Вебинар JPK 22.03.2016

Приборы сканирующей зондовой микроскопии с момента изобретения стали широко используемым инструментом в научных лабораториях. Современные АСМ превосходят своих предшественнников в технических параметрах и предлагают новые уникальные опции. Немецкая фирма JPK рада представить Вашему вниманию прибор последнего поколения NanoWizard4a NanoScience, отвечающий все возрастающим требованиям научного сообщества к быстроте получения данных и простоте использования. Прибор отличается модульностью, так что в конструкцию легко интегрируются модули измерения механических, электрических и магнитных свойств объектов. В ходе вебинаре будет освещено, как создаются условия в установке для экспериментов по плавлению или заморозке, контроля влажности и работы в жидкости.
Еще одним важным пунктом программы является интреграция АСМ с оптическими методиками: конфокальным лазерным сканированием, сверхразрешающими и флюоресцентными методиками, Раман- и ближнепольной оптической микроскопией. Приборы JPK имеют схему сканирования кантилевером, единственно возможную для бескомпромиссного сочетания АСМ с оптическими методиками, а также уникальную программу обработки данных DirectOverlay, с помощью которой можно создавать гибриды изображений без оптических искажений.
Вебинар состоится 2 раза, пожалуйста, выберите удобное для Вас время:
- 13 апреля 2016 г., 10.00-11.00 по московскому времени
- 13 апреля 2016 г., 19.00-20.00 по московскому времени
Участие бесплатное, по предварительной регистрации по ссылке: registration
Вы можете скачать приграшение в формате pdf.
Категории оборудования
Все категории







