RU EN
Задать вопрос

Технические характеристики атомно-силового микроскопа (NanosurfNaniteAFM)

 

 

 

Размер кадра, область сканирования 110 мкм

—          Максимально 110 мкм

Диапазон по Z 

—          Максимально 22 мкм

—          Разрешение по Z: 0.34 нм

—          Разрешение по XY: 1.7 нм

—          Ошибка нелинейности по XY: <0.6%

Шум

—          Шум по Z (RMS, статический режим): 0.4 нм (макс: 0.55 нм)

—          Шум по Z (RMS, динамический режим): 0.3 нм (макс: 0.55 нм)

Выравнивание кантилевера 

—          Автоматическое выравнивание кантилевера

Диапазон автоматического подвода

—          4.5 мм (2 мм ниже фокальной плоскости встроенной оптики)

 

Закрыть

Задать вопрос

Технические характеристики атомно-силового микроскопа (NanosurfNaniteAFM)

    ФИО*
    Компания
    Телефон*
    Email*
    Напишите вопрос и наименование продукции*
    Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.