Сканирующая зондовая микроскопия

Сканирующий зондовый микроскоп LensAFM

Сканирующий зондовый микроскоп LensAFM
АСМ в дополнение к возможностям оптических микроскопов
Атомно-силовой микроскоп Nanosurf LensAFM позволяет проводить исследования тогда, когда возможности оптических микроскопов и 3D профилометров достигают своих пределов

Описание оборудования

   Атомно-силовой микроскоп Nanosurf LensAFM позволяет проводить исследования тогда, когда возможности оптических микроскопов и 3D профилометров достигают своих пределов. Данный блок может быть установлен как обычный объектив, что автоматически повышает разрешающую способность и другие измерительные возможности этих приборов. При этом LensAFM предоставляет не только информацию о 3D топографии поверхности образцов, но и позволяет анализировать их физические свойства.

   В настоящее время все больше возникает ситуаций, когда для исследований недостаточно информации, получаемой методами оптической микроскопии. С одной стороны, оптические микроскопы выделяются за счет простоты использования, возможности скрининга и минимальными требованиями по пробоподготовке. С другой, типичного 100-кратного объектива может быть недостаточно для получения достаточной информации об особенностях поверхности. Решение данной проблемы в обычной ситуации потребует наличия в лаборатории 2х специализированных приборов (оптического и атомно-силового микроскопов) и необходимости дополнительного перемещения образца. LensAFM позволяет оптимизировать данный процесс: за счет исключительно компактной конструкции и разработанного механизма крепления на микроскоп или профилометр, все, что вам нужно сделать, это повернуть револьверную головку прибора и запустить сканирование. Используется только один прибор, никаких дополнительных перемещений образцов.

   Комбинирование LensAFM с какой-либо оптической системой значительно повышает разрешение снимков и обеспечивает дополнительные возможности для проведения измерений и визуализации результатов.

Функциональность
01
Дефекты металлической поверхности
Наблюдаемые через объектив микроскопа, при 100-кратном приближении. Природа и точная структура остаются неясными
02
При просмотре через 8-кратный объектив LensAFM
На данном оптическом изображении виден кантилевер АСМ, что позволяет легко его установить на интересующий участок образца
03
АСМ топография
Полученная благодаря LensAFM. По данному трехмерному изображению изучаемый дефект четко идентифицируется как дырка в слое покрытия, частично заполненные мусором

Основные характеристики

Предметный столик

Режимы измерений

Стандартные моды:

  • • Контактная мода
  • • Динамическая полуконтактная мода (теппинг режим)
  • • Мода отображения фаз

Магнитные свойства:

  • • Магнитно силовая микроскопия (MFM)

Электрические свойства:

  • • Атомно-силовая микроскопия с измерением тока (C-AFM)
  • • Электростатическая силовая микроскопия (EFM)
  • • Сканирующая микроскопия сопротивления растекания (SSRM)

Механические свойства:

  • • Силовая спектроскопия
  • • Модуляция силы взаимодействия
  • • Силовое картирование
  • • Литография и Наноманипуляции

Максимальный диапазон сканирования (XY)

70 мкм (1)

Максимальная высота (Z) 

14 мкм (1)

Средняя ошибка линейности XY

< 1.2%

Уровень шума при измерениях по оси Z (RMS, статический режим, воздух)

ср. 350 пм / макс. 500 пм

Уровень шума при измерениях по оси Z (RMS, динамический режим, воздух)

