Сканирующий зондовый микроскоп LensAFM

   Атомно-силовой микроскоп Nanosurf LensAFM позволяет проводить исследования тогда, когда возможности оптических микроскопов и 3D профилометров достигают своих пределов. Данный блок может быть установлен как обычный объектив, что автоматически повышает разрешающую способность и другие измерительные возможности этих приборов. При этом LensAFM предоставляет не только информацию о 3D топографии поверхности образцов, но и позволяет анализировать их физические свойства.

   В настоящее время все больше возникает ситуаций, когда для исследований недостаточно информации, получаемой методами оптической микроскопии. С одной стороны, оптические микроскопы выделяются за счет простоты использования, возможности скрининга и минимальными требованиями по пробоподготовке. С другой, типичного 100-кратного объектива может быть недостаточно для получения достаточной информации об особенностях поверхности. Решение данной проблемы в обычной ситуации потребует наличия в лаборатории 2х специализированных приборов (оптического и атомно-силового микроскопов) и необходимости дополнительного перемещения образца. LensAFM позволяет оптимизировать данный процесс: за счет исключительно компактной конструкции и разработанного механизма крепления на микроскоп или профилометр, все, что вам нужно сделать, это повернуть револьверную головку прибора и запустить сканирование. Используется только один прибор, никаких дополнительных перемещений образцов.

   Комбинирование LensAFM с какой-либо оптической системой значительно повышает разрешение снимков и обеспечивает дополнительные возможности для проведения измерений и визуализации результатов.