О нас
Новости
Партнеры
Контакты
Карьера
Сервис
Испытательно оборудование
E-SHOP
+7 (495) 374-04-01
RU
EN
Научное и аналитическое оборудование
Антивибрационные решения для науки и промышленности
Сканирующие зондовые микроскопы Nanosurf
Ближнепольная микроскопия и спектроскопия NEASPEC
Микроскопия высокого разрешения STED
Наноинденторы
Голографические микроскопы и профилометры
Оптические пинцеты Lumicks
Визуализирующие эллипсометры и микроскопы Брюстера
Универсальные испытательные машины
Вакуумное и криогенное оборудование
Криомагнитное оборудование CRYOGENIC
Электронная спектроскопия ScientaOmicron
Молекулярно-лучевая эпитаксия
Источники ScientaOmicron
Диэлектрическая и импедансная спектроскопия
Сканирующие зондовые микроскопы ScientaOmicron
Компоненты для сверхвысковакуумного оборудования
Оборудование для экологического мониторинга
Оборудование для измерения концентраций пыли и размеров частиц
Вспомогательное оборудование
Ольфактометрическое оборудование
Переносное и портативное оборудование
Оборудование для контроля качества воды
Оборудование для мониторинга атмосферного воздуха
Системы непрерывного мониторинга выбросов предприятий
Передвижные и стационарные комплексы экологического мониторинга
Контроль технологических процессов и выбросов
Поточный анализ в металлургии
Оборудование для анализа в нефтехимии и нефтепереработке
Газоанализаторы для добычи и переработки природного газа
Газоанализаторы для мусоросжигательных заводов
Анализ и мониторинг в энергогенерации
IMC SYSTEMS
> Установки измерения дефектности пластин
Товары по теме
KLA-Tencor Candela CS920
Установка автоматического контроля дефектности пластин и подложек на различных стадиях производства: на стадии подготовки подложки, эпитаксии и других.
KLA-Tencor Surfscan SP2XP
Unpatterned wafer surface quality inspection system
KLA-Tencor ICOS WI 2280
Установка автоматического контроля топологии
KLA-Tencor Surfscan 6400
Установка автоматического контроля дефектности полупроводниковых пластин и функциональных слоев без топологии
KLA-Tencor Candela 8720
Установка автоматического контроля дефектности полупроводниковых пластин и прозрачных материалов без топологии
KLA-Tencor Candela 8400
Установка автоматического контроля дефектности полупроводниковых пластин и функциональных слоев без топологии