Данный анализатор DFS30 оснащен инновационной технологией трехмерной регулировки фокуса. Это является важным этапом при переходе от неточных механических решений к блокам электронного управления, которые характеризуются минимальной погрешностью измерений и высокой их повторяемостью.
Измерения ARPES, особенно микро/нано ARPES, в сочетании с измерениями с высоким разрешением требуют оптимального выравнивания друг с другом фотонного пятна, образца и фокуса анализатора. Без подобной центровки получаемые результаты со временем проведения эксперимента могут только ухудшаться. Разработанный метод 3D корректировки позволяет автоматически смещать фокус анализатора на пятно излучения фотоэлектронов, оставляя образец и фотонное пятно статичными. Благодаря этому возможно сэкономить несколько часов на настройку приборов и увеличить эффективный срок службы образцов.
Стоит отметить, что представленная технология сверхточного управления положением фокуса на пятно излучения происходит благодаря динамическим таблицам линз для режимов отклонения, угла и пропускания. Эти таблицы рассчитываются в реальном времени на основе набора откалиброванных и регулируемых манипуляторов.
+7 (495) 374-04-01
Отправьте заявку на электронную почту:Задать вопрос
Электронный ARPES анализатор DFS30