Описание оборудования
- совместим с микроскопами инвертированного типа;
- качественное сканирование, обеспечиваемое современными технологиями;
- сменные держатели кантилеверов обеспечиваются индивидуальный подход для различных задач;
- больше возможностей за счет сканирования в жидких средах.
Ключевым фактором успеха при исследованиях в области исследований живой материи является сочетание нескольких методов. В основе системы лежат сканирующая головка FlexAFM и контроллер C3000 с интерфейсным блоком I100. Благодаря этому и AFM от Nanosurf, вы можете сочетать атомно-силовую микроскопию в жидких средах, спектроскопию и различные наноманипуляции с высокотехнологичными оптическими методами, доступными для микроскопов инвертированного типа.
Модульный столик, различные держатели кантилеверов и гибкое программное обеспечение позволяют легко модернизировать систему для самых разнообразных целей исследований материалов и живой материи. Flex-FPM, например, отлично подходит для изучения клеток и наноманипуляций, а Flex-ANA – для автоматического наномеханического анализа. Кроме того для Flex-Bio доступны расширенные режимы, такие как MFM и KPFM, которые изначально были разработаны для системы Flex-Axiom. Автономный столик Flex-Bio совместно с Nanosurf Isostage и Acoustic Enclosure 300 позволяет проводить измерения, которым не нужен оптический доступ снизу (например, для спектроскопии образцов бактериородопсина), при этом в целом габариты и вес системы значительно уменьшаются.

Основные характеристики
Параметры сканирующей головки FlexAFM NIR |
NIR 110-мкм |
NIR 10-мкм |
---|---|---|
Режимы измерений |
Стандартные моды:
Температурная микроскопия:
Магнитные свойства:
Электрические свойства:
Механические свойства:
|
|
Класс лазера (длина волны) |
Класс 1М (850 нм) |
|
Максимальная высота чашки Петри |
9 мм (6 мм) |
|
Диапазон ручной регулировки |
30 мм |
|
Automatic approach range |
1.1 мм |
|
Диапазон автоматической регулировки |
100 мкм(1)
|
10 мкм(1)
|
Максимальная высота (Z) |
10 мкм(2)
|
3 мкм(1)
|
Разрешение по XY |
0.006 нм(3)
|
0.0006 нм(3)
|
Разрешение по Z |
0.0006 нм(3)
|
0.0002 нм(3)
|
Средняя ошибка линейности XY |
< 0.1 % |
|
XY-плоскостность при максимальном диапазоне сканирования |
ср. 5 нм |
ср. 1 нм |
Уровень шума при измерениях по оси Z |
ср. 0.03 нм |
|
Размеры сканирующей головки |
143 x 158 x 53 мм |
|
Масса сканирующей головки |
1.25 кг |
|
Кантилевер |
||
Ширина |
мин. 20 мкм |
|
Длина |
мин. 40 мкм |
|
Светоотражающее покрытие |
рекомендуется |
|
Измерения в жидких средах |
да, с золотым покрытием |
|
Резонансная частота динамической моды контроллера C3000i |
< 4 МГц |
|
Толщина чипа |
300 мкм, 500 мкм или 600 мкм в зависимости от вида кантилевера |
(1) – Допуск ± 5%
(2) – Допуск ± 10%
(3) – Максимальное расчетное разрешение
Сервис и ремонт измерительного оборудования
ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.
Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.