Конструкция ближнепольных микроскопов компании Neaspec разработана так, чтобы предоставлять полный оптический доступ к сканирующему зонду и иметь два канала получения информации (например, для проведения съемки и спектроскопических исследований). Стоит отметить, что для работы также потребуется блок для ближнепольной подсветки: в видимом (VIS), ближнем (NIR), среднем (MID) или терагерцовом (ТГц) диапазонах.
Описание оборудования
Основные характеристики
|
Блок регистрации отраженного света |
запатентованная технология проведения измерений без учета фона |
|---|---|
|
система оптимизирована для проведения измерений в высоком разрешении |
|
|
подходит для видимого и инфракрасного диапазонов длин волн (0.5 — 20 мкм) |
|
|
доступна версия для инфракрасного и ТГц диапазонов длин волн (5 — 300 мкм) |
|
|
скорость АСМ сканирования: до 20 мкм/с при самом высоком разрешении |
|
|
Блок регистрации проходящего света |
запатентованная технология проведения измерений без учета фона |
|
освещение образца происходит «снизу» |
|
|
требуется прозрачная подложка для образца |
|
|
автоматизированная юстировка луча |
|
|
регулируемый размер светового пятна: 2-100 мкм |
|
|
система оптимизирована для проведения измерений в высоком разрешении |
|
|
подходит для видимого и инфракрасного диапазонов длин волн (0.5 — 20 мкм) |
|
|
скорость АСМ сканирования: до 20 мкм/с при самом высоком разрешении |
|
|
ИК-Фурье спектроскопия (nano-FTIR) |
запатентованная технология проведения измерений без учета фона |
|
система оптимизирована для проведения измерений в высоком разрешении |
|
|
стандартное спектральное разрешение 6.4 см-1 |
|
|
доступна модернизация разрешения до 3 см-1 |
|
|
подходит для видимого и инфракрасного диапазонов длин волн (0.5 — 20 мкм) |
|
|
можно использовать ИК источники синхротронов |
Расходные материалы и аксессуары
К расходным материалам и аксессуарамМы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:
Платформа для ближнепольной микроскопии neaSNOM
Данная модульная система разработана для комплексного решения многих исследовательских задач
Ближнепольные микроскопы cryo-neaSNOM
Это первое в мире устройство, позволяющее при температурах <10 К получать снимки в высоком разрешении
Источники VIS, NIR, MIR и THz света
В зависимости от источника подсветки ближнепольные микроскопы neaSNOM используются для анализа химических, структурных и электронных свойств органических и неорганических материалов
Сервис и ремонт измерительного оборудования
Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.
Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.
Наша почта
sales@imc-systems.ru
Наш телефон
+7 (495) 374-04-01