Полусферический анализатор Argus

   Argus является полусферическим анализатором нового поколения, который построен на базе мультиканального детектора и обеспечивает бескомпромиссную производительность в экспериментах РФЭС и ЭСХА. Многофункциональный и легкий в использовании спектрометр с великолепной проводимостью и невероятной чувствительностью, обеспеченной за счет детектора последнего поколения, является отличным решением для многих задач.

   Основные особенности и преимущества:

• уникальная чувствительность
• режим «снимка» и РФЭС анализ в динамике
• РФЭС анализ с визуализацией и исследованием малых областей
• фотоэлектронная дифракция, Оже-спектроскопия, спектроскопия ионного рассеяния и УФС
• программный комплекс автоматизации измерений CASCADE
• является быстрым решением для апгрейда старых РФЭ спектрометров, вне зависимости от производителя

   Отдельные режимы для визуализации химического состава поверхности в режиме сканирования (Snapshot XPS) позволяют быстро и легко получать релевантную информацию о химических состояниях на поверхности образца.

РФЭС в режиме сканирования и снимка

   Полусферический анализатор Argus позволяет проводить эксперименты в режиме снимка (Snapshot aquisition) значительно быстрее, по сравнению с обычными сканирующими анализаторами.

   Мультиканальный детектор с достаточным количеством каналов может генерировать спектры в режиме снимка с очень высоким разрешением. В данном режиме каждый отдельный канал записывает только один энергетический интервал в единицу времени. Для оптимальной работы требуется подбор оптимального количества каналов, чтобы обеспечить баланс между скоростью счета и наименьшим полезным энергетическим интервалом между каналами на выходе анализатора. В полусферическом  анализаторе Argus реализована оптимальная схема для наивысшей производительности в режиме снимка.

   Измерения показывают, что количественный анализ в режиме снимка на Argus абсолютно надежен.
   Оба режима (сканирование и снимок) — дают идентичные данные в количественном аспекте. Но использование режима снимка позволяет значительно сократить время на эксперимент при трудозатратных приложениях: сложные образцы, несколько образцов в одной загрузке, построение профиля по глубине и химическое картирование поверхности.