Описание оборудования
Атомно-силовой микроскоп Nanosurf LensAFM позволяет проводить исследования тогда, когда возможности оптических микроскопов и 3D профилометров достигают своих пределов. Данный блок может быть установлен как обычный объектив, что автоматически повышает разрешающую способность и другие измерительные возможности этих приборов. При этом LensAFM предоставляет не только информацию о 3D топографии поверхности образцов, но и позволяет анализировать их физические свойства.
В настоящее время все больше возникает ситуаций, когда для исследований недостаточно информации, получаемой методами оптической микроскопии. С одной стороны, оптические микроскопы выделяются за счет простоты использования, возможности скрининга и минимальными требованиями по пробоподготовке. С другой, типичного 100-кратного объектива может быть недостаточно для получения достаточной информации об особенностях поверхности. Решение данной проблемы в обычной ситуации потребует наличия в лаборатории 2х специализированных приборов (оптического и атомно-силового микроскопов) и необходимости дополнительного перемещения образца. LensAFM позволяет оптимизировать данный процесс: за счет исключительно компактной конструкции и разработанного механизма крепления на микроскоп или профилометр, все, что вам нужно сделать, это повернуть револьверную головку прибора и запустить сканирование. Используется только один прибор, никаких дополнительных перемещений образцов.
Комбинирование LensAFM с какой-либо оптической системой значительно повышает разрешение снимков и обеспечивает дополнительные возможности для проведения измерений и визуализации результатов.

Основные характеристики
Предметный столик |
|
---|---|
Режимы измерений |
Стандартные моды:
Магнитные свойства:
Электрические свойства:
Механические свойства:
|
Максимальный диапазон сканирования (XY) |
70 мкм (1)
|
Максимальная высота (Z) |
14 мкм (1)
|
Средняя ошибка линейности XY |
< 1.2% |
Уровень шума при измерениях по оси Z (RMS, статический режим, воздух) |
ср. 350 пм / макс. 500 пм |
Уровень шума при измерениях по оси Z (RMS, динамический режим, воздух) |
ср. 90 пм / макс. 150 пм |
Установка кантилевера |
автоматическая самонастройка |
Предустановка |
встроенный 8-кратный объектив |
Точность установки при АСМ измерениях |
±10 мкм |
Кантилевер |
|
Ширина |
мин. 20 мкм |
Длина |
мин. 40 мкм |
Светоотражающее покрытие |
рекомендуется |
Измерения в жидких средах |
Да, с золотым покрытием |
Толщина чипа |
300 мкм, 500 мкм или 600 мкм в зависимости от вида кантилевера |
(1) – Допуск ± 15%
Сервис и ремонт измерительного оборудования
ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.
Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.