Сканирующая зондовая микроскопия

Core AFM — лучшие возможности атомно-силовой микроскопии по доступной цене

Core AFM — лучшие возможности атомно-силовой микроскопии по доступной цене
Core AFM — лучшие возможности атомно-силовой микроскопии по доступной цене
Core AFM — лучшие возможности атомно-силовой микроскопии по доступной цене
Лучшие возможности атомно-силовой микроскопии по доступной цене
Это результат комбинирования основных компонентов АСМ для достижения максимальных универсальности и удобства использования

Описание оборудования

   Сочетание современного сканера, платформы для высокоточной навигации по образцу в плоскостях XYZ, активного виброизоляционного столика и защиты от воздушного потока позволило создать для целей атомно силовой микроскопии беспрецедентно компактное и многофункциональное устройство.

   В зависимости от комплектации 32 стандартных и дополнительных режима с полностью совместимыми надстройками делают CoreAFM предпочтительным как для исследований структуры различных материалов, так и для изучения биологических сред и электрохимических реакций. Начиная с базовой версии, область применения CoreAFM может быть легко расширена. В систему можно легко добавить такие функции, как нагрев образца, контроль параметров окружающей среды, создание различных сценариев и т.д. Примеры приведены в таблице и на обзорной диаграмме.

Функциональность
01
Spike-Guard
02
Топология графена в виде хлопьев (АСМ)
03
Ниобат лития (ПСМ)

Основные характеристики

Режимы измерений: Стандартные моды:

  • - Контактная мода

  • - Мода поперечных сил

  • - Динамическая полуконтактная мода (теппинг режим)

  • - Мода отображения фаз


  • Магнитные свойства:

  • - Магнитно силовая микроскопия (MFM)


  • Электрические свойства:

  • - Атомно-силовая микроскопия с измерением тока (C-AFM)

  • - Пьезоэлектрическая силовая микроскопия (PFM)

  • - Электростатическая силовая микроскопия (EFM)

  • - Зондовая силовая микроскопия Кельвина (KPFM)


  • Механические свойства:

  • - Силовая спектроскопия

  • - Модуляция силы взаимодействия

  • - Жесткость и упругость

  • - Адгезия

  • - Силовое картирование

  • - Литография и Наноманипуляции

  • - Электрохимическая атомно силовая микроскопия (EC-AFM)

  • - Микроманипуляции и растяжение
  • Сканер

    Максимальный диапазон сканирования (XY)

    100 мкм(1)

    плоскостность < 5 нм

    Максимальная высота (Z)

    12 мкм(2)

    замкнутый цикл

    Шум детектора (RMS)

    ср. 60 пм

    макс. 100 пм

    Шум сенсора (RMS)

    ср. 180 пм

    макс. 250 пм

    Динмамический шум (RMS)

    ср. 40 пм

    макс. 70 пм

    Статический шум (RMS)

    ср. 100 пм

    макс. 200 пм

    Кантилевер

    Ширина

    мин. 20 мкм

    Длина

    мин. 40 мкм

    Светоотражающее покрытие

    рекомендуется

    Измерения в жидких средах

    да, с золотым покрытием

    Толщина чипа

    300 мкм, 500 мкм или 600 мкм в зависимости от вида кантилевера


    Видео
    Nanosurf CoreAFM Overview and Tutorial

    Расходные материалы и аксессуары

    К расходным материалам и аксессуарам
    Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:
    Похожее оборудование
    DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов
    Это результат многих лет исследований и самых последних разработок в области атомно-силовой микроскопии. Его отличает стабильная работа в любой среде, очень низкий уровень шума, получение изображений в высоком разрешении, большая область сканирования и полностью автоматизированная система, управляемая с помощью специально разработанного ПО.
    FlexAFM — один из самых универсальных и гибких в использовании сканирующих зондовых микроскопов
    FlexAFM — ваш надежный инструмент для проведения топографических измерений и измерений метрологических характеристик как в воздушной среде, так и в жидкости
    Flex-Bio — универсальный АСМ для исследования живой материи
    Данный атомно-силовой микроскоп для биологических исследований  сочетает в себе универсальность и производительность
    Сканирующий зондовый микроскоп Cytomass Monitor
    Это единственный доступный в настоящее время исследовательский инструмент, позволяющий связать динамику клеточной массы с морфологией и состоянием клеток
    Сканирующий зондовый микроскоп Alphacen 300
    Alphacen 300 является серийно выпускаемым продуктом, результатом многих лет исследований и работы с индивидуальными заказами различных клиентов
    Сканирующий зондовый микроскоп LensAFM
    Данный блок может быть установлен как обычный объектив, что автоматически повышает разрешающую способность и другие измерительные возможности этих приборов
    Сканирующий зондовый микроскоп NaniteAFM
    NaniteAFM от Nanosurf позволяет проводить исследование и контроль высокотехнологичных поверхностей многих образцов, вне зависимости от их типа и размера
    Сканирующий зондовый микроскоп NaioAFM
    NaioAFM позволяет новым пользователям получать качественные АСМ снимки всего через 2 часа с начала работы
    Сканирующий зондовый микроскоп FluidFM
    Модуль FluidFM (FPM) позволяет сочетать в себе возможности жидкостной силовой микроскопии (ЖСМ) с чувствительностью и точностью АСМ
    Сканирующий туннельный микроскоп NaioSTM
    NaioSTM – это сканирующий туннельный микроскоп, который выделяется простотой настройки, максимально понятным использованием и удобством транспортировки
    Программное обеспечение Flex-ANA
    Данная система Flex-ANA предназначена для исследования наномеханических свойств самых различных материалов
    Nanosurf customizing
    Поскольку атомно-силовые микроскопы продолжают находить все больше областей применения, особенно в промышленности (производственных процессах и контроле качества), стандартные решения часто не являются подходящими для решения поставленных задач
    Зондовая система Fermi SPM
    Новые СЗМ Fermi представляют собой компактные решения для сверхвысоковакуумных СЗМ в температурном диапазоне от 15 до 400 К
    Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron
    СЗМ Probe явлется компактным доступным завершенным решением для низкотемпературных СВВ СЗМ систем Omicron
    Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT
    Уникальный четырехточечный нанозонд с РЭМ колонной. Интеграция наноманипулятора на основе сканирующего зондового микроскопа и растровой электронной микроскопии
    MULTISCAN Lab ScientaOmicron
    Лаборатория MULTISCAN представляет собой инструмент, объединяющий различные методики анализа поверхности и работающие одновременно в одной области образца
    Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1
    Спустя год после присуждения Биннигу и Рореру Нобелевской премии в 1986 году компания Omicron представила первый сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп — легендарный UHV STM1
    Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM
    Метод низкотемпературной сканирующей туннельной микроскопии с момента выхода на рынок 15 лет назад в 1996 году остается востребованным в широком кругу научных областей
    VT SPM
    Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии
    Large Sample SPM
    СЗМ для больших образцов происходят от известных микроскопов VT серии и предлагают идеальное решение для больших образцов диаметром вплоть до 4 дюймов

    Сервис и ремонт измерительного оборудования

    Выезд сервис-инженера
    В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
    Сервисный договор
    Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
    Диагностика и ремонт
    Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
    Гарантия и качество
    Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
    Сервис оборудования

    ФОРМА ДЛЯ
    ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

    Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

    Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

    Наша почта
    sales@imc-systems.ru
    Наш телефон
    +7 (495) 374-04-01