Сканирующая зондовая микроскопия

Flex-Bio — универсальный АСМ для исследования живой материи

Flex-Bio — универсальный АСМ для исследования живой материи
Универсальный АСМ для исследования живой материи
Ключевым фактором успеха в исследованиях в области биотехнологий является сочетание нескольких методов. С помощью Flex-Bio, вы можете комбинировать возможности жидкостной АСМ-визуализации, спектроскопии и наноманипуляций с высококачественными оптическими методами, доступными для инвертированных микроскопов

Описание оборудования

   Данный атомно-силовой микроскоп для биологических исследований  сочетает в себе универсальность и производительность:
  • совместим с микроскопами инвертированного типа;
  • качественное сканирование, обеспечиваемое современными технологиями;
  • сменные держатели кантилеверов обеспечиваются индивидуальный подход для различных задач;
  • больше возможностей за счет сканирования в жидких средах.

   Ключевым фактором успеха при исследованиях в области исследований живой материи является сочетание нескольких методов. В основе системы лежат сканирующая головка FlexAFM и контроллер C3000 с интерфейсным блоком I100. Благодаря этому и AFM от Nanosurf, вы можете сочетать атомно-силовую микроскопию в жидких средах, спектроскопию и различные наноманипуляции с высокотехнологичными оптическими методами, доступными для микроскопов инвертированного типа.

   Модульный столик, различные держатели кантилеверов и гибкое программное обеспечение позволяют легко модернизировать систему для самых разнообразных целей исследований материалов и живой материи. Flex-FPM, например, отлично подходит для изучения клеток и наноманипуляций, а Flex-ANA – для автоматического наномеханического анализа. Кроме того для Flex-Bio доступны расширенные режимы, такие как MFM и KPFM, которые изначально были разработаны для системы Flex-Axiom. Автономный столик Flex-Bio совместно с Nanosurf Isostage и Acoustic Enclosure 300 позволяет проводить измерения, которым не нужен оптический доступ снизу (например, для спектроскопии образцов бактериородопсина), при этом в целом габариты и вес системы значительно уменьшаются.

Функциональность
01
3D АСМ топография нескольких фибрилл коллагена
I типа
02
Топография АСМ фибрилл коллагена
I типа
03
Инверсный снимок АСМ
Записанный вместе с топографией
04
Модуль упругости
Полученный при 3D топографии
05
Распределение значений

Основные характеристики

Параметры сканирующей головки FlexAFM NIR

NIR 110-мкм

NIR 10-мкм

Режимы измерений

Стандартные моды: 

  • • Контактная мода
  • • Мода поперечных сил
  • • Динамическая полуконтактная мода (теппинг режим)
  • • Мода отображения фаз

Температурная микроскопия: 

  • • Сканирующая микроскопия теплопроводности (SThM)

Магнитные свойства: 

  • • Магнитно силовая микроскопия (MFM)

Электрические свойства: 

  • • Атомно-силовая микроскопия с измерением тока (C-AFM)
  • • Пьезоэлектрическая силовая микроскопия (PFM)
  • • Электростатическая силовая микроскопия (EFM)
  • • Зондовая силовая микроскопия Кельвина (KPFM)
  • • Сканирующая микроскопия сопротивления растекания (SSRM)

Механические свойства:

  • • Силовая спектроскопия
  • • Модуляция силы взаимодействия
  • • Жесткость и упругость
  • • Адгезия
  • • Силовое картирование
  • • Литография и Наноманипуляции
  • • Электрохимическая атомно силовая микроскопия (EC-AFM)
  • • Микроманипуляции и растяжение

Класс лазера (длина волны)

Класс 1М (850 нм)

Максимальная высота чашки Петри
(уровень жидкости)

9 мм (6 мм)

Диапазон ручной регулировки

30 мм

Automatic approach range

1.1 мм

Диапазон автоматической регулировки

100 мкм(1)

10 мкм(1)

Максимальная высота (Z)

10 мкм(2)

3 мкм(1)

Разрешение по XY

0.006 нм(3)

0.0006 нм(3)

Разрешение по Z

0.0006 нм(3)

0.0002 нм(3)

Средняя ошибка линейности XY

< 0.1 %

XY-плоскостность при максимальном диапазоне сканирования

ср. 5 нм

ср. 1 нм

Уровень шума при измерениях по оси Z
(RMS, динамический режим, воздух)

