Промышленные стилусные профилометры Toho FP

   Профилометры фирмы Toho Technology Inc (Япония) имеют в своем составе запатентованный датчик KLA-Tencor.

   Модель Toho FP обеспечивают измерение профиля поверхности (полный профиль, высота ступенек, шероховатость, плоскостность, прогиб и др.) полупроводниковых пластин в широком диапазоне значений (от сотых нанометров до единиц микрон), с высокой степенью автоматизации (кассетная загрузка и сортировка) и для всех возможных типоразмеров.

   Стилусные профилометры Toho FP предлагаются для пластин (подложек) любого современного типоразмера. В оборудовании используется запатентованный сканирующего датчика KLA-Tencor, лучшую в своем классе.

   Стандартный L-образный стилус (2 мкм, 60 °) обеспечивает точное сканирование с контролем усилия воздействия наконечника на поверхность (0,5 до 15 мг), обеспечивая протяженность непрерывного сканирования до 90 мм со скоростью прохода до 25 мм/с. При этом воспроизводимость результатов измерений достигает 10 Å.

   Модель FP-10 предназначена для небольших партий, FP-20 – для крупносерийного производства.

   В модели Toho FP-10 сканирование поверхности обеспечивается за счет перемещения подвижного стола, что обеспечивает возможность измерений на пластинах размером до 400х500 мм.

   Для более крупных образцов предлагается версия FP-20, где перемещения совершает непосредственно сама сканирующая головка. Это позволяет минимизировать вибрации, возникающие при работе с массивными объектами.