Области применения
Научные исследования
Более 15 лет IMC поставляет научное оборудование различного класса в ведущие Институты и ВУЗы России и СНГ. Реализовано множество уникальных проектов в области физики, химии, материаловедения и биологии. Ведутся совместные разработки с научными группами в РФ, внедряются новые приборы и методики.
![](/upload/iblock/060/zylmywqwkhsp46a3fhsgtuhu2y9zsn2g.jpg)
Категории оборудования
Все категории![](/upload/iblock/111/5sho8rna20tzah4isksflf5l951t9c05.png)
Различные устройства для химических лабораторий, занимающихся анализом органических и неорганических соединений: шейкеры, гомогенизаторы, автоматические концентраторы азота, системы экстракции из жидких и твердых образов, а также системы кислотного разложения в открытых сосудах.
![](/upload/iblock/acf/au5kse00cka3odliyy7vm2vts3ucrd0x.png)
Масс-спектрометры с индуктивно связанной плазмой позволяют количественно определять практически все элементы периодической системы Менделеева и проводить изотопный анализ, определять содержание отдельных изотопов элемента и изотопные отношения, что востребовано при анализе ядерных материалов и геологических образцов.
![](/upload/iblock/fb6/l8ms261wbhmky3h9s4imfwvgico9md0x.png)
Комплексные решения для защиты тяжёлого высокоточного измерительного и производственного оборудования от вибраций: антивибрационные платформы и столы, машинные пьедесталы.
![](/upload/iblock/022/l23o7xezx5qnx6gvtvyi6ce7irre2neg.png)
Растровые электронные микроскопы для научных и прикладных задач.
![](/upload/iblock/ed0/eu70h8l58mo9kvghloi6o2288cys5dcd.png)
Neaspec – передовой разработчик и производитель оборудования для ближнепольной микроскопии и спектроскопии (SNOM). Штаб-квартира компании расположена в городе Мюнхен. Системы Neaspec реализуют визуализацию и спектроскопию с разрешением менее 20 нм, в видимом, БИК, ИК и ТГц – спектральных диапазонах.
![](/upload/iblock/79c/pf6v0mq1y8g8guylmb4o3jatednxw08i.png)
Широчайший спектр оборудования для сканирующей зондовой микроскопии (атомно-силовой микроскопии): системы с переменной температурой образца, низкотемпературные модификации, системы для крупных образов.
![](/upload/iblock/5fc/92cjbf241ftkt5dfw81f03442eugl3qf.png)
Системы по индивидуальному проекту и компоненты для реализации различных методик анализа поверхности: рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, Оже-спектроскопия и микроскопия, фотоэмиссионная спектроскопия в жестком рентгене (HAXPES), ARPES (фотоэмиссионная спектроскопия с угловым разрешением) и многое другое.
![](/upload/iblock/512/rhekh7qpoqesoey8idotrvvf4nctu3xm.png)
Широкий спектр решений для пробоподготовки: отрезные станки, оборудование для запрессовки и заливки, шлифовальное и полировальное оборудование, инструменты для петрографии, твердомеры по Виккерсу, Кнуппу, Роквеллу или Бринеллю и многое другое.
![](/upload/iblock/fbc/3zn6txah8yi4vcpsb590qd1f2eucha26.png)
Позволяют проводить оценку параметров продукции при проектировании, апробации, упаковке и транспортировке, параметров надежности, испытания на усталость и моделировать различные условия влияния окружающей среды.
![](/upload/iblock/aef/5n5bh0rlxsru810tehcejxatilv6ybs9.png)
Динамические и усталостные испытательные машины предназначены для проведения испытаний под воздействием циклически изменяющейся нагрузки. Они идеально подходят для изучения механики разрушения материалов: многоцикловой и малоцикловой усталости.
![](/upload/iblock/19b/6byp70x3quvq76i0oe5jzcvdqxcj70k8.png)
Электромеханические испытательные машины совмещают в себе высокую эффективность использования пространства в лаборатории, простоту в работе и обслуживании с высокой точностью и широким диапазоном нагрузок.
