Описание оборудования
Конструкция ближнепольных микроскопов компании Neaspec разработана так, чтобы предоставлять полный оптический доступ к сканирующему зонду и иметь два канала получения информации (например, для проведения съемки и спектроскопических исследований). Стоит отметить, что для работы также потребуется блок для ближнепольной подсветки: в видимом (VIS), ближнем (NIR), среднем (MID) или терагерцовом (ТГц) диапазонах.

Основные характеристики
Блок регистрации отраженного света |
запатентованная технология проведения измерений без учета фона |
---|---|
система оптимизирована для проведения измерений в высоком разрешении |
|
подходит для видимого и инфракрасного диапазонов длин волн (0.5 — 20 мкм) |
|
доступна версия для инфракрасного и ТГц диапазонов длин волн (5 — 300 мкм) |
|
скорость АСМ сканирования: до 20 мкм/с при самом высоком разрешении |
|
Блок регистрации проходящего света |
запатентованная технология проведения измерений без учета фона |
освещение образца происходит «снизу» |
|
требуется прозрачная подложка для образца |
|
автоматизированная юстировка луча |
|
регулируемый размер светового пятна: 2-100 мкм |
|
система оптимизирована для проведения измерений в высоком разрешении |
|
подходит для видимого и инфракрасного диапазонов длин волн (0.5 — 20 мкм) |
|
скорость АСМ сканирования: до 20 мкм/с при самом высоком разрешении |
|
ИК-Фурье спектроскопия (nano-FTIR) |
запатентованная технология проведения измерений без учета фона |
система оптимизирована для проведения измерений в высоком разрешении |
|
стандартное спектральное разрешение 6.4 см-1 |
|
доступна модернизация разрешения до 3 см-1 |
|
подходит для видимого и инфракрасного диапазонов длин волн (0.5 — 20 мкм) |
|
можно использовать ИК источники синхротронов |
Сервис и ремонт измерительного оборудования
ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.
Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.