Платформа для ближнепольной микроскопии neaSNOM

Заказать

Описание оборудования

Данная модульная система разработана для комплексного решения многих исследовательских задач. В зависимости от комплектации с помощью данного микроскопа возможны визуализация в высоком разрешении и спектроскопия в видимом (VIS-), ближнем инфракрасном (NIR-), среднем инфракрасном (MIR-) и терагерцовом (THz-) диапазонах

Основные характеристики

Модуль	Характеристики
VIS-NIR-MIR-THz лазер	Широкополосные источники света: 600-1100 нм, 2.5-15.4 мкм, 0.1-3.0 ТГцЛазер накачки при сверхбыстрой спектроскопии: 488-640 нм (< 1 пс), 830-1100 нм (< 200 фс), 980-1400 нм (< 25 фс), 780 нм (< 100 фс), 1570 нм (< 40 фс)
VIS лазер	Настраиваемая длина волны, например: 532 нм, 632 нм, 785 нм
NIR лазер	Настраиваемая длина волны, например: 1064 нм, 1550 нм, 1520..1630 нм
MIR-IR лазер	Настраиваемая длина волны, например: 4..12 мкм
Модуль для визуализации в наномасштабе (NIM)
Модуль для измерения параметров пропускания/отражения света
Модуль для инфракрасной (nano-FTIR) спектроскопии (NSM)

Узнать стоимость

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Качество и безопасность пищевых продуктов

Фармацевтическая промышленность

Экология

Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам

Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:

Зонды для АСМ

Аксессуары для АСМ

Расходные материалы
для АСМ и СЭМ

Компоненты для
сверхвысокого вакуума

Похожее оборудование

Ближнепольные микроскопы cryo-neaSNOM

Это первое в мире устройство, позволяющее при температурах <10 К получать снимки в высоком разрешении

Модули для спектроскопии и визуализации

Конструкция ближнепольных микроскопов компании Neaspec разработана так, чтобы предоставлять полный оптический доступ к сканирующему зонду и иметь два канала получения информации

Источники VIS, NIR, MIR и THz света

В зависимости от источника подсветки ближнепольные микроскопы neaSNOM используются для анализа химических, структурных и электронных свойств органических и неорганических материалов