Главная Каталог Наука и нанотехнологии Источники ионизирующего излучения Scienta Omicron Источник электронов SL 1000

Источники ионизирующего излучения Scienta Omicron

Источник электронов SL 1000

Описание оборудования

Источник электронов с монтажом на фланец NW35 CF, оптимизированный для параллельного пучка электронов при низких кинетических энергиях. Подходит для использования в экспериментах по дифракции медленных электронов (LEED) и для точечного анализа профиля при помощи дифракции медленных электронов (SPA-LEED), а также для нейтрализации заряда в РФЭС измерениях. Источник SL 1000 идентичен источнику электронов, используемый для LEED оптики.

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Качество и безопасность пищевых продуктов

Фармацевтическая промышленность

Экология

Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам

Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:

Зонды для АСМ

Аксессуары для АСМ

Расходные материалы
для АСМ и СЭМ

Компоненты для
сверхвысокого вакуума

Похожее оборудование

Источник ультрафиолетового излучения UV-X

Источник ультрафиолетового излучения UV-X разработан специально для применения в лабораторных фотоэлектронных спектрометрах

Источник электронов высокого разрешения SEM 20

Источник электронов для сканирующей Оже- и растровой электронной микроскопии с размером пятна облучения лучше, чем 20 нм при 25 кВ напряжении / 0.5 нА токе пучка электронов, на рабочем расстоянии 25 мм

Электронная пушка SEM 250 / SEM 500

SEM 250: Источник электронов для сканирующей Оже- и растровой электронной микроскопии с размером пятна облучения лучше, чем 250 нм при 12 кВ напряжении / 1 нА токе пучка электронов

Источник электронов с малым пятном EKF 1000

Источник электронов EKF 1000 с малым пятном облучения представляет собой компактное и экономически эффективное решение для решения широкого круга задач

Аргонная кластерная пушка с ионным пучком GCIB 10S

Кластерная пушка GCIB 10S предназначена для максимально производительного определения профиля распределения веществ по глубине в комбинации с РФЭС и другими системами анализа поверхности

Электронная пушка для нейтрализации заряда CN 10

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС) идеально подходит для исследования изоляционных материалов, таких как полимеры, керамика, адгезивы и т. д

Универсальная электронная пушка EKF 300

Источник EKF 300 с источником питания NGE 52 является универсальным источником электронов в диапазоне энергий от 0.1 кэВ до 5 кэВ

Ионная пушка ISE 5

ISE 5 представляет собой компактный и универсальный источник ионного распыления, который обладает высокими токами мишени свыше 80 мкА в широком диапазоне энергий от 300 эВ до 5 кэВ

Ионная пушка FDG 150

Данная ионная пушка от компании Scienta Omicron имеет точную фокусировку и четкое цифровое управление, что с легкостью обеспечивает регулируемый размер пучка с высочайшей плотностью тока, а также растровый режим для однородного травления образца

Источники монохроматического рентгена XM 1000 и XM 1200

Монохроматический рентгеновский источник XM 1000 обеспечивает оптимальный поток фотонов и отличное разрешение по энергии

Источники рентгена DAR 400 и DAR 450

DAR 400 — высокоинтенсивный рентгеновский источник с двойным анодом. Уникальная конструкция источника позволяет минимизировать перекрёстные помехи между двумя анодами

УФ источник HIS 13

HIS 13 — высоковакуумный источник фотонов ультрафиолетового диапазона, обладает очень высокой интенсивностью благодаря интеграции высоковольтного анода в самоцентрирующийся газоразрядный капилляр

УФ источник HIS 14 HD

Предназначен для ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии твердых тел с использованием газоразрядных линий HeI и HeII

Источники ультрафиолетового излучения для UPS и ARPES

Для проведения эффективных измерений ARPES и УФ фотоэлектронной спектроскопии требуется не только анализатор энергии, но также и источник излучения. Scienta VUV5000 является узкополосным источником высокой интенсивности крайнего УФ диапазона