Главная Каталог Наука и нанотехнологии Сканирующая зондовая микроскопия Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT

Сканирующая зондовая микроскопия

Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT

Уникальный четырехточечный нанозонд с РЭМ колонной. Интеграция наноманипулятора на основе сканирующего зондового микроскопа и растровой электронной микроскопии

Заказать

Описание оборудования

Внедрение отдельных наноустройств в огромную интегрированную схему является вызовом в области нанотехнологий. Современные исследования требуют вычисления локальных электрических параметров в сочетании с возможностью навигации зонда, что меняет размерность из области микрон в область нанометров.

Четырехточечный нанозонд NANOPROBE представляет собой искусный аналитический инструмент для локальных неинвазивных контактных измерений в четырех точках и функционального тестирования наноустройств в составе сложных схем и структур. Ключом к продвинутой технологии зондирования на наномасштабе служит зарекомендованная СЗМ Omicron, обеспечивающая высокую точность позиционирования зонда и безопасный подвод хрупкого острия диаметром несколько десятых нанометра и меньше.

Ключевые особенности:

Четырехточечные измерения наноструктур (четырехточечный зонд)
Электрический контакт наноустройств
Безопасный и неразрушительный подвод зонда
Все возможности СТМ
Высокоразрешающая (<4 нм) визуализация СТМ для быстрой навигации зонда
Высокоразрешающая (<10 нм) визуализация СТМ для химического картирования
Реальные условия СВВ для создания чистой поверхности без артефактов

Визуализация с помощью

СЭМ для быстрой навигации зонда

Для навигации четрырьмя зондами СТМ необходима возможность одновременного сканирования электронным микроскопом. Это обеспечивает широкое поле обзора для грубой регулировки положения зондов, а также тонкой настройки положения и быстрой локализации над нанометровыми структурами

Для быстрой настройки положения СВВ

Колонна Gemini обеспечивает доступ для химического картирования с помощью растровой оже-микроскопии, магнитной визуализации с помощью СЭМ с поляризационным анализом или других методов электронной спектроскопии. Уникальная возможность использования различных методик в одной области образца позволяет получать комплементарную информацию о проводимости, топографии, химических и магнитных свойствах.

Улучшение разрешения в СВВ приборе NANOPROBE значительно влияет на возможности зондирующей системы. Локализация мельчайших структур и быстрое точное управление положением зонда теперь возможно при одновременной работе СТМ и СЭМ. Производительность СТМ не снижается даже в случае близких значений тока пучка СЭМ и туннельного тока.

Низкоэнергетичный пучок в колонне Gemini снижает до минимума риск повреждения чувствительных образцов и делает возможной визуализацию практически непроводящих образцов благодаря минимизации зарядового эффекта в диапазоне энергий 1 кэВ. Условия сверхвысокого вакуума и отсутсвие углеводородов обеспечивают стабильное сканирование в сверхчистых условиях и позволяют избежать вызванное электронным пучком формирование графита. В случае, если сверхразрешение не требуется, можно использовать различные другие колонны СВВ СЭМ или оптические микроскопы.

Видео

LT NANOPROBE Film Neu

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Качество и безопасность пищевых продуктов

Фармацевтическая промышленность

Экология

Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам

Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:

Зонды для АСМ

Аксессуары для АСМ

Расходные материалы
для АСМ и СЭМ

Компоненты для
сверхвысокого вакуума

Похожее оборудование

DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов

Это результат многих лет исследований и самых последних разработок в области атомно-силовой микроскопии. Его отличает стабильная работа в любой среде, очень низкий уровень шума, получение изображений в высоком разрешении, большая область сканирования и полностью автоматизированная система, управляемая с помощью специально разработанного ПО.

Core AFM — лучшие возможности атомно-силовой микроскопии по доступной цене

Сочетание современного сканера, платформы для высокоточной навигации по образцу в плоскостях XYZ, активного виброизоляционного столика и защиты от воздушного потока

FlexAFM — один из самых универсальных и гибких в использовании сканирующих зондовых микроскопов

FlexAFM — ваш надежный инструмент для проведения топографических измерений и измерений метрологических характеристик как в воздушной среде, так и в жидкости

Flex-Bio — универсальный АСМ для исследования живой материи

Данный атомно-силовой микроскоп для биологических исследований сочетает в себе универсальность и производительность

Сканирующий зондовый микроскоп Cytomass Monitor

Это единственный доступный в настоящее время исследовательский инструмент, позволяющий связать динамику клеточной массы с морфологией и состоянием клеток

Сканирующий зондовый микроскоп Alphacen 300

Alphacen 300 является серийно выпускаемым продуктом, результатом многих лет исследований и работы с индивидуальными заказами различных клиентов

Сканирующий зондовый микроскоп LensAFM

Данный блок может быть установлен как обычный объектив, что автоматически повышает разрешающую способность и другие измерительные возможности этих приборов

Сканирующий зондовый микроскоп NaniteAFM

NaniteAFM от Nanosurf позволяет проводить исследование и контроль высокотехнологичных поверхностей многих образцов, вне зависимости от их типа и размера

Сканирующий зондовый микроскоп NaioAFM

NaioAFM позволяет новым пользователям получать качественные АСМ снимки всего через 2 часа с начала работы

Сканирующий зондовый микроскоп FluidFM

Модуль FluidFM (FPM) позволяет сочетать в себе возможности жидкостной силовой микроскопии (ЖСМ) с чувствительностью и точностью АСМ

Сканирующий туннельный микроскоп NaioSTM

NaioSTM – это сканирующий туннельный микроскоп, который выделяется простотой настройки, максимально понятным использованием и удобством транспортировки

Программное обеспечение Flex-ANA

Данная система Flex-ANA предназначена для исследования наномеханических свойств самых различных материалов

Nanosurf customizing

Поскольку атомно-силовые микроскопы продолжают находить все больше областей применения, особенно в промышленности (производственных процессах и контроле качества), стандартные решения часто не являются подходящими для решения поставленных задач

Зондовая система Fermi SPM

Новые СЗМ Fermi представляют собой компактные решения для сверхвысоковакуумных СЗМ в температурном диапазоне от 15 до 400 К

Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron

СЗМ Probe явлется компактным доступным завершенным решением для низкотемпературных СВВ СЗМ систем Omicron

MULTISCAN Lab ScientaOmicron

Лаборатория MULTISCAN представляет собой инструмент, объединяющий различные методики анализа поверхности и работающие одновременно в одной области образца

Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1

Спустя год после присуждения Биннигу и Рореру Нобелевской премии в 1986 году компания Omicron представила первый сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп — легендарный UHV STM1

Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM

Метод низкотемпературной сканирующей туннельной микроскопии с момента выхода на рынок 15 лет назад в 1996 году остается востребованным в широком кругу научных областей

VT SPM

Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии

Large Sample SPM

СЗМ для больших образцов происходят от известных микроскопов VT серии и предлагают идеальное решение для больших образцов диаметром вплоть до 4 дюймов