Сканирующая зондовая микроскопия

Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM

Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM
Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM
Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM
Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM

Описание оборудования

   Метод низкотемпературной сканирующей туннельной микроскопии с момента выхода на рынок 15 лет назад в 1996 году остается востребованным в широком кругу научных областей. Визуализация и спектроскопия отдельных молекул, манипуляции атомами, графен, полупроводники и сверхпроводники — лишь некоторые из примеров приложений. 

   При низких температурах подвижность адсорбатов уменьшается, это позволяет детально анализировать диффузионные процессы и взаимодействия между отдельными элементами на поверхности. Кроме этого, поскольку латеральная и вращательная подвижность оказываются «замороженными», появляется возможность изучать внутреннюю структуру молекул. Туннелирование становится более стабильным вследствие уменьшенной диффузии на зонде СТМ.

   Ключевые особенности:

   Работа при низкой температуре T < 5 K

  • Низкий температурный дрейф и высокая стабильность
  • Непревзойденная производительность STM/STS/IETS
  • Ведущая АСМ-технология QPlus
  • Работа с переменными температурами
  • Управляемое грубое 3D — позиционирование
  • Быстрое охлаждение
  • Безопасная и быстрая замена образца/кантилевера
Функциональность
01
СТМ-изображение
 
02
Манипуляции атомами серебра
Арсенид галлия GaAs, высоко легированного акцепторами цинка, в режиме постоянного тока при T=4,7 К
03
Волны зарядовой плотности
Для формирования логотипа Omicron при 4,8 К
04
СТМ-изображение
На поверхности NbSe2 при T=5 К
05
Многочастичный эффект
Массива самоорганизующихся платиновых нанопроводов на поверхности гелия
Новое поколение сканирующих зондовых микроскопов в низкотемпературных

СТМ системах

   Второе поколение систем с увеличенным временем выдержки жидкого гелия и азота обладает высочайшей стабильностью и минимизированным дрейфом, предлагая непревзойденную производительность при 5 К и позволяя проводить сложнейшие очень длительные экспериментыю.

   Создание и исследование различных наноструктур молекул или атомных структур, изолирующих поверхностей создает потребность в атомно-силовой микроскопии как методе визуализации и спектроскопии, комплементарном туннельной микроскопии. Технология QPlus АСМ была успешно интегрирована без ущерба производительности СТМ/СТС.

   Комбинация метода QPlus АСМ и СТМ имеет колоссальный потенциал для ряда приложений, включая манипуляции и силовое воздействие на отдельные молекулы на изолированных поверхностях.

Особенности LT STM

   Стол специально разработан для лучшей производительности и реализует эффективную изолирующую систему, основанную на сочетании упругой подвески и вихретоковом затухании.

   Совместно с очень жесткой конструкцией сканирующей головки данный стол обеспечивает
отличную изоляцию вибраций на уровне пикометров.

   Поддерживая высокую производительность сегодня, системы LT STM непрерывно улучшаются для большей функциональности и гибкости.

   Возможны персональные решения. Некоторые из примеров включают предварительно смонтированные отверстия на оптических осях, дополнительный капилляр для интеграции стеклянных волокон и держателей линз.

   Датчик QPlus гарантирует атомарное разрешение бесконтактного режима АСМ, одновременно поддерживая высокую производительность LT STM. Эталонные измерения на одиночных кристаллах NaCl(100), KBr(001), Si(111)7×7 и Au(111) продемонстрировали конкурентоспособность по разрешающей способности в сравнении с лучшими результатами традиционной АСМ. Атомарное разрешение в продуманной петле обратной связи и при температурах ноже 6 К можно поддерживать с амплитудами колебаний ниже 100 пм.

   Датчик использует кварцевый камертон для распознавания силы в бесконтактном режиме АСМ. Один зубец вилки фиксируется, в то время как зонд СЗМ возвышается над вторым. Таким образом, он действует как кварцевый рычаг, преобразующий колебания в электрический сигнал в результате пьезоэлектрического эффекта. Сигнал обратной связи основан на сдвиге частоты, возникающей из силового взаимодействия зонда с образцом. Специально разработанный уникальный метод предусиления обеспечивает дистанционное управление, основанное на чистом АСМ-сигнале.

Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам
Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:
Похожее оборудование
DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов
Это результат многих лет исследований и самых последних разработок в области атомно-силовой микроскопии. Его отличает стабильная работа в любой среде, очень низкий уровень шума, получение изображений в высоком разрешении, большая область сканирования и полностью автоматизированная система, управляемая с помощью специально разработанного ПО.
Nanosurf customizing
Поскольку атомно-силовые микроскопы продолжают находить все больше областей применения, особенно в промышленности (производственных процессах и контроле качества), стандартные решения часто не являются подходящими для решения поставленных задач
Зондовая система Fermi SPM
Новые СЗМ Fermi представляют собой компактные решения для сверхвысоковакуумных СЗМ в температурном диапазоне от 15 до 400 К
Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron
СЗМ Probe явлется компактным доступным завершенным решением для низкотемпературных СВВ СЗМ систем Omicron
Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT
Уникальный четырехточечный нанозонд с РЭМ колонной. Интеграция наноманипулятора на основе сканирующего зондового микроскопа и растровой электронной микроскопии
MULTISCAN Lab ScientaOmicron
Лаборатория MULTISCAN представляет собой инструмент, объединяющий различные методики анализа поверхности и работающие одновременно в одной области образца
Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1
Спустя год после присуждения Биннигу и Рореру Нобелевской премии в 1986 году компания Omicron представила первый сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп — легендарный UHV STM1
VT SPM
Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии
Large Sample SPM
СЗМ для больших образцов происходят от известных микроскопов VT серии и предлагают идеальное решение для больших образцов диаметром вплоть до 4 дюймов

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
sales@imc-systems.ru
Наш телефон
+7 (495) 374-04-01