Главная Каталог Наука и нанотехнологии Сканирующая зондовая микроскопия Сканирующий зондовый микроскоп NaniteAFM

Сканирующая зондовая микроскопия

Сканирующий зондовый микроскоп NaniteAFM

Самый маленький модуль АСМ, который может быть интегрирован в любую пользовательскую систему

Позволяет проводить исследование и контроль высокотехнологичных поверхностей многих образцов, вне зависимости от их типа и размера

Заказать Узнать подробнее

Описание оборудования

Основные особенности:

идеален для самых различных нужд и применений
возможна автоматизация измерений
подходит для работы с большими, тяжелыми или изогнутыми образцами

NaniteAFM от Nanosurf позволяет проводить исследование и контроль высокотехнологичных поверхностей многих образцов, вне зависимости от их типа и размера. В данной миниатюрной системе сочетаются возможность зондового сканирования, контроль поверхности двумя видеокамерами и моторизированный блок, для высокоточного позиционирования сканера. Для работы требуется лишь пространство для установки, около 300 см³.

В качестве крепления NaniteAFM используется пластина типа «ласточкин хвост». За счет специальных посадочных мест в приборе возможна быстрая и высокоточная установка кантилеверов, дополнительного лазерного выравнивания не требуется. Благодаря этому существенно сокращается время, затрачиваемое на проведение экспериментов.

Этой же цели служат два камеры с разрешением 2 мкм, встроенные в модуль. Одна из них дает изображение поверхности образца «сверху», позволяет найти на нем интересующие области и быстро расположить кантилевер прямо над ними. Благодаря второй камере можно увидеть образец под кантилевером «сбоку» (угол обзора – 45 ^о), что очень удобно при начальном приближении зонда к объекту (в пределах нескольких десятков микрометров).

Дополнительная экономия времени оператора может быть осуществлена за счет автоматизации работы NaniteAFM. Модуль имеет ряд встроенных в интерфейс сценариев для проведения измерений серий образцов. Анализ и создание отчетов также можно настроить.

NaniteAFM – это один из лучших приборов для проведения контроля образцов, получения информации о качестве их поверхностей в наномасштабе. Он одинаково подходит как для непрозрачных, так и для прозрачных образцов. Многие фирмы используют данный модуль для анализа поверхности различных стекол.

Функциональность

Изображение (A) и статистический анализ (B) шероховатости поверхности стекла

Отображение фазового состава совместно с топографией поверхности.
Слева представлено исследование механических свойств резины.
Справа – изучение намагниченности в тонком слое пермаллоя

Изображение (A) и профиль по высоте (B) наноразмерных неровностей на стекле

Основные характеристики

Модуль NaniteAFM	110 мкм	70 мкм	25 мкм
Режимы измерений	Стандартные моды: • Контактная мода • Динамическая полуконтактная мода (теппинг режим) • Мода отображения фаз Магнитные свойства: • Магнитно силовая микроскопия (MFM) Электрические свойства: • Атомно-силовая микроскопия с измерением тока (C-AFM) • Электростатическая силовая микроскопия (EFM) • Сканирующая микроскопия сопротивления растекания (SSRM) Механические свойства: • Силовая спектроскопия • Модуляция силы взаимодействия • Силовое картирование • Литография и Наноманипуляции
Максимальный диапазон сканирования (XY)⁽¹⁾	110 мкм	70 мкм	25 мкм
Максимальная высота⁽¹⁾	22 мкм	14 мкм	5 мкм
Средняя ошибка линейности XY	< 0.6%	< 1.2%	< 0.7%
Уровень шума при измерениях по оси Z (RMS, статический режим)	ср. 350 пм / макс. 500 пм	ср. 350 пм / макс. 500 пм	ср. 80 пм / макс. 150 пм
Уровень шума при измерениях по оси Z (RMS, динамический режим)	ср. 90 пм / макс. 150 пм	ср. 90 пм / макс. 150 пм	ср. 30 пм / макс. 50 пм
Установка кантилевера	Выравнивание происходит автоматически, за счет специальных посадочных мест
Мониторинг поверхности образца	Две встроенных USB камеры: вид «сверху»: цветная матрица 3.1 МП; 4х-кратное опт. увеличение макс. разрешение ≈ 2.1 мкм и апертура ≈ 0.115 вид «сбоку»: монохромная матрица 1.3 МП
Кантилевер
Ширина	мин. 28 мкм
Длина	мин. 225 мкм
Светоотражающее покрытие	рекомендуется
Измерения в жидких средах	нет возможности
Форма кантилеверов	только одиночные, прямоугольного сечения
Толщина чипа	300 мкм
(1) Допуск ±10% для 110 мкм, и ±15 % для 70 мкм и 25 мкм

