Сканирующая зондовая микроскопия

Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM

Описание оборудования

   Метод низкотемпературной сканирующей туннельной микроскопии с момента выхода на рынок 15 лет назад в 1996 году остается востребованным в широком кругу научных областей. Визуализация и спектроскопия отдельных молекул, манипуляции атомами, графен, полупроводники и сверхпроводники — лишь некоторые из примеров приложений. 

   При низких температурах подвижность адсорбатов уменьшается, это позволяет детально анализировать диффузионные процессы и взаимодействия между отдельными элементами на поверхности. Кроме этого, поскольку латеральная и вращательная подвижность оказываются «замороженными», появляется возможность изучать внутреннюю структуру молекул. Туннелирование становится более стабильным вследствие уменьшенной диффузии на зонде СТМ.

   Ключевые особенности:

   Работа при низкой температуре T < 5 K

  • Низкий температурный дрейф и высокая стабильность
  • Непревзойденная производительность STM/STS/IETS
  • Ведущая АСМ-технология QPlus
  • Работа с переменными температурами
  • Управляемое грубое 3D — позиционирование
  • Быстрое охлаждение
  • Безопасная и быстрая замена образца/кантилевера
Функциональность
01
СТМ-изображение
 
02
Манипуляции атомами серебра
Арсенид галлия GaAs, высоко легированного акцепторами цинка, в режиме постоянного тока при T=4,7 К
03
Волны зарядовой плотности
Для формирования логотипа Omicron при 4,8 К
04
СТМ-изображение
На поверхности NbSe2 при T=5 К
05
Многочастичный эффект
Массива самоорганизующихся платиновых нанопроводов на поверхности гелия
Новое поколение сканирующих зондовых микроскопов в низкотемпературных

СТМ системах

   Второе поколение систем с увеличенным временем выдержки жидкого гелия и азота обладает высочайшей стабильностью и минимизированным дрейфом, предлагая непревзойденную производительность при 5 К и позволяя проводить сложнейшие очень длительные экспериментыю.

   Создание и исследование различных наноструктур молекул или атомных структур, изолирующих поверхностей создает потребность в атомно-силовой микроскопии как методе визуализации и спектроскопии, комплементарном туннельной микроскопии. Технология QPlus АСМ была успешно интегрирована без ущерба производительности СТМ/СТС.

   Комбинация метода QPlus АСМ и СТМ имеет колоссальный потенциал для ряда приложений, включая манипуляции и силовое воздействие на отдельные молекулы на изолированных поверхностях.

Особенности LT STM

   Стол специально разработан для лучшей производительности и реализует эффективную изолирующую систему, основанную на сочетании упругой подвески и вихретоковом затухании.

   Совместно с очень жесткой конструкцией сканирующей головки данный стол обеспечивает
отличную изоляцию вибраций на уровне пикометров.

   Поддерживая высокую производительность сегодня, системы LT STM непрерывно улучшаются для большей функциональности и гибкости.

   Возможны персональные решения. Некоторые из примеров включают предварительно смонтированные отверстия на оптических осях, дополнительный капилляр для интеграции стеклянных волокон и держателей линз.

   Датчик QPlus гарантирует атомарное разрешение бесконтактного режима АСМ, одновременно поддерживая высокую производительность LT STM. Эталонные измерения на одиночных кристаллах NaCl(100), KBr(001), Si(111)7×7 и Au(111) продемонстрировали конкурентоспособность по разрешающей способности в сравнении с лучшими результатами традиционной АСМ. Атомарное разрешение в продуманной петле обратной связи и при температурах ноже 6 К можно поддерживать с амплитудами колебаний ниже 100 пм.

   Датчик использует кварцевый камертон для распознавания силы в бесконтактном режиме АСМ. Один зубец вилки фиксируется, в то время как зонд СЗМ возвышается над вторым. Таким образом, он действует как кварцевый рычаг, преобразующий колебания в электрический сигнал в результате пьезоэлектрического эффекта. Сигнал обратной связи основан на сдвиге частоты, возникающей из силового взаимодействия зонда с образцом. Специально разработанный уникальный метод предусиления обеспечивает дистанционное управление, основанное на чистом АСМ-сигнале.

Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам
Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:
Похожее оборудование
DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов
Это результат многих лет исследований и самых последних разработок в области атомно-силовой микроскопии. Его отличает стабильная работа в любой среде, очень низкий уровень шума, получение изображений в высоком разрешении, большая область сканирования и полностью автоматизированная система, управляемая с помощью специально разработанного ПО.
Core AFM — лучшие возможности атомно-силовой микроскопии по доступной цене
Сочетание современного сканера, платформы для высокоточной навигации по образцу в плоскостях XYZ, активного виброизоляционного столика и защиты от воздушного потока
FlexAFM — один из самых универсальных и гибких в использовании сканирующих зондовых микроскопов
FlexAFM — ваш надежный инструмент для проведения топографических измерений и измерений метрологических характеристик как в воздушной среде, так и в жидкости
Flex-Bio — универсальный АСМ для исследования живой материи
Данный атомно-силовой микроскоп для биологических исследований  сочетает в себе универсальность и производительность
Сканирующий зондовый микроскоп Cytomass Monitor
Это единственный доступный в настоящее время исследовательский инструмент, позволяющий связать динамику клеточной массы с морфологией и состоянием клеток
Сканирующий зондовый микроскоп Alphacen 300
Alphacen 300 является серийно выпускаемым продуктом, результатом многих лет исследований и работы с индивидуальными заказами различных клиентов
Сканирующий зондовый микроскоп LensAFM
Данный блок может быть установлен как обычный объектив, что автоматически повышает разрешающую способность и другие измерительные возможности этих приборов
Сканирующий зондовый микроскоп NaniteAFM
NaniteAFM от Nanosurf позволяет проводить исследование и контроль высокотехнологичных поверхностей многих образцов, вне зависимости от их типа и размера
Сканирующий зондовый микроскоп NaioAFM
NaioAFM позволяет новым пользователям получать качественные АСМ снимки всего через 2 часа с начала работы
Сканирующий зондовый микроскоп FluidFM
Модуль FluidFM (FPM) позволяет сочетать в себе возможности жидкостной силовой микроскопии (ЖСМ) с чувствительностью и точностью АСМ
Сканирующий туннельный микроскоп NaioSTM
NaioSTM – это сканирующий туннельный микроскоп, который выделяется простотой настройки, максимально понятным использованием и удобством транспортировки
Программное обеспечение Flex-ANA
Данная система Flex-ANA предназначена для исследования наномеханических свойств самых различных материалов
Nanosurf customizing
Поскольку атомно-силовые микроскопы продолжают находить все больше областей применения, особенно в промышленности (производственных процессах и контроле качества), стандартные решения часто не являются подходящими для решения поставленных задач
Зондовая система Fermi SPM
Новые СЗМ Fermi представляют собой компактные решения для сверхвысоковакуумных СЗМ в температурном диапазоне от 15 до 400 К
Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron
СЗМ Probe явлется компактным доступным завершенным решением для низкотемпературных СВВ СЗМ систем Omicron
Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT
Уникальный четырехточечный нанозонд с РЭМ колонной. Интеграция наноманипулятора на основе сканирующего зондового микроскопа и растровой электронной микроскопии
MULTISCAN Lab ScientaOmicron
Лаборатория MULTISCAN представляет собой инструмент, объединяющий различные методики анализа поверхности и работающие одновременно в одной области образца
Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1
Спустя год после присуждения Биннигу и Рореру Нобелевской премии в 1986 году компания Omicron представила первый сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп — легендарный UHV STM1
VT SPM
Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии
Large Sample SPM
СЗМ для больших образцов происходят от известных микроскопов VT серии и предлагают идеальное решение для больших образцов диаметром вплоть до 4 дюймов

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
sales@imc-systems.ru
Наш телефон
+7 (495) 374-04-01