Описание оборудования
- идеален для самых различных нужд и применений
- возможна автоматизация измерений
- подходит для работы с большими, тяжелыми или изогнутыми образцами
NaniteAFM от Nanosurf позволяет проводить исследование и контроль высокотехнологичных поверхностей многих образцов, вне зависимости от их типа и размера. В данной миниатюрной системе сочетаются возможность зондового сканирования, контроль поверхности двумя видеокамерами и моторизированный блок, для высокоточного позиционирования сканера. Для работы требуется лишь пространство для установки, около 300 см3.
В качестве крепления NaniteAFM используется пластина типа «ласточкин хвост». За счет специальных посадочных мест в приборе возможна быстрая и высокоточная установка кантилеверов, дополнительного лазерного выравнивания не требуется. Благодаря этому существенно сокращается время, затрачиваемое на проведение экспериментов.
Этой же цели служат два камеры с разрешением 2 мкм, встроенные в модуль. Одна из них дает изображение поверхности образца «сверху», позволяет найти на нем интересующие области и быстро расположить кантилевер прямо над ними. Благодаря второй камере можно увидеть образец под кантилевером «сбоку» (угол обзора – 45 о), что очень удобно при начальном приближении зонда к объекту (в пределах нескольких десятков микрометров).
Дополнительная экономия времени оператора может быть осуществлена за счет автоматизации работы NaniteAFM. Модуль имеет ряд встроенных в интерфейс сценариев для проведения измерений серий образцов. Анализ и создание отчетов также можно настроить.
NaniteAFM – это один из лучших приборов для проведения контроля образцов, получения информации о качестве их поверхностей в наномасштабе. Он одинаково подходит как для непрозрачных, так и для прозрачных образцов. Многие фирмы используют данный модуль для анализа поверхности различных стекол.

Основные характеристики
Модуль NaniteAFM |
110 мкм |
70 мкм |
25 мкм |
---|---|---|---|
Режимы измерений |
Стандартные моды:
Магнитные свойства:
Электрические свойства:
Механические свойства:
|
||
Максимальный диапазон сканирования (XY)(1) |
110 мкм |
70 мкм |
25 мкм |
Максимальная высота(1) |
22 мкм |
14 мкм |
5 мкм |
Средняя ошибка линейности XY |
< 0.6% |
< 1.2% |
< 0.7% |
Уровень шума при измерениях по оси Z (RMS, статический режим) |
ср. 350 пм / макс. 500 пм |
ср. 350 пм / макс. 500 пм |
ср. 80 пм / макс. 150 пм |
Уровень шума при измерениях по оси Z (RMS, динамический режим) |
ср. 90 пм / макс. 150 пм |
ср. 90 пм / макс. 150 пм |
ср. 30 пм / макс. 50 пм |
Установка кантилевера |
Выравнивание происходит автоматически, за счет специальных посадочных мест |
||
Мониторинг поверхности образца |
Две встроенных USB камеры:
вид «сверху»: цветная матрица 3.1 МП;
вид «сбоку»: монохромная матрица 1.3 МП |
||
Кантилевер |
|||
Ширина |
мин. 28 мкм |
||
Длина |
мин. 225 мкм |
||
Светоотражающее покрытие |
рекомендуется |
||
Измерения в жидких средах |
нет возможности |
||
Форма кантилеверов |
только одиночные, прямоугольного сечения |
||
Толщина чипа |
300 мкм |
||
(1) Допуск ±10% для 110 мкм, и ±15 % для 70 мкм и 25 мкм |
Сервис и ремонт измерительного оборудования
ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.
Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.