Сканирующая зондовая микроскопия

Сканирующий зондовый микроскоп NaniteAFM

Сканирующий зондовый микроскоп NaniteAFM
Сканирующий зондовый микроскоп NaniteAFM
Сканирующий зондовый микроскоп NaniteAFM
Сканирующий зондовый микроскоп NaniteAFM
Сканирующий зондовый микроскоп NaniteAFM
Сканирующий зондовый микроскоп NaniteAFM
Сканирующий зондовый микроскоп NaniteAFM
Сканирующий зондовый микроскоп NaniteAFM
Самый маленький модуль АСМ, который может быть интегрирован в любую пользовательскую систему
Позволяет проводить исследование и контроль высокотехнологичных поверхностей многих образцов, вне зависимости от их типа и размера

Описание оборудования

   Основные особенности:
  • идеален для самых различных нужд и применений
  • возможна автоматизация измерений
  • подходит для работы с большими, тяжелыми или изогнутыми образцами

   NaniteAFM от Nanosurf позволяет проводить исследование и контроль высокотехнологичных поверхностей многих образцов, вне зависимости от их типа и размера. В данной миниатюрной системе сочетаются возможность зондового сканирования, контроль поверхности двумя видеокамерами и моторизированный блок, для высокоточного позиционирования сканера. Для работы требуется лишь пространство для установки, около 300 см3.

   В качестве крепления NaniteAFM используется пластина типа «ласточкин хвост». За счет специальных посадочных мест в приборе возможна быстрая и высокоточная установка кантилеверов, дополнительного лазерного выравнивания не требуется. Благодаря этому существенно сокращается время, затрачиваемое на проведение экспериментов.

   Этой же цели служат два камеры с разрешением 2 мкм, встроенные в модуль. Одна из них дает изображение поверхности образца «сверху», позволяет найти на нем интересующие области и быстро расположить кантилевер прямо над ними. Благодаря второй камере можно увидеть образец под кантилевером «сбоку» (угол обзора – 45 о), что очень удобно при начальном приближении зонда к объекту (в пределах нескольких десятков микрометров).

   Дополнительная экономия времени оператора может быть осуществлена за счет автоматизации работы NaniteAFM. Модуль имеет ряд встроенных в интерфейс сценариев для проведения измерений серий образцов. Анализ и создание отчетов также можно настроить.

   NaniteAFM – это один из лучших приборов для проведения контроля образцов, получения информации о качестве их поверхностей в наномасштабе. Он одинаково подходит как для непрозрачных, так и для прозрачных образцов. Многие фирмы используют данный модуль для анализа поверхности различных стекол.

Функциональность
01
Изображение (A) и статистический анализ (B) шероховатости поверхности стекла
Отображение фазового состава совместно с топографией поверхности.
Слева представлено исследование механических свойств резины.
Справа – изучение намагниченности в тонком слое пермаллоя
02
Изображение (A) и профиль по высоте (B) наноразмерных неровностей на стекле
Отображение фазового состава совместно с топографией поверхности.
Слева представлено исследование механических свойств резины.
Справа – изучение намагниченности в тонком слое пермаллоя

Основные характеристики

Модуль NaniteAFM

110 мкм

70 мкм

25 мкм

Режимы измерений

Стандартные моды:

  • • Контактная мода
  • • Динамическая полуконтактная мода (теппинг режим)
  • • Мода отображения фаз

Магнитные свойства:

  • • Магнитно силовая микроскопия (MFM)

Электрические свойства:

  • • Атомно-силовая микроскопия с измерением тока (C-AFM)
  • • Электростатическая силовая микроскопия (EFM)
  • • Сканирующая микроскопия сопротивления растекания (SSRM)

Механические свойства:

  • • Силовая спектроскопия
  • • Модуляция силы взаимодействия
  • • Силовое картирование
  • • Литография и Наноманипуляции

Максимальный диапазон сканирования (XY)(1)

110 мкм

70 мкм

25 мкм

Максимальная высота(1)

22 мкм

14 мкм

5 мкм

Средняя ошибка линейности XY

< 0.6%

< 1.2%

< 0.7%

Уровень шума при измерениях по оси Z (RMS, статический режим)

ср. 350 пм / макс. 500 пм

ср. 350 пм / макс. 500 пм

ср. 80 пм / макс. 150 пм

Уровень шума при измерениях по оси Z (RMS, динамический режим)

ср. 90 пм / макс. 150 пм

ср. 90 пм / макс. 150 пм

ср. 30 пм / макс. 50 пм

Установка кантилевера

Выравнивание происходит автоматически, за счет специальных посадочных мест

Мониторинг поверхности образца

Две встроенных USB камеры:

