IMC SYSTEMS > Оборудование > DriveAFM — функциональность зондовой микроскопии без компромиссов

DriveAFM — функциональность зондовой микроскопии без компромиссов

Идеальное решение для получения качественных изображений поверхности сложных образцов, таких как различные наноструктуры, белки или полимерные структуры (например, ДНК), а также более крупных объектов (микрометрового масштаба).

Scanhead Drive AFM

Система DriveAFM

DriveAFM интегрирован с инвертированным оптическим микроскопом

В сканирующем зондовом микроскопе DriveAFM используются кантилеверы малого размера (10 мкм x 20 мкм вместо 27 мкм x 150 мкм), которых отличает пониженное гидродинамическое сопротивление, отличная чувствительность, значительно более высокая резонансная частота и широкая полоса пропускания. Это приводит к дополнительному улучшению качества изображения.

Фототермическое возбуждение колебаний кантилевера обеспечивает беспрецендентную стабильность, линейную частотную характеристику и широкий диапазон работы в воздушной и жидкой средах. Благодаря этому возможны измерения в нескольких частотных диапазонах, при больших скоростях. Кроме того, подобный метод нечувствителен к изменениям окружающей среды и расстояния до образца. Также измерения в жидких средах позволяют получить более качественные данные по сравнению с методом пьезоакустического возбуждения. А благодаря таким решениям Nanosurf, как Cytomass Monitor, FluidFM и Flex-ANA, сфера применения DriveAFM становится только шире.

DriveAFM – это первая полностью моторизованная система для АСМ (СЗМ), которая может быть интегрирована вместе с инвертированным оптическим микроскопом. Установка кантилевера, настройка двух источников света для системы обнаружения отклонения луча, системы фототермического возбуждения CleanDrive и фотодетектора полностью автоматизированы.

Функциональность

СЗМ DriveAFM раскрывает все свои возможности, когда дело касается исследований биологических объектов. Полная автоматизация позволяет перемещаться по образцу, не влияя на среду с регулируемой температурой. Система CleanDrive обеспечивает надежную настройку работы кантилевера в жидких средах. Ее стабильность при изменениях условий окружающей среды и высокая чувствительность кантилеверов малых размеров обеспечивают четкую визуализацию даже при длительном наблюдении.

Снимок с высоким разрешением двухцепочечной ДНК, адсорбированной на слюде в буферном растворе. Можно наблюдать несколько цепей, которые показывают характерный периодический узор.

Силовая карта живых клеток фибробластов при 37 ° C (совмещена со снимком, полученным методом дифференциально-интерференционного контраста)

Окрашивание фаз (АСМ снимок комбинируется со снимком, полученным методом дифференциально-интерференционного контраста)

Также DriveAFM сочетает в себе производительность и функциональность для исследований свойств простых материалов. Помимо получения различных изображений поверхности образцов система позволяет проводить оценку электрических (например, C-AFM, KPFM или PFM) или наномеханических свойств объектов. Различные дополнения, разработанные для DriveAFM, значительно расширяют его функционал: нагрев или охлаждение образца, приложение переменного магнитного поля, обнаружение слабых электрических токов и многое другое.

Атомно-силовая микроскопия с измерением тока (C-AFM) пленки оксида индия-олова (ITO)

MFM-изображение решетки Шакти при приложении различных магнитных полей в плоскости. Размер изображения: 8 мкм.

Стандартные моды	Магнитные свойства	Механические свойства
Контактная мода	Магнитно силовая микроскопия (MFM)	Силовая спектроскопия
Мода поперечных сил		Модуляция силы взаимодействия
Динамическая полуконтактная мода (теппинг режим)	Электрические свойства	Жесткость и упругость
Динамическая полуконтактная мода (теппинг режим)	Атомно-силовая микроскопия с измерением тока (C-AFM)	Адгезия
Мода отображения фаз	Пьезоэлектрическая силовая микроскопия (PFM)	Разложение и растяжение
	Электростатическая силовая микроскопия (EFM)	Силовое картирование
	Зондовая силовая микроскопия Кельвина (KPFM)	Литография и Наноманипуляции
		Электрохимическая атомно силовая микроскопия (EC-AFM)

Технические характеристики СЗМ

Площадь сканирования	ср. 100 мк х 100 мкм х 20 мкм мин. 95 мкм х 95 мкм х 18 мкм
Источник света для считывания	Низкокогерентный суперлюминесцентный (СЛД) 850 нм
Источник света CleanDrive	Лазер 785 нм
Пропускная способность фотодетектора	≥ 8 МГц
Стандартный / максимальный размер образцов	100 мм / 150 мм
Уровень шума при измерениях по оси Z (RMS, статический режим)	< 30 пм
Уровень шума при измерениях по оси Z (RMS, динамический режим)	< 30 пм

скачать PDF

Закрыть

Скачать PDF

DriveAFM — функциональность зондовой микроскопии без компромиссов

Функциональность

Технические характеристики СЗМ

Этот товар относится к следующим категориям:

Как купить?