Главная Каталог Наука и нанотехнологии Источники ионизирующего излучения Scienta Omicron УФ источник HIS 14 HD

Источники ионизирующего излучения Scienta Omicron

УФ источник HIS 14 HD

Scienta Omicron

Высоковакуумный УФ источник высокой плотности.

Заказать Задать вопрос специалисту

Описание оборудования

Особенности:

Поток фотонов: > 10¹⁶ фотонов / с · стер
Диаметр пятна: < 300 мкм (FWHM; 5:1 уменьшающая оптика)
Фотонная ширина линии: < 2 мэВ (HeI излучение)
Фотонная плотность потока: более чем в 50 раз превосходит несфокусированный источник
Регулировка потока фотонов: стабилизация тока разряда
Юстировка источника: визир в CF-63 порте
Откачка: две ступени дифференциальной откачки (третья ступень — опция)
Рабочее расстояние: прибл. 70 мм (расстояние до места измерения)
Глубина ввода источника: согласно требованиям заказчика

Дизайн продукта

Предназначен для ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии твердых тел с использованием газоразрядных линий HeI и HeII, а также других благородных газов и водорода. Источник HIS 14 HD представляет собой улучшенный вариант хорошо зарекомендовавшего себя FOCUS HIS 13. Малое пятно облучения 300 мкм делает источник HIS 14 HD идеальным выбором для фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением (ARPES) или фотоэлектронной микроскопии (PEEM), где в небольшой области образца требуется создать высокую плотность потока излучения.

Ключевые особенности

Прочная конструкция с водяным охлаждением и соединением прямой видимости между газоразрядной областью и мишенью для легкого выравнивания.

Порт с визором облегчает позиционирование светового пятна на образце в диапазоне +/- 3°. Для специализированных ARPES экспериментов есть дополнительная третья ступень дифференциальной откачки для работы в диапазоне 10^-10 мбар. Фокусировка светового пятна вплоть до 300 мкм осуществляется с использованием современной оптической технологии, применяемой на синхротроне. Фототок в световом пятне 300 мкм составляет более 30 нА (алюминиевая фольга с приложенным напряжением смещения).

Источник HIS 14 HD имеет установочный фланец CF 63 ID (опционально — фланец CF 100 ID) и поставляется вместе с фланцем-переходником, позволяющим установку источника в вакуумную камеру заказчика (чертеж камеры предоставляется заказчиком).

Малошумящий цифровой источник питания обеспечивает газоразрядный ток вплоть до 300 мА для работы HeI и HeII линий. Минимальная ширина HeI линии возбуждения фотонов составляет менее 2 мэВ. Блок питания поддерживает автоматический розжиг плазмы и комплектуется датчиком давления Пирани.

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Качество и безопасность пищевых продуктов

Фармацевтическая промышленность

Экология

Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам

Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:

Расходные материалы для ИСП-АЭС

Расходные материалы для ААС

Расходные материалы для хроматографии

Расходные материалы для пробоподготовки

Расходные материалы для элементного анализа

Похожее оборудование

Источник ультрафиолетового излучения UV-X

Разработан специально для применения в лабораторных фотоэлектронных спектрометрах.

Источник электронов SL 1000

Источник электронов с монтажом на фланец NW35 CF, оптимизированный для параллельного пучка электронов при низких кинетических энергиях.

Источник электронов высокого разрешения SEM 20

Источник электронов для сканирующей Оже- и растровой электронной микроскопии с размером пятна облучения лучше, чем 20 нм при 25 кВ напряжении / 0.5 нА токе пучка электронов, на рабочем расстоянии 25 мм.

Электронная пушка SEM 250 / SEM 500

SEM 250: Источник электронов для сканирующей Оже- и растровой электронной микроскопии с размером пятна облучения лучше, чем 250 нм при 12 кВ напряжении / 1 нА токе пучка электронов.

Источник электронов с малым пятном EKF 1000

Источник электронов EKF 1000 с малым пятном облучения представляет собой компактное и экономически эффективное решение для решения широкого круга задач.

Аргонная кластерная пушка с ионным пучком GCIB 10S

Кластерная пушка GCIB 10S предназначена для максимально производительного определения профиля распределения веществ по глубине в комбинации с РФЭС и другими системами анализа поверхности.

Электронная пушка для нейтрализации заряда CN 10

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС) идеально подходит для исследования изоляционных материалов, таких как полимеры, керамика, адгезивы и т.д.

Универсальная электронная пушка EKF 300

Источник EKF 300 с источником питания NGE 52 является универсальным источником электронов в диапазоне энергий от 0.1 кэВ до 5 кэВ.

Ионная пушка ISE 5

ISE 5 представляет собой компактный и универсальный источник ионного распыления, который обладает высокими токами мишени свыше 80 мкА в широком диапазоне энергий от 300 эВ до 5 кэВ.

Ионная пушка FDG 150

Данная ионная пушка от компании Scienta Omicron имеет точную фокусировку и четкое цифровое управление, что с легкостью обеспечивает регулируемый размер пучка с высочайшей плотностью тока, а также растровый режим для однородного травления образца.

Источники монохроматического рентгена XM 1000 и XM 1200

Монохроматический рентгеновский источник XM 1000 обеспечивает оптимальный поток фотонов и отличное разрешение по энергии.

Источники рентгена DAR 400 и DAR 450

DAR 400 — высокоинтенсивный рентгеновский источник с двойным анодом. Уникальная конструкция источника позволяет минимизировать перекрёстные помехи между двумя анодами.

УФ источник HIS 13

HIS 13 — высоковакуумный источник фотонов ультрафиолетового диапазона, обладает очень высокой интенсивностью благодаря интеграции высоковольтного анода в самоцентрирующийся газоразрядный капилляр.

Источники ультрафиолетового излучения для UPS и ARPES

Scienta VUV5000 является узкополосным источником высокой интенсивности крайнего УФ диапазона для проведения эффективных измерений ARPES и УФ фотоэлектронной спектроскопии.