FOCUS PEEM — Фотоэмиссионный электронный микроскоп

   Особенности

• Поверхностно-чувствительная микроскопия
• Латеральное разрешение 20 нм
• Локальная спектроскопия
• Томография k-пространства
• Удобен в работе
• Совместим с MULTIPROBE системами сверхвысокого вакуума компании ScientaOmicron
• Продукт компании FOCUS

   Мощный инструмент для анализа поверхности

   Фотоэмиссионная электронная микроскопия (PEEM) является чрезвычайно мощным методом, универсальность которого для получения изображений магнитного контраста, а также топографической и химической томографии в высоком разрешении была продемонстрирована во многих экспериментах, проводимых на синхротроне и в лабораторных условиях.

   Детальная характеризация магнитных устройств, исследование плазмонов, химия поверхности и химический анализ с высоким латеральным разрешением в сочетании с синхротронным излучением, исследование процессов с разрешением во времени и томография k-пространства — лишь несколько примеров использования PEEM. В отличие от сканирующего электронного микроскопа (SEM), PEEM отображает излучающую фотоэлектроны поверхность образца в режиме реального времени, без сканирования.

   Эмиссия электронов с поверхности образца может быть вызвана различными способами — облучением фотонами, термически, электронной / ионной бомбардировкой или полевой эмиссией. На протяжении многих лет FOCUS PEEM постоянно совершенствуется в производительности и удобстве использования. Конструкция FOCUS PEEM вместе с специальным интегрированным предметным столиком высокой стабильности (IS) и различными имеющимися энергетическими фильтрами подчиняется модульной концепции и легко модернизируется. Кроме того, оригинальное программное обеспечение обеспечивает эффективную и безопасную работу FOCUS PEEM даже на сложных образцах. Более чем 50 приборов, работающих по всему миру, позволяют считать FOCUS PEEM мощным инструментом анализа поверхности.