Модули для спектроскопии и визуализации

Nanoscale Analytics (neaSpec) business unit @attocube

Заказать Задать вопрос специалисту

Описание оборудования

Конструкция ближнепольных микроскопов компании Neaspec разработана так, чтобы предоставлять полный оптический доступ к сканирующему зонду и иметь два канала получения информации (например, для проведения съемки и спектроскопических исследований). Стоит отметить, что для работы также потребуется блок для ближнепольной подсветки: в видимом (VIS), ближнем (NIR), среднем (MID) или терагерцовом (ТГц) диапазонах.

Основные характеристики

Блок регистрации отраженного света	запатентованная технология проведения измерений без учета фона
	система оптимизирована для проведения измерений в высоком разрешении
	подходит для видимого и инфракрасного диапазонов длин волн (0.5 — 20 мкм)
	доступна версия для инфракрасного и ТГц диапазонов длин волн (5 — 300 мкм)
	скорость АСМ сканирования: до 20 мкм/с при самом высоком разрешении
Блок регистрации проходящего света	запатентованная технология проведения измерений без учета фона
	освещение образца происходит «снизу»
	требуется прозрачная подложка для образца
	автоматизированная юстировка луча
	регулируемый размер светового пятна: 2-100 мкм
	система оптимизирована для проведения измерений в высоком разрешении
	подходит для видимого и инфракрасного диапазонов длин волн (0.5 — 20 мкм)
	скорость АСМ сканирования: до 20 мкм/с при самом высоком разрешении
ИК-Фурье спектроскопия (nano-FTIR)	запатентованная технология проведения измерений без учета фона
	система оптимизирована для проведения измерений в высоком разрешении
	стандартное спектральное разрешение 6.4 см^-1
	доступна модернизация разрешения до 3 см^-1
	подходит для видимого и инфракрасного диапазонов длин волн (0.5 — 20 мкм)
	можно использовать ИК источники синхротронов

Узнать стоимость

Области применения

Все области применения

Металлургия

Геология

Криминалистика

Качество и безопасность пищевых продуктов

Фармацевтическая промышленность

Экология

Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам

Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:

Расходные материалы для ИСП-АЭС

Расходные материалы для ААС

Расходные материалы для хроматографии

Расходные материалы для пробоподготовки

Расходные материалы для элементного анализа

Похожее оборудование

Платформа для ближнепольной микроскопии neaSNOM

Данная модульная система разработана для комплексного решения многих исследовательских задач.

Ближнепольные микроскопы cryo-neaSNOM

Это первое в мире устройство, позволяющее при температурах <10 К получать снимки в высоком разрешении.

Источники VIS, NIR, MIR и THz света

В зависимости от источника подсветки ближнепольные микроскопы neaSNOM используются для анализа химических, структурных и электронных свойств органических и неорганических материалов.