Сканирующая зондовая микроскопия
Зондовая система Fermi SPM
Универсальная зондовая система
Новый свервысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп для работы в диапазоне температур 15 К - 400 К. Данная модель специально разработана для отличное решение для спектроскопических задач по сочетанию цена/качество/гибкость. Оптимальный прибор для пользователей с серьезным уклоном на приложения туннельной спектроскопии
Описание оборудования
Новые СЗМ Fermi представляют собой компактные решения для сверхвысоковакуумных СЗМ в температурном диапазоне от 15 до 400 К. Эти системы были специально разработаны с целью объединить высокую производительность в спектроскопии систем LT STM и концепцию гибкости систем серии VT.
Компактная конструкция прибора включает криостат на жидком гелии. В сравнении с серией VT (где охлаждается образец, а зонд поддерживается при комнатной температуре), тепловые барьеры в СЗМ Fermi сохраняют зонд и образец при низких температурах на протяжении всех экспериментов. Это гарантирует минимальность дрейфа между зондом и образцом, делая СЗМ Fermi идеальными инструментами для визуализации, туннельной спектроскопии и экспериментов по манипуляции отдельными атомами.
Конструкция располагается на фланце DN 100 CF и легко интегрируется с дополнительным оборудованием.
Компактная конструкция сканера
Fermi SPM
Новый миниатюрный и жестко закрепляемый сканер с держателем небольших зондов обеспечивает высокоскоростное стабильное сканирование. Образец размещается на устройстве предварительного грубого позиционирования для его расположения по осям X и Z. Реализованы два порта для оптического доступа и один порт для экспериментов, требующих испарения. Опционально доступны 4 электрических контакта с образцом, а также АСМ с датчиком QPlus.
Уникальная возможность смены зондов в ходе эксперимента
Уникальный механизм замены зондов для СЗМ Fermi позволяет сохранять
положение образца при низкой температуре и безопасно и быстро при этом менять
зонд. Для доставки зондов используется концевой выключатель и специальная
платформа. Сам зонд вставляется в сканер посредством штыкового соединения в
течение секунд. Продуманная конструкция не допускает повреждения сканера.
Задвижка тепловой изоляции быстро открывается для замены зонда с использованием
концевого выключателя. Образец при этом остается внутри микроскопа при низкой
температуре.
Расходные материалы и аксессуары
К расходным материалам и аксессуарамМы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:
DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов
Это результат многих лет исследований и самых последних разработок в области атомно-силовой микроскопии. Его отличает стабильная работа в любой среде, очень низкий уровень шума, получение изображений в высоком разрешении, большая область сканирования и полностью автоматизированная система, управляемая с помощью специально разработанного ПО.
Core AFM — лучшие возможности атомно-силовой микроскопии по доступной цене
Сочетание современного сканера, платформы для высокоточной навигации по образцу в плоскостях XYZ, активного виброизоляционного столика и защиты от воздушного потока
FlexAFM — один из самых универсальных и гибких в использовании сканирующих зондовых микроскопов
FlexAFM — ваш надежный инструмент для проведения топографических измерений и измерений метрологических характеристик как в воздушной среде, так и в жидкости
Flex-Bio — универсальный АСМ для исследования живой материи
Данный атомно-силовой микроскоп для биологических исследований сочетает в себе универсальность и производительность
Сканирующий зондовый микроскоп Cytomass Monitor
Это единственный доступный в настоящее время исследовательский инструмент, позволяющий связать динамику клеточной массы с морфологией и состоянием клеток
Сканирующий зондовый микроскоп Alphacen 300
Alphacen 300 является серийно выпускаемым продуктом, результатом многих лет исследований и работы с индивидуальными заказами различных клиентов
Сканирующий зондовый микроскоп LensAFM
Данный блок может быть установлен как обычный объектив, что автоматически повышает разрешающую способность и другие измерительные возможности этих приборов
Сканирующий зондовый микроскоп NaniteAFM
NaniteAFM от Nanosurf позволяет проводить исследование и контроль высокотехнологичных поверхностей многих образцов, вне зависимости от их типа и размера
Сканирующий зондовый микроскоп NaioAFM
NaioAFM позволяет новым пользователям получать качественные АСМ снимки всего через 2 часа с начала работы
Сканирующий зондовый микроскоп FluidFM
Модуль FluidFM (FPM) позволяет сочетать в себе возможности жидкостной силовой микроскопии (ЖСМ) с чувствительностью и точностью АСМ
Сканирующий туннельный микроскоп NaioSTM
NaioSTM – это сканирующий туннельный микроскоп, который выделяется
простотой настройки, максимально понятным использованием и удобством транспортировки
Программное обеспечение Flex-ANA
Данная система Flex-ANA предназначена для исследования наномеханических свойств самых различных материалов
Nanosurf customizing
Поскольку атомно-силовые микроскопы продолжают находить все больше областей применения, особенно в промышленности (производственных процессах и контроле качества), стандартные решения часто не являются подходящими для решения поставленных задач
Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron
СЗМ Probe явлется компактным доступным завершенным решением для низкотемпературных СВВ СЗМ систем Omicron
Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT
Уникальный четырехточечный нанозонд с РЭМ колонной. Интеграция наноманипулятора на основе сканирующего зондового микроскопа и растровой электронной микроскопии
MULTISCAN Lab ScientaOmicron
Лаборатория MULTISCAN представляет собой инструмент, объединяющий различные методики анализа поверхности и работающие одновременно в одной области образца
Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1
Спустя год после присуждения Биннигу и Рореру Нобелевской премии в 1986 году компания Omicron представила первый сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп — легендарный UHV STM1
Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM
Метод низкотемпературной сканирующей туннельной микроскопии с момента выхода на рынок 15 лет назад в 1996 году остается востребованным в широком кругу научных областей
VT SPM
Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии
Large Sample SPM
СЗМ для больших образцов происходят от известных микроскопов VT серии и предлагают идеальное решение для больших образцов диаметром вплоть до 4 дюймов
Сервис и ремонт измерительного оборудования
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.
Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.
Наша почта
sales@imc-systems.ru
Наш телефон
+7 (495) 374-04-01