ср. 90 пм / макс. 150 пм

Установка кантилевера

автоматическая самонастройка

Предустановка

встроенный 8-кратный объектив
с парфокальным расстоянием 45
или 60 мм

Точность установки при АСМ измерениях

±10 мкм

Кантилевер

Ширина

мин. 20 мкм

Длина

мин. 40 мкм

Светоотражающее покрытие

рекомендуется

Измерения в жидких средах

Да, с золотым покрытием

Толщина чипа

300 мкм, 500 мкм или 600 мкм в зависимости от вида кантилевера


(1) – Допуск ± 15%

Видео
Nanosurf LensAFM -- Adding AFM to your Optical Microscope

Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам
Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:
Похожее оборудование
DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов
Это результат многих лет исследований и самых последних разработок в области атомно-силовой микроскопии. Его отличает стабильная работа в любой среде, очень низкий уровень шума, получение изображений в высоком разрешении, большая область сканирования и полностью автоматизированная система, управляемая с помощью специально разработанного ПО.
Core AFM — лучшие возможности атомно-силовой микроскопии по доступной цене
Сочетание современного сканера, платформы для высокоточной навигации по образцу в плоскостях XYZ, активного виброизоляционного столика и защиты от воздушного потока
FlexAFM — один из самых универсальных и гибких в использовании сканирующих зондовых микроскопов
FlexAFM — ваш надежный инструмент для проведения топографических измерений и измерений метрологических характеристик как в воздушной среде, так и в жидкости
Flex-Bio — универсальный АСМ для исследования живой материи
Данный атомно-силовой микроскоп для биологических исследований  сочетает в себе универсальность и производительность
Сканирующий зондовый микроскоп Cytomass Monitor
Это единственный доступный в настоящее время исследовательский инструмент, позволяющий связать динамику клеточной массы с морфологией и состоянием клеток
Сканирующий зондовый микроскоп Alphacen 300
Alphacen 300 является серийно выпускаемым продуктом, результатом многих лет исследований и работы с индивидуальными заказами различных клиентов
Сканирующий зондовый микроскоп NaniteAFM
NaniteAFM от Nanosurf позволяет проводить исследование и контроль высокотехнологичных поверхностей многих образцов, вне зависимости от их типа и размера
Сканирующий зондовый микроскоп NaioAFM
NaioAFM позволяет новым пользователям получать качественные АСМ снимки всего через 2 часа с начала работы
Сканирующий зондовый микроскоп FluidFM
Модуль FluidFM (FPM) позволяет сочетать в себе возможности жидкостной силовой микроскопии (ЖСМ) с чувствительностью и точностью АСМ
Сканирующий туннельный микроскоп NaioSTM
NaioSTM – это сканирующий туннельный микроскоп, который выделяется простотой настройки, максимально понятным использованием и удобством транспортировки
Программное обеспечение Flex-ANA
Данная система Flex-ANA предназначена для исследования наномеханических свойств самых различных материалов
Nanosurf customizing
Поскольку атомно-силовые микроскопы продолжают находить все больше областей применения, особенно в промышленности (производственных процессах и контроле качества), стандартные решения часто не являются подходящими для решения поставленных задач
Зондовая система Fermi SPM
Новые СЗМ Fermi представляют собой компактные решения для сверхвысоковакуумных СЗМ в температурном диапазоне от 15 до 400 К
Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron
СЗМ Probe явлется компактным доступным завершенным решением для низкотемпературных СВВ СЗМ систем Omicron
Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT
Уникальный четырехточечный нанозонд с РЭМ колонной. Интеграция наноманипулятора на основе сканирующего зондового микроскопа и растровой электронной микроскопии
MULTISCAN Lab ScientaOmicron
Лаборатория MULTISCAN представляет собой инструмент, объединяющий различные методики анализа поверхности и работающие одновременно в одной области образца
Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1
Спустя год после присуждения Биннигу и Рореру Нобелевской премии в 1986 году компания Omicron представила первый сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп — легендарный UHV STM1
Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM
Метод низкотемпературной сканирующей туннельной микроскопии с момента выхода на рынок 15 лет назад в 1996 году остается востребованным в широком кругу научных областей
VT SPM
Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии
Large Sample SPM
СЗМ для больших образцов происходят от известных микроскопов VT серии и предлагают идеальное решение для больших образцов диаметром вплоть до 4 дюймов

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
sales@imc-systems.ru
Наш телефон
+7 (495) 374-04-01