вид «сверху»: цветная матрица 3.1 МП;
4х-кратное опт. увеличение макс. разрешение ≈ 2.1 мкм и апертура ≈ 0.115

вид «сбоку»: монохромная матрица 1.3 МП

Кантилевер

Ширина

мин. 28 мкм

Длина

мин. 225 мкм

Светоотражающее покрытие

рекомендуется

Измерения в жидких средах

нет возможности

Форма кантилеверов

только одиночные, прямоугольного сечения

Толщина чипа

300 мкм

(1) Допуск ±10% для 110 мкм, и ±15 % для 70 мкм и 25 мкм

Видео
NaniteAFM Large Custom Automated Translation Stage

Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам
Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:
Похожее оборудование
DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов
Это результат многих лет исследований и самых последних разработок в области атомно-силовой микроскопии. Его отличает стабильная работа в любой среде, очень низкий уровень шума, получение изображений в высоком разрешении, большая область сканирования и полностью автоматизированная система, управляемая с помощью специально разработанного ПО.
Core AFM — лучшие возможности атомно-силовой микроскопии по доступной цене
Сочетание современного сканера, платформы для высокоточной навигации по образцу в плоскостях XYZ, активного виброизоляционного столика и защиты от воздушного потока
FlexAFM — один из самых универсальных и гибких в использовании сканирующих зондовых микроскопов
FlexAFM — ваш надежный инструмент для проведения топографических измерений и измерений метрологических характеристик как в воздушной среде, так и в жидкости
Flex-Bio — универсальный АСМ для исследования живой материи
Данный атомно-силовой микроскоп для биологических исследований  сочетает в себе универсальность и производительность
Сканирующий зондовый микроскоп Cytomass Monitor
Это единственный доступный в настоящее время исследовательский инструмент, позволяющий связать динамику клеточной массы с морфологией и состоянием клеток
Сканирующий зондовый микроскоп Alphacen 300
Alphacen 300 является серийно выпускаемым продуктом, результатом многих лет исследований и работы с индивидуальными заказами различных клиентов
Сканирующий зондовый микроскоп LensAFM
Данный блок может быть установлен как обычный объектив, что автоматически повышает разрешающую способность и другие измерительные возможности этих приборов
Сканирующий зондовый микроскоп NaioAFM
NaioAFM позволяет новым пользователям получать качественные АСМ снимки всего через 2 часа с начала работы
Сканирующий зондовый микроскоп FluidFM
Модуль FluidFM (FPM) позволяет сочетать в себе возможности жидкостной силовой микроскопии (ЖСМ) с чувствительностью и точностью АСМ
Сканирующий туннельный микроскоп NaioSTM
NaioSTM – это сканирующий туннельный микроскоп, который выделяется простотой настройки, максимально понятным использованием и удобством транспортировки
Программное обеспечение Flex-ANA
Данная система Flex-ANA предназначена для исследования наномеханических свойств самых различных материалов
Nanosurf customizing
Поскольку атомно-силовые микроскопы продолжают находить все больше областей применения, особенно в промышленности (производственных процессах и контроле качества), стандартные решения часто не являются подходящими для решения поставленных задач
Зондовая система Fermi SPM
Новые СЗМ Fermi представляют собой компактные решения для сверхвысоковакуумных СЗМ в температурном диапазоне от 15 до 400 К
Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron
СЗМ Probe явлется компактным доступным завершенным решением для низкотемпературных СВВ СЗМ систем Omicron
Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT
Уникальный четырехточечный нанозонд с РЭМ колонной. Интеграция наноманипулятора на основе сканирующего зондового микроскопа и растровой электронной микроскопии
MULTISCAN Lab ScientaOmicron
Лаборатория MULTISCAN представляет собой инструмент, объединяющий различные методики анализа поверхности и работающие одновременно в одной области образца
Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1
Спустя год после присуждения Биннигу и Рореру Нобелевской премии в 1986 году компания Omicron представила первый сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп — легендарный UHV STM1
Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM
Метод низкотемпературной сканирующей туннельной микроскопии с момента выхода на рынок 15 лет назад в 1996 году остается востребованным в широком кругу научных областей
VT SPM
Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии
Large Sample SPM
СЗМ для больших образцов происходят от известных микроскопов VT серии и предлагают идеальное решение для больших образцов диаметром вплоть до 4 дюймов

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
sales@imc-systems.ru
Наш телефон
+7 (495) 374-04-01