Главная Каталог Наука и нанотехнологии Электронная спектроскопия Scienta Omicron Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр ScientaOmicron XPS Lab

Электронная спектроскопия Scienta Omicron

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр ScientaOmicron XPS Lab

Представляет собой универсальную платформу для проведения исследований поверхности образцов методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии в сверхвысоком вакууме

Заказать Задать вопрос специалисту

Описание оборудования

уникальные возможности и отличная производительность РФЭС
компактные размеры с отличным доступом ко всем рабочим областям
удобное программное обеспечение для отслеживания хода эксперимента и сбора данных
гибкая модульная система, которую можно настроить/модернизировать для своих собственных задач
является подсистемой для Materials Innovation Platform (MIP)

Универсальное решение для РФЭ, УФЭ и Оже спектроскопии

РФЭС спектрометр XPS Lab оснащена скоростным полусферическим анализатором Argus CU с высоким коэффициентом пропускания и мощным монохроматическим источником рентгеновского излучения, которые специально были объединены для обеспечения лучшей чувствительности.

Также, возможности стандартной системы могут быть расширены широким спектром специализированных компонентов, гарантирующих предоставить самый полный функционал для решения задачи практически любой сложности. Благодаря этому с использованием данной платформы возможны исследования методами Оже-спектроскопии и ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии (УФЭС). Кроме того, существуют варианты системы, где возможна работа (осаждение и анализ) с тонкими пленками методами MBE, SPM, AFM, ARPES и т.д.

Основные характеристики

Давление	< 2*10^-10 мбар
Материалы камеры	немагнитная сталь или мю-металл
Держатели для образцов	держатели флажкового типа для небольших пластин, держатель для больших образцов (площадью до 30 см²) или подложки диаметром до 4 дюймов
Функциональность (* опционально)	128 канальный детектор со вторым каскадом с анодной линейкой РФЭС РФЭС локальных микрообластей РФЭС с угловым разрешением Монохроматический X-ray источник Al Kα* Нейтрализация заряда* Профилирование по глубине с помощью ионного источника* Профилирование по глубине с помощью кластерного ионного источника* VUV источник света для УФЭС* Электронная пушка для Оже-спектроскопии * Нагрев образца* Охлаждение образца* Компьютерное моделирование*

Давление

< 2*10^-10 мбар

Материалы камеры

немагнитная сталь или мю-металл

Держатели для образцов

держатели флажкового типа для небольших пластин, держатель для больших образцов (площадью до 30 см²) или подложки диаметром до 4 дюймов

Функциональность (* опционально)

128 канальный детектор со вторым каскадом с анодной линейкой

РФЭС

РФЭС локальных микрообластей

РФЭС с угловым разрешением

Монохроматический X-ray источник Al Kα*

Нейтрализация заряда*

Профилирование по глубине с помощью ионного источника*

Профилирование по глубине с помощью кластерного ионного источника*

VUV источник света для УФЭС*

Электронная пушка для Оже-спектроскопии *

Нагрев образца*

Охлаждение образца*

Компьютерное моделирование*

Узнать стоимость

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Качество и безопасность пищевых продуктов

Фармацевтическая промышленность

Экология

Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам

Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:

Расходные материалы для ИСП-АЭС

Расходные материалы для ААС

Расходные материалы для хроматографии

Расходные материалы для пробоподготовки

Расходные материалы для элементного анализа

Похожее оборудование

DA20 Компактный ARPES анализатор с угловым разрешением

Анализатор DA20 обладает инновационной технологией регистрации, которая ранее была доступна только в более крупных моделях, таких как ScientaOmicron DA30-L

Электронный ARPES анализатор DFS30

Данный анализатор DFS30 оснащен инновационной технологией трехмерной регулировки фокуса

HAXPES Lab — Фотоэлектронный спектрометр с жестким рентгеном

Комплекс фотоэлектронной спектроскопии HAXPES-Lab построен на следующих базовых принципах

DA30 ARPES. Фотоэмиссионный спектрометр с угловым разрешением

Полусферический анализатор Argus

Argus является полусферическим анализатором нового поколения, который построен на базе мультиканального детектора и обеспечивает бескомпромиссную производительность в экспериментах РФЭС и ЭСХА

Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры (РФЭС) по индивидуальному проекту

Спектрометрическая система MXPS оборудована тремя камерами: аналитической, препаративной и шлюзом быстрой загрузки образцов

LEED & RHEED

RHEED (Дифракция быстрых электронов или ДБЭ) система состоит из: — экрана на свинцовом стекле с окном просмотра (6″ OD)

NanoSAM. Оже-спектроскопия, нанозонд

Химический анализ Оже-спектрометрии и микроскопии с предельным разрешением

SCIENTA DA30. Полусферический анализатор

Система VG Scienta DA30 является разработкой последнего поколения. Новейшая конструкция дефлектора этого анализатора позволяет прибору детектировать электроны в полном конусе с углом раствора 30 градусов

SCIENTA R3000. Полусферический анализатор

Модель Scienta R3000 — компактный спектрометр с 135 мм радиусом полусферы электронного анализатора, вакуумный корпус которого выполнен из мю-металла

SCIENTA R4000. Полусферический анализатор

Scienta R4000 является самым эффективным на сегодняшний день спектрометром c радиусом полусферы электронного анализатора 200 мм

SCIENTA R8000. Полусферический анализатор

С появлением на рынке модели VG Scienta R8000 было переосмыслено современное положение дел в области электронной спектроскопии

FOCUS PEEM — Фотоэмиссионный электронный микроскоп

Фотоэмиссионная электронная микроскопия (PEEM) является чрезвычайно мощным методом для получения изображений магнитного контраста, а также топографической и химической томографии в высоком разрешении.