Электронный ARPES анализатор DFS30

   Данный анализатор DFS30 оснащен инновационной технологией трехмерной регулировки фокуса. Это является важным этапом при переходе от неточных механических решений к блокам электронного управления, которые характеризуются минимальной погрешностью измерений  и высокой их повторяемостью.

   Измерения ARPES, особенно микро/нано ARPES, в сочетании с измерениями с высоким разрешением требуют оптимального выравнивания друг с другом фотонного пятна, образца и фокуса анализатора. Без подобной центровки получаемые результаты со временем проведения эксперимента могут только ухудшаться. Разработанный метод 3D корректировки позволяет автоматически смещать фокус анализатора на пятно излучения фотоэлектронов, оставляя образец и фотонное пятно статичными. Благодаря этому возможно сэкономить несколько часов на настройку приборов и увеличить эффективный срок службы образцов.

   Стоит отметить, что представленная технология сверхточного управления положением фокуса на пятно излучения происходит благодаря динамическим таблицам линз для режимов отклонения, угла и пропускания. Эти таблицы рассчитываются в реальном времени на основе набора откалиброванных и регулируемых манипуляторов.

   Основные особенности и преимущества:

• корректирование положения фокуса на пятно излучения за счет работы электронного блока управления;
• увеличение эффективного срока службы образца за счет быстрой и точной настройки;
• 3D регулировка фокуса по всем осям: X, Y, Z (WD);
• измерение полного конуса в режиме отклонения без влияния матричных элементов;
• доступно обновление с DA30-L