Голографические микроскопы и профилометры

Оптический профилометр Profilm3D

Оптический профилометр Profilm3D
Оптический профилометр Profilm3D
Оптический профилометр Profilm3D
Оптический профилометр Profilm3D
Оптический профилометр Profilm3D
Оптический профилометр Profilm3D

Описание оборудования

   Оптические профилометры Profilm3D и Profilm3D-200 представляют собой доступные по цене бесконтактные системы анализа 3D-рельефа поверхности на основе интерферометрии белого света (WLI). Серия Profilm3D измеряет особенности поверхности в масштабе от нанометра до миллиметра, создавая изображения высокого разрешения и изображения TotalFocus™ (потрясающие 3D-изображения с естественными цветами, в которых каждый пиксель находится в фокусе). Простая и гибкая настройка, позволяющая выполнять однократное сканирование, или автоматические измерения на нескольких объектах — Profilm3D будет интересен как при фундаментальных исследованиях, так и при техническом контроле на производстве.

   В методе измерения, заложенном в Profilm3D, разрешение при измерениях по вертикали не зависит от числовой апертуры объектива, что позволяет выполнять их с большим полем зрения. Измеряемую площадь можно дополнительно увеличить, объединив несколько полей зрения в одно измерение.

   Profilm3D также имеет простой пользовательский интерфейс и несколько шаблонов работы, для быстрой настройки в зависимости от поставленных задач. Программный пакет Profilm® включает в себя передовые облачные веб-сервисы ProfilmOnline®, мобильные приложения для Android и iOS, а также передовое программное обеспечение Profilm для настольных ПК, обеспечивающее гибкие решения для хранения, визуализации и анализа данных.

   Оптический профилометр Profilm3D может выполнять широкий спектр измерений и приложений:

- поверхностная характеристика и планаризация полупроводниковых элементов, что позволит улучшить их характеристики и уменьшить процент выпускаемого брака;
- измерение высоты, компланарности и степени шероховатости полупроводниковых элементов, устанавливаемых по технологии Flip Chip;
- анализ дефектов (царапины, сколы, трещины и т.д.), измерение параметров шероховатости, высоты/глубины структуры, высоты ступеньки, характеризация текстуры и многое другое для элементов устройств хранения данных: жестких дисков, оптических и магнитных носителей информации;
- MEMS и элементы оптоэлектроники (кривизна микролинз, анализ линий, окружностей, углов измерение ширины и расстояния);
- автоматическая оценка глубины травления;
- оценка параметров материалов
Особенности профилометра

Profilm3D

- Автоматизированный столик XY имеет диапазон хода 100 мм x 100 мм (Profilm3D) и 200 мм x 200 мм (Profilm3D-200)

- Поддерживается автоматическая фокусировка (ход 100 мм)

- Наклонный столик имеет ход +/- 5°

- Объектив имеет 10-кратное увеличение и поле зрения шириной 2 мм

- Отличные повторяемость и воспроизводимость производимых измерений

- Усовершенствованное многоязычное программное обеспечение для анализа поверхностей, максимально информативное, обладающее впечатляющим функционалом, позволяющее максимально автоматизировать процесс работы

- Возможность автоматического определения шага и автосканирования, что может существенно упростить работу пользователей
Широчайший спектр специальных возможностей
- анализ топографии, оценка высоты ступеньки, текстуры и формы образца за счет полученных в высоком разрешении 3D изображений поверхности.

- оценка текстуры и степени шероховатости поверхностей

- анализ формы образцов и их степени изгиба

- исследование дефектов поверхности в высоким разрешением

- интерферометрия с вертикальным сканированием и фазовым сдвигом для измерения характеристик поверхности от нанометров до миллиметров

- автоматизированный столик XY  имеет большой диапазон перемещений и отлично подходит для картографирования и сшивания нескольких сканов

- интуитивно понятный программный пакет

- визуализация за счет пакета TotalFocus, обеспечивающая потрясающие изображения True Color с фокусом на каждом пикселе (даже на поверхностях с изменением высоты, превышающим глубину резкости объектива).

- и многое другое.

Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам
Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:
Похожее оборудование
Голографические профилометры отраженного света
Идеальные инструменты для точных измерений оптической топографии большого разнообразия образцов.
Голографические профилометры проходящего света
Являются единственными в своем роде оптическими профилометрами, предназначенными для инспекции поверхности в проходящем свете.
Оптический профилометр KLA Zeta-20
Настольный оптический профилометр, оснащенный запатентованной технологией ZDot и гибкой многорежимной оптикой для измерений 3D топографии поверхности, толщины пленок и автоматического контроля дефектов.
Оптический профилометр KLA Zeta-300
Оптический профилометр для работы с крупными образцами, оснащенный запатентованной технологией ZDot и гибкой многорежимной оптикой для измерений 3D топографии поверхности, толщины пленок и автоматического контроля дефектов.
Оптический профилометр KLA Zeta-388
Напольный оптический профилометр с кассетной загрузкой для автоматической инспекции и метрологии, оснащенный запатентованной технологией ZDot и гибкой многорежимной оптикой для измерений 3D топографии поверхности, толщины пленок и автоматического контроля дефектов.
Оптический профилометр KLA-Tencor MicroXAM-800
Интерферометр белого света (профилометр) для 3D анализа топологии поверхности.
Промышленные стилусные профилометры Toho FP
Датчик KLA-Tencor. Измерение профиля поверхности полупроводниковых пластин в широком диапазоне значений, с высокой степенью автоматизации.
Стилусный профилометр HRP-260
Стилусный профилометр KLA-Tencor HRP-260 для измерения профиля поверхности пластин до 200 мм.
Стилусный профилометр KLA-Tencor Alpha-Step D-500
Может быстро и качественно провести анализ 2D-топографии поверхности размером до 30 мм.
Стилусный профилометр KLA-Tencor Alpha-Step D-600
Отличается возможностью размещения 200 мм пластин, наличию сервопривода предметного стола и опцией измерения механических напряжений, возникающих после нанесения тонких пленок.
Стилусный профилометр KLA-Tencor P-7
Платформа среднего класса, которая сочетает в себе все превосходные функции сканирования, присущие бренду KLA Instruments, производительность и одну из самых доступных цен среди аналогов.
Стилусный профилометр KLA-Tencor P-17
Представляют серию профилометров, специально разработанных для обеспечения потребностей мелкосерийных производств в профессиональном контроле.
Стилусный профилометр KLA-Tencor P-170
Кассетный профилометр, позволяющий проводить измерения в диапазоне от нескольких нанометров до одного миллиметра сразу у нескольких образцов в режиме 24/7.

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
sales@imc-systems.ru
Наш телефон
+7 (495) 374-04-01