RU EN
Задать вопрос

Модули для спектроскопии и визуализации

Конструкция ближнепольных микроскопов компании Neaspec разработана так, чтобы предоставлять полный оптический доступ к сканирующему зонду и иметь два канала получения информации (например, для проведения съемки и спектроскопических исследований). Стоит отметить, что для работы также потребуется блок для ближнепольной подсветки: в видимом (VIS), ближнем (NIR), среднем (MID) или терагерцовом (ТГц) диапазонах.

Блок регистрации отраженного света:

  • запатентованная технология проведения измерений без учета фона
  • система оптимизирована для проведения измерений в высоком разрешении
  • подходит для видимого и инфракрасного диапазонов длин волн (0.5 — 20 мкм)
  • доступна версия для инфракрасного и ТГц диапазонов длин волн (5 — 300 мкм)
  • скорость АСМ сканирования: до 20 мкм/с при самом высоком разрешении

Блок регистрации проходящего света:

  • запатентованная технология проведения измерений без учета фона
  • освещение образца происходит «снизу»
  • требуется прозрачная подложка для образца
  • автоматизированная юстировка луча
  • регулируемый размер светового пятна: 2-100 мкм
  • система оптимизирована для проведения измерений в высоком разрешении
  • подходит для видимого и инфракрасного диапазонов длин волн (0.5 — 20 мкм)
  • скорость АСМ сканирования: до 20 мкм/с при самом высоком разрешении

ИК-Фурье спектроскопия (nano-FTIR):

  • запатентованная технология проведения измерений без учета фона
  • система оптимизирована для проведения измерений в высоком разрешении
  • стандартное спектральное разрешение 6.4 см-1
  • доступна модернизация разрешения до 3 см-1
  • подходит для видимого и инфракрасного диапазонов длин волн (0.5 — 20 мкм)
  • можно использовать ИК источники синхротронов
Закрыть

Задать вопрос

Модули для спектроскопии и визуализации

ФИО*
Компания
Телефон*
Email*
Напишите вопрос и наименование продукции*
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.