ВЕБИНАР по DHM

Компания «Промышленный мониторинг и контроль» совместно с Lyncee Tec SA (Швейцария) приглашает Вас и Ваших коллег посетить вебинар «Цифровые голографические микроскопы (DHM) Lyncee Tec. Возможности нового уникального метода 3D измерений в реальном времени», который состоится 20-го ноября 2013 года в 12:00 по московскому времени

Для регистрации на вебинар просим Вас пройти по ссылке. Участие бесплатно.

Вебинар будет посвящен обзору уникальной методики цифровой голографии измерения топографии поверхности в нано- и микро- диапазонах, принципиальному устройству оборудования, а так же его применению к конкретным измерительным задачам. Основные темы, которые будут освещены в ходе вебинара:

— Изображение поверхности в режиме реального времени с наноразмерным разрешением;

— Динамический анализ для МЭМС с частотой событий до 25 МГц;

— Простота и надежность получения результата;

— Возможности по интеграции в существующие измерительные стенды и производственные линии

В течение вебинара участники смогут задать интересующие их вопросы, связанные с технологией измерения поверхности в наноразмерной шкале.

Доступна запись вебинара. Запрос ссылки по email minin@imc-systems.ru

Категории оборудования

Все категории

Анализ физических свойств материалов

Анализ размеров частиц, свойств поверхности, термический анализ и реология.

Испытания материалов

Оборудование для испытания различных материалов от биологических тканей до современных высокопрочных сплавов на сжатие, циклическое нагружение, усталостную прочность, ударные, многоосевые, реологические воздействия, растяжение и кручение.

Наука и нанотехнологии

Более 10 лет наша компания занимается поставкой и обслуживанием уникального научного оборудования в области материаловедения, физики и химии. Уникальные комплексы для микроскопии, спектроскопии поверхности твердых тел, физики твердого тела и криомагнитных исследований.

Контроль технологических процессов и выбросов

Широкий выбор решений для газового анализа и анализа жидкости в промышленности.

Измерения геометрии и топологии

Контрольное и измерительное оборудование для электронной промышленности, обеспечивающее разнообразные технологические нормы, объемы производства и типы изделий электронной техники. Мы предлагаем оборудование для всех стадий производства электронных компонентов: от контроля чистых пластин и их обработки, до корпусирования и электрического тестирования готовых изделий.

Элементный и изотопный анализ

Определение элементного состава различных объектов является одним из самых востребованных видов анализа практически во всех областях науки и технологии производства. Наибольшую значимость элементный анализ имеет в таких областях, как металлургия, производство химических продукции — реагентов, удобрений, растворителей, лекарственных средств, производство ядерного топлива и полупроводниковых материалов.

Оборудование для экологического мониторинга

Оборудование и комплексные решения, от отдельного газоанализатора до передвижных и стационарных экологических постов (ПЭП, ПЭЛ, АСКЗА), систем мониторинга промышленных дымовых выбросов и сбросов сточных вод предприятий.

Хроматография и масс-спектрометрия

Это метод разделения и анализа смесей, основанный на распределении вещества между двумя фазами, подвижной и неподвижной. Наиболее современным типом детектора для хроматографа являются масс-спектрометрические детекторы, обладающие высочайшей чувствительностью, а также позволяющие устанавливать структуру неизвестных соединений по точной массе, а также картине фрагментации.

Молекулярный анализ

Инфракрасная спектроскопия с преобразованием Фурье (FTIR) исследует жидкие, твердые и газообразные объекты и предназначена для определения структуры молекул. В качестве прикладных задач возможны контроль качества сырья и продукции, определение содержания загрязняющих веществ в природных объектах, расшифровка состава сложных смесей. Широко используется в криминалистике, фармацевтике, полупроводниковой и атомной промышленности.