Узнать стоимость

Видео

NaniteAFM Large Custom Automated Translation Stage

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Качество и безопасность пищевых продуктов

Фармацевтическая промышленность

Экология

Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам

Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:

Зонды для АСМ

Аксессуары для АСМ

Расходные материалы
для АСМ и СЭМ

Компоненты для
сверхвысокого вакуума

Похожее оборудование

DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов

Это результат многих лет исследований и самых последних разработок в области атомно-силовой микроскопии. Его отличает стабильная работа в любой среде, очень низкий уровень шума, получение изображений в высоком разрешении, большая область сканирования и полностью автоматизированная система, управляемая с помощью специально разработанного ПО.

Core AFM — лучшие возможности атомно-силовой микроскопии по доступной цене

Сочетание современного сканера, платформы для высокоточной навигации по образцу в плоскостях XYZ, активного виброизоляционного столика и защиты от воздушного потока

FlexAFM — один из самых универсальных и гибких в использовании сканирующих зондовых микроскопов

FlexAFM — ваш надежный инструмент для проведения топографических измерений и измерений метрологических характеристик как в воздушной среде, так и в жидкости

Flex-Bio — универсальный АСМ для исследования живой материи

Данный атомно-силовой микроскоп для биологических исследований сочетает в себе универсальность и производительность

Сканирующий зондовый микроскоп Cytomass Monitor

Это единственный доступный в настоящее время исследовательский инструмент, позволяющий связать динамику клеточной массы с морфологией и состоянием клеток

Сканирующий зондовый микроскоп Alphacen 300

Alphacen 300 является серийно выпускаемым продуктом, результатом многих лет исследований и работы с индивидуальными заказами различных клиентов

Сканирующий зондовый микроскоп LensAFM

Данный блок может быть установлен как обычный объектив, что автоматически повышает разрешающую способность и другие измерительные возможности этих приборов

Сканирующий зондовый микроскоп NaioAFM

NaioAFM позволяет новым пользователям получать качественные АСМ снимки всего через 2 часа с начала работы

Сканирующий зондовый микроскоп FluidFM

Модуль FluidFM (FPM) позволяет сочетать в себе возможности жидкостной силовой микроскопии (ЖСМ) с чувствительностью и точностью АСМ

Сканирующий туннельный микроскоп NaioSTM

NaioSTM – это сканирующий туннельный микроскоп, который выделяется простотой настройки, максимально понятным использованием и удобством транспортировки

Программное обеспечение Flex-ANA

Данная система Flex-ANA предназначена для исследования наномеханических свойств самых различных материалов

Nanosurf customizing

Поскольку атомно-силовые микроскопы продолжают находить все больше областей применения, особенно в промышленности (производственных процессах и контроле качества), стандартные решения часто не являются подходящими для решения поставленных задач

Зондовая система Fermi SPM

Новые СЗМ Fermi представляют собой компактные решения для сверхвысоковакуумных СЗМ в температурном диапазоне от 15 до 400 К

Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron

СЗМ Probe явлется компактным доступным завершенным решением для низкотемпературных СВВ СЗМ систем Omicron

Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT

Уникальный четырехточечный нанозонд с РЭМ колонной. Интеграция наноманипулятора на основе сканирующего зондового микроскопа и растровой электронной микроскопии

MULTISCAN Lab ScientaOmicron

Лаборатория MULTISCAN представляет собой инструмент, объединяющий различные методики анализа поверхности и работающие одновременно в одной области образца

Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1

Спустя год после присуждения Биннигу и Рореру Нобелевской премии в 1986 году компания Omicron представила первый сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп — легендарный UHV STM1

Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM

Метод низкотемпературной сканирующей туннельной микроскопии с момента выхода на рынок 15 лет назад в 1996 году остается востребованным в широком кругу научных областей

VT SPM

Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии

Large Sample SPM

СЗМ для больших образцов происходят от известных микроскопов VT серии и предлагают идеальное решение для больших образцов диаметром вплоть до 4 дюймов