Главная Каталог Наука и нанотехнологии Электронные микроскопы и пробоподготовка Растровый электронный микроскоп IMC HR-3000

Электронные микроскопы и пробоподготовка

Растровый электронный микроскоп IMC HR-3000

Сканирующий электронный микроскоп с термополевым катодом Шоттки, широким набором основных и дополнительных детекторов, системой подготовки поверхности и анализаторами состава исследуемых материалов.

Заказать Узнать подробнее

Функциональность

Высокое разрешение при низком напряжении

Оснащенный электронно-оптической колонной нового поколения, модель HR-3000 обладает превосходными электронно-оптическими характеристиками для оптимизации высокой разрешающей способности при низком напряжении (1,5 нм при 1 кВ), что позволяет получать высокое разрешение изображения на образцах, легко подвергающихся электронно-лучевому повреждению.

Многоканальная система детекторов

Микроскоп оснащен всеми основными типами детекторов: энергодисперсионный спектрометр (EDS), волнодисперсионный спектрометр (WDS), детектор дифракции обратно отраженных электронов (EBSD), катодолюминесцентный детектор (CL).

Высокая совместимость и расширяемость

Количество портов для дополнительных детекторов составляет 27, что делает HR-3000 одним из самых гибко конфигурируемых экземпляров среди современных сканирующих электронных микроскопов. Такая плотная компоновка позволяет обеспечить совместимость с системой детекторов и принадлежностей любых сторонних заводов-производителей. Допустимый максимальный размер предметного стола позволяет размещать образцы размером до Ø300х50мм.

Интеллектуальное программное обеспечение

Программное обеспечение максимально упрощает работу с оборудованием и позволяет легко получать высококачественные результаты даже пользователям, не имеющим большого опыта использования электронного микроскопа.

Основные характеристики

Оптический тракт	Электромагнитные композитные линзы
В основе работы	Электронно-оптическая система с полевым катодом Шоттки
Ускоряющее напряжение	0,02 – 30 кВ
Ток пучка	10 пА – 100 нА
Кратность увеличения	10 – 1 000 000х
Разрешающая способность	Детектор вторичных электронов (SE) – 1,5 нм (1 кВ) 0,9 нм (30 кВ) Детектор обратно-отраженных электронов (BSE) – 2,5 нм (1 кВ) 1,5 нм (30 кВ) Электронная микроскопия в просвечивающем режиме (TSEM) – 0,8 нм (30 кВ)
Предметный стол	Максимальный вес образца – 5 кг Перемещение по оси X 140 мм Перемещение по оси Y 140 мм Вращение 360° Наклон -10…80°

Узнать стоимость

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Качество и безопасность пищевых продуктов

Фармацевтическая промышленность

Экология

Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам

Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:

Расходные материалы для ИСП-АЭС

Расходные материалы для ААС

Расходные материалы для хроматографии

Расходные материалы для пробоподготовки

Расходные материалы для элементного анализа

Похожее оборудование

Установка для ионного напыления Mini Coater

Компактный и мощная установка для магнетронного напыления в условиях вакуума (<3 Па).

Поворотно-наклонный столик для образцов RTSS50

Это компактный и мощный аксессуар для ионного напыления с возможностями регулировки скорости вращения, наклона и высоты.

FOCUS PEEM — Фотоэмиссионный электронный микроскоп

Фотоэмиссионная электронная микроскопия (PEEM) является чрезвычайно мощным методом для получения изображений магнитного контраста, а также топографической и химической томографии в высоком разрешении.