RU EN
Задать вопрос

NaioAFM — наилучший выбор для проведения занятий в области атомно-силовой микроскопии

Представляет собой систему для АСМ «все-в-одном», простую в использовании, с дружелюбным и понятным пользователю интерфейсом, включающую в себя все основные режимы для проведения исследований.

Функциональность

NaioAFM позволяет новым пользователям получать качественные АСМ снимки всего через 2 часа с начала работы. Подобная экономия времени возможна за счет простоты используемого ПО и удобства системы установки кантилеверов, где не требуется дополнительной выравнивания при помощи лазера.

Основные возможности данного атомно-силового микроскопа представлены ниже:

Фазовый состав полимерной смеси представлен в виде цветных участков на 3D топографии (размер изображения: 20 мкм)

Топография тефлоновой ePTFE мембраны

3D топография полимерной смеси совместно
с результатами исследований адгезивных свойств

 

Стандартные
моды 
Электрические
свойства
Механические свойства
Динамическая полуконтактная мода (теппинг режим) Атомно-силовая микроскопия с измерением тока (C-AFM) Модуляция силы взаимодействия
Контактная мода Электростатическая силовая микроскопия (EFM) Силовое картирование
Мода отображения фаз Силовая спектроскопия
Сканирующая микроскопия сопротивления растекания (SSRM) Литография и Наноманипуляции
Магнитные свойства Жесткость и упругость
Магнитно-силовая микроскопия (MFM)

 

Технические характеристики

Предметный столик

Максимальный диапазон
сканирования / высота (разрешение) 
70 мкм (1.0 нм) / 14 мкм (0.2 нм) (1)
Уровень шума  (RMS,
статический/динамический режим)
ср. 0.4 нм (макс. 0.8 нм) /
ср. 0.3 нм (макс. 0.8 нм)
Максимальные размер / высота образца 12 мм / 3.5 мм

Кантилевер

Ширина мин. 28 мкм
Длина мин. 225 мкм
Светоотражающее покрытие требуется
Измерения в жидких средах нет возможности
Форма только одиночные, прямоугольного сечения
Толщина чипа 300 мкм

(1) Допуск: ± 10%

скачать PDF
Закрыть

Скачать PDF

ФИО*
Компания
E-mail*
Телефон*

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Закрыть

Задать вопрос

NaioAFM — наилучший выбор для проведения занятий в области атомно-силовой микроскопии

ФИО*
Компания
Телефон*
Email*
Напишите вопрос и наименование продукции*
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.