Размер кадра, область сканирования 110 мкм
— Максимально 110 мкм
Диапазон по Z
— Максимально 22 мкм
— Разрешение по Z: 0.34 нм
— Разрешение по XY: 1.7 нм
— Ошибка нелинейности по XY: <0.6%
Шум
— Шум по Z (RMS, статический режим): 0.4 нм (макс: 0.55 нм)
— Шум по Z (RMS, динамический режим): 0.3 нм (макс: 0.55 нм)
Выравнивание кантилевера
— Автоматическое выравнивание кантилевера
Диапазон автоматического подвода
— 4.5 мм (2 мм ниже фокальной плоскости встроенной оптики)
Задать вопрос
Технические характеристики атомно-силового микроскопа (NanosurfNaniteAFM)