Главная Каталог Наука и нанотехнологии Сканирующая зондовая микроскопия Core AFM — лучшие возможности атомно-силовой микроскопии по доступной цене

Сканирующая зондовая микроскопия

Core AFM — лучшие возможности атомно-силовой микроскопии по доступной цене

Лучшие возможности атомно-силовой микроскопии по доступной цене

Это результат комбинирования основных компонентов АСМ для достижения максимальных универсальности и удобства использования

Заказать Узнать подробнее

Описание оборудования

Сочетание современного сканера, платформы для высокоточной навигации по образцу в плоскостях XYZ, активного виброизоляционного столика и защиты от воздушного потока позволило создать для целей атомно силовой микроскопии беспрецедентно компактное и многофункциональное устройство.

В зависимости от комплектации 32 стандартных и дополнительных режима с полностью совместимыми надстройками делают CoreAFM предпочтительным как для исследований структуры различных материалов, так и для изучения биологических сред и электрохимических реакций. Начиная с базовой версии, область применения CoreAFM может быть легко расширена. В систему можно легко добавить такие функции, как нагрев образца, контроль параметров окружающей среды, создание различных сценариев и т.д. Примеры приведены в таблице и на обзорной диаграмме.

Функциональность

Spike-Guard

Топология графена в виде хлопьев (АСМ)

Ниобат лития (ПСМ)

Основные характеристики

Режимы измерений:	Стандартные моды: - Контактная мода - Мода поперечных сил - Динамическая полуконтактная мода (теппинг режим) - Мода отображения фаз Магнитные свойства: - Магнитно силовая микроскопия (MFM) Электрические свойства: - Атомно-силовая микроскопия с измерением тока (C-AFM) - Пьезоэлектрическая силовая микроскопия (PFM) - Электростатическая силовая микроскопия (EFM) - Зондовая силовая микроскопия Кельвина (KPFM) Механические свойства: - Силовая спектроскопия - Модуляция силы взаимодействия - Жесткость и упругость - Адгезия - Силовое картирование - Литография и Наноманипуляции - Электрохимическая атомно силовая микроскопия (EC-AFM) - Микроманипуляции и растяжение
Сканер
Максимальный диапазон сканирования (XY)	100 мкм⁽¹⁾	плоскостность < 5 нм
Максимальная высота (Z)	12 мкм⁽²⁾	замкнутый цикл
Шум детектора (RMS)	ср. 60 пм	макс. 100 пм
Шум сенсора (RMS)	ср. 180 пм	макс. 250 пм
Динмамический шум (RMS)	ср. 40 пм	макс. 70 пм
Статический шум (RMS)	ср. 100 пм	макс. 200 пм
Кантилевер
Ширина	мин. 20 мкм
Длина	мин. 40 мкм
Светоотражающее покрытие	рекомендуется
Измерения в жидких средах	да, с золотым покрытием
Толщина чипа	300 мкм, 500 мкм или 600 мкм в зависимости от вида кантилевера

Узнать стоимость

Видео

Nanosurf CoreAFM Overview and Tutorial

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Качество и безопасность пищевых продуктов

Фармацевтическая промышленность

Экология

Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам

Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:

Зонды для АСМ

Аксессуары для АСМ

Расходные материалы
для АСМ и СЭМ

Компоненты для
сверхвысокого вакуума

Похожее оборудование

DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов

Это результат многих лет исследований и самых последних разработок в области атомно-силовой микроскопии. Его отличает стабильная работа в любой среде, очень низкий уровень шума, получение изображений в высоком разрешении, большая область сканирования и полностью автоматизированная система, управляемая с помощью специально разработанного ПО.

FlexAFM — один из самых универсальных и гибких в использовании сканирующих зондовых микроскопов

FlexAFM — ваш надежный инструмент для проведения топографических измерений и измерений метрологических характеристик как в воздушной среде, так и в жидкости

Flex-Bio — универсальный АСМ для исследования живой материи

Данный атомно-силовой микроскоп для биологических исследований сочетает в себе универсальность и производительность

Сканирующий зондовый микроскоп Cytomass Monitor

Это единственный доступный в настоящее время исследовательский инструмент, позволяющий связать динамику клеточной массы с морфологией и состоянием клеток

Сканирующий зондовый микроскоп Alphacen 300

Alphacen 300 является серийно выпускаемым продуктом, результатом многих лет исследований и работы с индивидуальными заказами различных клиентов

Сканирующий зондовый микроскоп LensAFM

Данный блок может быть установлен как обычный объектив, что автоматически повышает разрешающую способность и другие измерительные возможности этих приборов

Сканирующий зондовый микроскоп NaniteAFM

NaniteAFM от Nanosurf позволяет проводить исследование и контроль высокотехнологичных поверхностей многих образцов, вне зависимости от их типа и размера

Сканирующий зондовый микроскоп NaioAFM

NaioAFM позволяет новым пользователям получать качественные АСМ снимки всего через 2 часа с начала работы

Сканирующий зондовый микроскоп FluidFM

Модуль FluidFM (FPM) позволяет сочетать в себе возможности жидкостной силовой микроскопии (ЖСМ) с чувствительностью и точностью АСМ

Сканирующий туннельный микроскоп NaioSTM

NaioSTM – это сканирующий туннельный микроскоп, который выделяется простотой настройки, максимально понятным использованием и удобством транспортировки

Программное обеспечение Flex-ANA

Данная система Flex-ANA предназначена для исследования наномеханических свойств самых различных материалов

Nanosurf customizing

Поскольку атомно-силовые микроскопы продолжают находить все больше областей применения, особенно в промышленности (производственных процессах и контроле качества), стандартные решения часто не являются подходящими для решения поставленных задач

Зондовая система Fermi SPM

Новые СЗМ Fermi представляют собой компактные решения для сверхвысоковакуумных СЗМ в температурном диапазоне от 15 до 400 К

Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron

СЗМ Probe явлется компактным доступным завершенным решением для низкотемпературных СВВ СЗМ систем Omicron

Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT

Уникальный четырехточечный нанозонд с РЭМ колонной. Интеграция наноманипулятора на основе сканирующего зондового микроскопа и растровой электронной микроскопии

MULTISCAN Lab ScientaOmicron

Лаборатория MULTISCAN представляет собой инструмент, объединяющий различные методики анализа поверхности и работающие одновременно в одной области образца

Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1

Спустя год после присуждения Биннигу и Рореру Нобелевской премии в 1986 году компания Omicron представила первый сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп — легендарный UHV STM1

Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM

Метод низкотемпературной сканирующей туннельной микроскопии с момента выхода на рынок 15 лет назад в 1996 году остается востребованным в широком кругу научных областей

VT SPM

Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии

Large Sample SPM

СЗМ для больших образцов происходят от известных микроскопов VT серии и предлагают идеальное решение для больших образцов диаметром вплоть до 4 дюймов