![](/upload/iblock/d1f/k4f6s84uvp6itcd11j4ih78ydd2844bz.png)
Предлагаем широкий спектр универсальных испытательных машин для больших рабочих нагрузок. Благодаря применению в рамах гидравлики, данные системы экономически выгодно использовать для нагружения в испытаниях на растяжение, сжатие, изгиб и сдвиг.
![](/upload/iblock/374/qwsxymnqupbhb7gs0zkf3ufz1ro92n6b.png)
Приборы для термического анализа регистрируют изменение физических и химических свойств образца под воздействием температуры. Температурная программа может включать нагревание, охлаждение с постоянной скоростью, устойчивость при постоянной температуре (изотермический процесс) и комбинацию этих режимов.
![](/upload/iblock/f8f/ima4ug2qn24htm6eq46j3dw5ais25kwp.png)
Оборудование для всех типов характеризации и анализа размеров частиц в диапазоне от нанометров до нескольких микрон. Измерение распределения частиц по размерам осуществляется рутинным образом для широкого спектра отраслей промышленности и в научных исследованиях.
![](/upload/iblock/8db/ywb8uhu1s8mrk8sp4di1fra16zeubns9.png)
Предназначена для исследований твердых тел и электрохимических систем с целью получения информации о транспорте носителей заряда в образце с учетом его микроструктуры. Метод заключается в измерении частотных зависимостей комплексного сопротивления системы в переменном электрическом поле, в том числе и при изменениях температуры, давления и магнитного поля.
![](/upload/iblock/4ad/rs376uvfue625tpf39kripxwyvreyd7x.png)
Оборудование для исследований методом инфракрасной спектроскопии с преобразованием Фурье. ИК-Фурье спектрометры и УФ спектрофотометры применяются в научных лабораториях для изучения структуры отдельных молекул и состава молекулярных смесей.
![](/upload/iblock/db7/juckcenek6829mtn6hj11k5va3rjg3cd.png)
Оборудование для использования в вакуумных установках. Ионные и электронные пушки, УФ лампы, рентгеновские пушки.
![](/upload/iblock/01c/5r24xh09x8nyukwj41ouv24bj5ceu1c3.png)
Спектральные визуализирующие эллипсометры и микроскопы Брюстера Accurion с уникальной in-situ визуализацией высокого разрешения, позволяющей наблюдать структуру образца на микро-уровне и измерять оптические параметры пленок и покрытий в режиме реального времени с картированием выбранной поверхности по этим параметрам.
![](/upload/iblock/3e3/i3gssctgg68xf23s7l96kv9sr2rtsj5z.png)
Установки для измерения электрических характеристик пластин с помощью четырехзондового метода или методом ртутного зонда.
![](/upload/iblock/cb3/2atplr3fqjhpb8xq6x6an124kmir80fl.png)
Исследовательские системы для анализа материалов, тонкопленочных и микро/ нанодисперсных систем
![](/upload/iblock/240/rr50vzd5iwtrqpjz5efvcvh3emivns1f.png)
Современные модели усилителей мощности характеризуются низкими показателями шума, гармонических искажений и энергопотребления, имеют инновационные технологии адаптивного цифрового управления, позволяют проводить мониторинг в реальном времени и многое другое. и специализированное многокаскадное двухтактное усиление.
![](/upload/iblock/fe1/kcpdsiyuecb75pce6u67o3j34xvra9tw.png)
Сочетают в себе различные варианты использования алгоритмов цифрового управления и ПИД-регулирования для адаптивного контроля за вибрациями, новейшую технологию DSP, возможности интеграции с любыми системами, оптимизированную конструкцию с минимальным шумом, полный набор специализированного программного обеспечения и многое другое.
Сервис и ремонт измерительного оборудования
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.
Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.
Наша почта
sales@imc-systems.ru
Наш телефон
+7 (495) 374-04-01