О компании
Новости
Партнеры
Контакты
Карьера в IMC
Сервис
Практика применения
FOLLOW US ON
+7 (495) 374-04-01
Отраслевые решения
Материаловедение Наука о поверхности Химия и элементный анализ Физические свойства материалов Электрические свойства материалов Метрология высокоточных производств
Биология и медицина Экологический мониторинг воздуха Экологический мониторинг воды Экологический мониторинг в промышленности
IMC SYSTEMS > Установки измерения дефектности пластин

Товары по теме

KLA-Tencor Surfscan SP2XP
Unpatterned wafer surface quality inspection system
KLA-Tencor Candela CS920
Установка автоматического контроля дефектности пластин и подложек на различных стадиях производства: на стадии подготовки подложки, эпитаксии и других.
KLA-Tencor ICOS WI 2280
Установка автоматического контроля топологии
KLA-Tencor Surfscan 6400
Установка автоматического контроля дефектности полупроводниковых пластин и функциональных слоев без топологии
KLA-Tencor Candela 8720
Установка автоматического контроля дефектности полупроводниковых пластин и прозрачных материалов без топологии
KLA-Tencor Candela 8400
Установка автоматического контроля дефектности полупроводниковых пластин и функциональных слоев без топологии
Тел/факс: +7 (495) 374-04-01 | E-mail:sales@imc-systems.ru | (C) Copyright 2016 IMC Group Ltd. | All Rights Reserved | Политика по защите персональных данных