О нас
Новости
Партнеры
Контакты
Карьера
Сервис
Испытательное оборудование
E-SHOP
+7 (495) 374-04-01
RU
EN
Наука и нанотехнологии
Хроматография и масс-спектрометрия
Молекулярный анализ
Термический анализ
Рентгеновская дифрактометрия
Импедансная спектроскопия
Анализаторы размеров частиц
Электронные микроскопы KYKY Technology
Ближнепольная микроскопия и спектроскопия NEASPEC
Визуализирующие эллипсометры и микроскопы Брюстера
Голографические микроскопы и профилометры
Сканирующие зондовые микроскопы Nanosurf
Сканирующие зондовые микроскопы ScientaOmicron
Электронная спектроскопия ScientaOmicron
Источники ScientaOmicron
Молекулярно-лучевая эпитаксия
Наноинденторы
Антивибрационные решения для науки и промышленности
Элементный и изотопный анализ
ИСП-АЭС EXPEC 6000
ИСП-АЭС EXPEC 6500
ИСП-МС SUPEC 7000
ИСП-МС/МС EXPEC 7350
Атомно-абсорбционные спектрофотометры
Энергодисперсионные рентгенофлуоресцентные спектрометры
Искровые оптико-эмиссионные спектрометры
Анализаторы углерода, водорода, азота, серы и галогенов
Системы пробоподготовки
Лабораторные системы для минерализации
Методики выполнения измерений
Оборудование для экологического мониторинга
Вспомогательное оборудование
Оборудование для измерения концентраций пыли и размеров частиц
Оборудование для контроля качества воды
Оборудование для мониторинга атмосферного воздуха
Ольфактометрическое оборудование
Передвижные и стационарные комплексы экологического мониторинга
Переносное и портативное оборудование
Системы непрерывного мониторинга выбросов предприятий
Контроль технологических процессов и выбросов
Анализ и мониторинг в энергогенерации
Газоанализаторы для добычи и переработки природного газа
Газоанализаторы для мусоросжигательных заводов
Оборудование для анализа в нефтехимии и нефтепереработке
Поточный анализ в металлургии
IMC SYSTEMS
> Установки измерения дефектности пластин
Товары по теме
KLA-Tencor Candela CS920
Установка автоматического контроля дефектности пластин и подложек на различных стадиях производства: на стадии подготовки подложки, эпитаксии и других.
KLA-Tencor Surfscan SP2XP
Unpatterned wafer surface quality inspection system
KLA-Tencor ICOS WI 2280
Установка автоматического контроля топологии
KLA-Tencor Surfscan 6400
Установка автоматического контроля дефектности полупроводниковых пластин и функциональных слоев без топологии
KLA-Tencor Candela 8720
Установка автоматического контроля дефектности полупроводниковых пластин и прозрачных материалов без топологии
KLA-Tencor Candela 8400
Установка автоматического контроля дефектности полупроводниковых пластин и функциональных слоев без топологии