ср. 0.03 нм

Размеры сканирующей головки

143 x 158 x 53 мм

Масса сканирующей головки

1.25 кг

Кантилевер

Ширина

мин. 20 мкм

Длина

мин. 40 мкм

Светоотражающее покрытие

рекомендуется

Измерения в жидких средах

да, с золотым покрытием

Резонансная частота динамической моды контроллера C3000i

< 4 МГц

Толщина чипа

300 мкм, 500 мкм или 600 мкм в зависимости от вида кантилевера


(1) – Допуск ± 5%
(2) – Допуск ± 10%
(3) – Максимальное расчетное разрешение


Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам
Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:
Похожее оборудование
DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов
Это результат многих лет исследований и самых последних разработок в области атомно-силовой микроскопии. Его отличает стабильная работа в любой среде, очень низкий уровень шума, получение изображений в высоком разрешении, большая область сканирования и полностью автоматизированная система, управляемая с помощью специально разработанного ПО.
Core AFM — лучшие возможности атомно-силовой микроскопии по доступной цене
Сочетание современного сканера, платформы для высокоточной навигации по образцу в плоскостях XYZ, активного виброизоляционного столика и защиты от воздушного потока
FlexAFM — один из самых универсальных и гибких в использовании сканирующих зондовых микроскопов
FlexAFM — ваш надежный инструмент для проведения топографических измерений и измерений метрологических характеристик как в воздушной среде, так и в жидкости
Сканирующий зондовый микроскоп Cytomass Monitor
Это единственный доступный в настоящее время исследовательский инструмент, позволяющий связать динамику клеточной массы с морфологией и состоянием клеток
Сканирующий зондовый микроскоп Alphacen 300
Alphacen 300 является серийно выпускаемым продуктом, результатом многих лет исследований и работы с индивидуальными заказами различных клиентов
Сканирующий зондовый микроскоп LensAFM
Данный блок может быть установлен как обычный объектив, что автоматически повышает разрешающую способность и другие измерительные возможности этих приборов
Сканирующий зондовый микроскоп NaniteAFM
NaniteAFM от Nanosurf позволяет проводить исследование и контроль высокотехнологичных поверхностей многих образцов, вне зависимости от их типа и размера
Сканирующий зондовый микроскоп NaioAFM
NaioAFM позволяет новым пользователям получать качественные АСМ снимки всего через 2 часа с начала работы
Сканирующий зондовый микроскоп FluidFM
Модуль FluidFM (FPM) позволяет сочетать в себе возможности жидкостной силовой микроскопии (ЖСМ) с чувствительностью и точностью АСМ
Сканирующий туннельный микроскоп NaioSTM
NaioSTM – это сканирующий туннельный микроскоп, который выделяется простотой настройки, максимально понятным использованием и удобством транспортировки
Программное обеспечение Flex-ANA
Данная система Flex-ANA предназначена для исследования наномеханических свойств самых различных материалов
Nanosurf customizing
Поскольку атомно-силовые микроскопы продолжают находить все больше областей применения, особенно в промышленности (производственных процессах и контроле качества), стандартные решения часто не являются подходящими для решения поставленных задач
Зондовая система Fermi SPM
Новые СЗМ Fermi представляют собой компактные решения для сверхвысоковакуумных СЗМ в температурном диапазоне от 15 до 400 К
Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron
СЗМ Probe явлется компактным доступным завершенным решением для низкотемпературных СВВ СЗМ систем Omicron
Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT
Уникальный четырехточечный нанозонд с РЭМ колонной. Интеграция наноманипулятора на основе сканирующего зондового микроскопа и растровой электронной микроскопии
MULTISCAN Lab ScientaOmicron
Лаборатория MULTISCAN представляет собой инструмент, объединяющий различные методики анализа поверхности и работающие одновременно в одной области образца
Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1
Спустя год после присуждения Биннигу и Рореру Нобелевской премии в 1986 году компания Omicron представила первый сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп — легендарный UHV STM1
Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM
Метод низкотемпературной сканирующей туннельной микроскопии с момента выхода на рынок 15 лет назад в 1996 году остается востребованным в широком кругу научных областей
VT SPM
Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии
Large Sample SPM
СЗМ для больших образцов происходят от известных микроскопов VT серии и предлагают идеальное решение для больших образцов диаметром вплоть до 4 дюймов

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
sales@imc-systems.ru
Наш телефон
+7 (495) 374-04-01