленности.

Антивибрационные решения для науки и промышленности

Комплексные решения для защиты тяжёлого высокоточного измерительного и производственного оборудования от вибраций: антивибрационные платформы и столы, машинные пьедесталы.

Электронные микроскопы и пробоподготовка

Растровые электронные микроскопы для научных и прикладных задач

Ближнепольная микроскопия и спектроскопия Neaspec

Neaspec – передовой разработчик и производитель оборудования для ближнепольной микроскопии и спектроскопии (SNOM). Штаб-квартира компании расположена в городе Мюнхен. Системы Neaspec реализуют визуализацию и спектроскопию с разрешением менее 20 нм, в видимом, БИК, ИК и ТГц – спектральных диапазонах.

Сканирующая зондовая микроскопия

Широчайший спектр оборудования для сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микроскопии): системы с переменной температурой образца, низкотемпературные модификации, системы для крупных образов. Данные приборы доступны как отдельно стоящие системы зондовой микроскопии, или же как компоненты кластерных установок, исполненные по индивидуальному заказу наших клиентов.

Электронная спектроскопия ScientaOmicron

Системы по индивидуальному проекту и компоненты для реализации различных методик анализа поверхности: рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, Оже-спектроскопия и микроскопия, фотоэмиссионная спектроскопия в жестком рентгене (HAXPES), ARPES (фотоэмиссионная спектроскопия с угловым разрешением) и многое другое.

Вибрационные испытательные стенды

Позволяют проводить оценку параметров продукции при проектировании, апробации, упаковке и транспортировке, параметров надежности, испытания на усталость и моделировать различные условия влияния окружающей среды.

Импедансная спектроскопия

Предназначена для исследований твердых тел и электрохимических систем с целью получения информации о транспорте носителей заряда в образце с учетом его микроструктуры. Метод заключается в измерении частотных зависимостей комплексного сопротивления системы в переменном электрическом поле, в том числе и при изменениях температуры, давления и магнитного поля.

Молекулярный анализ

Инфракрасная спектроскопия с преобразованием Фурье (FTIR) исследует жидкие, твердые и газообразные объекты и предназначена для определения структуры молекул. В качестве прикладных задач возможны контроль качества сырья и продукции, определение содержания загрязняющих веществ в природных объектах, расшифровка состава сложных смесей. Широко используется в криминалистике, фармацевтике, полупроводниковой и атомной промышленности.

Анализ структуры методами рентгеновской дифракции

Является одним из наиболее распространенных методов для определения фазового состава исследуемых образцов. Позволяет идентифицировать структуру, оценить содержание той или иной фазы в образце, вид кристаллической решетки, размер элементарной ячейки и многое другое.

Оборудование для анализа содержания углерода, водорода, азота, серы и галогенов

Большинство анализаторов легких элементов работают по принципу сжигания образца с последующим анализом образующихся газов на трех типах детекторов: ИК-детекторе, катарометре или ион-селективных электродах в процессе титрования. Эти приборы находят широкое применение, т.к. анализ легких элементов крайне важен для самых разных областей деятельности человека: металлургии, угольной промышленности, экологии, химической промышленности, органическом синтезе, энергетике, материаловедении, горнодобывающей промышленности и т.д.

Источники ионизирующего излучения Scienta Omicron

Оборудование для использования в вакуумных установках. Ионные и электронные пушки, УФ лампы, рентгеновские пушки.

Визуализирующие эллипсометры и микроскопы Брюстера

Спектральные визуализирующие эллипсометры и микроскопы Брюстера Accurion с уникальной in-situ визуализацией высокого разрешения, позволяющей наблюдать структуру образца на микро-уровне и измерять оптические параметры пленок и покрытий в режиме реального времени с картированием выбранной поверхности по этим параметрам

Переносное и портативное оборудование

Приборы позволяют сохранять данные во встроенную память для дальнейшей обработки результатов измерений. Рекомендуются для использования в передвижной экологической лаборатории.

Измерения электрических характеристик

Установки для измерения электрических характеристик пластин с помощью четырехзондового метода или методом ртутного зонда.

Наноинденторы и скретч-тестеры

Исследовательские системы для анализа материалов, тонкопленочных и микро/ нанодисперсных систем

Контроллеры вибростендов

Сочетают в себе различные варианты использования алгоритмов цифрового управления и ПИД-регулирования для адаптивного контроля за вибрациями, новейшую технологию DSP, возможности интеграции с любыми системами, оптимизированную конструкцию с минимальным шумом, полный набор специализированного программного обеспечения и многое другое.