NanoESCA — РФЭ спектрометр и микроскоп
Описание оборудования
- Предельное разрешение РФЭС визуализации: 500 нм / 100 нм (Лаборатория / Синхротрон)
- Удобная навигация образца при помощи фотоэлектронной микроскопии
- Спектроскопия с малым пятном облучения
- Энергетический фильтр с поправкой на аберрацию
- Монохромный рентгеновский источник высокой мощности
- µARUPS с предельным углом охвата
- Создан в сотрудничестве с FOCUS GmbH
Новаторский дизайн
NanoESCA предлагает отображение химических состояний с непревзойденным РФЭС латеральным разрешением (< 500 нм в лабораторных условиях). Прибор позволяет анализировать мельчайшие образцы, давая информацию о химическом состоянии за пределами применимости других методов с высоким латеральным разрешением, например, Оже-сканирования и времяпролетной МСВИ.
Навигация образца в режиме реального времени обеспечивается посредством фотоэлектронной микроскопии, которая работает в режиме вторичных электронов. Режим фотоэлектронной микроскопии позволяет легко обнаружить мельчайшие особенности образца и обеспечивает высокое разрешение (< 50 нм). Кроме того режим фотоэлектронной микроскопии обеспечивает количественную информацию о локальной работе выхода и локальном заряде образца.
Система NanoESCA может комплектоваться опцией μARUPS, которая позволяет анализировать k-пространство с предельным углом охвата в микронных областях, например, в небольших зернах в поликристаллической поверхности образца.
За ее революционный дизайн система NanoESCA получила награду R&D 100 в 2007 году.
NanoESCA создана для визуализации
В последние десятилетия стандартные РФЭС инструменты стали средствами рутинного анализа образцов, и развитие инструментов происходит в основном благодаря интеграции программного обеспечения и легкости в использовании. Подходы к созданию новой аппаратуры вне пределов рутинного РФЭС анализа были редки, и РФЭС визуализация с пространственным разрешением меньше 1 мкм оставалась вне досягаемости.
Уникальный дизайн входной линзы с высоким разрешением и революционный анализатор электронов (двойной полусферический анализатор электронов) позволили NanoESCA преодолеть этот барьер. В отличие от стандартной микроскопии вторичных электронов или вторичного рентгеновского изображения, фотоэлектронная микроскопия с высоким пространственным разрешением и прекрасным разрешением по энергии позволяет проводить детальный предварительный анализ образца, намного превосходящий его простую навигацию.
В результате, NanoESCA позволяет достичь более глубокого понимания локальной структуры образца, его химической и электронной структуры, что делает NanoESCA инструментом, действительно предназначенным для предельной ESCA визуализации.
Расходные материалы и аксессуары
К расходным материалам и аксессуарам
Электронные микроскопы и растровые электронные микроскопы KYKY TECHNOLOGY CO., LTD
FOCUS PEEM — Фотоэмиссионный электронный микроскоп
Сервис и ремонт измерительного оборудования
ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.
Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.