Представляет собой систему для АСМ «все-в-одном», простую в использовании, с дружелюбным и понятным пользователю интерфейсом, включающую в себя все основные режимы для проведения исследований.
Представляет собой систему для АСМ «все-в-одном», простую в использовании, с дружелюбным и понятным пользователю интерфейсом, включающую в себя все основные режимы для проведения исследований.
NaioAFM позволяет новым пользователям получать качественные АСМ снимки всего через 2 часа с начала работы. Подобная экономия времени возможна за счет простоты используемого ПО и удобства системы установки кантилеверов, где не требуется дополнительной выравнивания при помощи лазера.
Основные возможности данного атомно-силового микроскопа представлены ниже:
Фазовый состав полимерной смеси представлен в виде цветных участков на 3D топографии (размер изображения: 20 мкм)
Топография тефлоновой ePTFE мембраны
3D топография полимерной смеси совместно
с результатами исследований адгезивных свойств
| Стандартные моды |
Электрические свойства |
Механические свойства |
| Динамическая полуконтактная мода (теппинг режим) | Атомно-силовая микроскопия с измерением тока (C-AFM) | Модуляция силы взаимодействия |
| Контактная мода | Электростатическая силовая микроскопия (EFM) | Силовое картирование |
| Мода отображения фаз | Силовая спектроскопия | |
| Сканирующая микроскопия сопротивления растекания (SSRM) | Литография и Наноманипуляции | |
| Магнитные свойства | Жесткость и упругость | |
| Магнитно-силовая микроскопия (MFM) |
Предметный столик |
|
| Максимальный диапазон сканирования / высота (разрешение) |
70 мкм (1.0 нм) / 14 мкм (0.2 нм) (1) |
| Уровень шума (RMS, статический/динамический режим) |
ср. 0.4 нм (макс. 0.8 нм) / ср. 0.3 нм (макс. 0.8 нм) |
| Максимальные размер / высота образца | 12 мм / 3.5 мм |
Кантилевер |
|
| Ширина | мин. 28 мкм |
| Длина | мин. 225 мкм |
| Светоотражающее покрытие | требуется |
| Измерения в жидких средах | нет возможности |
| Форма | только одиночные, прямоугольного сечения |
| Толщина чипа | 300 мкм |
(1) Допуск: ± 10%
Скачать PDF
Задать вопрос
NaioAFM — наилучший выбор для проведения занятий в области атомно-силовой микроскопии