Электронные микроскопы и пробоподготовка

Растровый электронный микроскоп IMC HR-3000

Сканирующий электронный микроскоп с термополевым катодом Шоттки, широким набором основных и дополнительных детекторов, системой подготовки поверхности и анализаторами состава исследуемых материалов.
Функциональность
01
Высокое разрешение при низком напряжении
Оснащенный электронно-оптической колонной нового поколения, модель HR-3000 обладает превосходными электронно-оптическими характеристиками для оптимизации высокой разрешающей способности при низком напряжении (1,5 нм при 1 кВ), что позволяет получать высокое разрешение изображения на образцах, легко подвергающихся электронно-лучевому повреждению.
02
Многоканальная система детекторов
Микроскоп оснащен всеми основными типами детекторов: энергодисперсионный спектрометр (EDS), волнодисперсионный спектрометр (WDS), детектор дифракции обратно отраженных электронов (EBSD), катодолюминесцентный детектор (CL).
03
Высокая совместимость и расширяемость
Количество портов для дополнительных детекторов составляет 27, что делает HR-3000 одним из самых гибко конфигурируемых экземпляров среди современных сканирующих электронных микроскопов. Такая плотная компоновка позволяет обеспечить совместимость с системой детекторов и принадлежностей любых сторонних заводов-производителей. Допустимый максимальный размер предметного стола позволяет размещать образцы размером до Ø300х50мм.
04
Интеллектуальное программное обеспечение
Программное обеспечение максимально упрощает работу с оборудованием и позволяет легко получать высококачественные результаты даже пользователям, не имеющим большого опыта использования электронного микроскопа.

Основные характеристики

В основе работы

Электронно-оптическая система с полевым катодом Шоттки

Оптический тракт

Электромагнитные композитные линзы

Ускоряющее напряжение

0,02 – 30 кВ

Ток пучка

10 пА – 100 нА

Кратность увеличения

10 – 1 000 000х

Разрешающая способность

Детектор вторичных электронов (SE) – 1,5 нм (1 кВ) 0,9 нм (30 кВ)

Детектор обратно-отраженных электронов (BSE) – 2,5 нм (1 кВ) 1,5 нм (30 кВ)

Электронная микроскопия в просвечивающем режиме (TSEM) – 0,8 нм (30 кВ)

Предметный стол

Максимальный вес образца – 5 кг

Перемещение по оси X 140 мм

Перемещение по оси Y 140 мм

Вращение 360°

Наклон -10…80°


Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам
Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:
Похожее оборудование
Установка для ионного напыления Mini Coater
Компактный и мощная установка для магнетронного напыления в условиях вакуума (<3 Па).
Поворотно-наклонный столик для образцов RTSS50
Это компактный и мощный аксессуар для ионного напыления с возможностями регулировки скорости вращения, наклона и высоты.
FOCUS PEEM — Фотоэмиссионный электронный микроскоп
Фотоэмиссионная электронная микроскопия (PEEM) является чрезвычайно мощным методом для получения изображений магнитного контраста, а также топографической и химической томографии в высоком разрешении.
NanoESCA — РФЭ спектрометр и микроскоп
NanoESCA предлагает отображение химических состояний с непревзойденным РФЭС латеральным разрешением (< 500 нм в лабораторных условиях).

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
sales@imc-systems.ru
Наш телефон
+7 (495) 374-04-01