Уважаемые друзья и коллеги!
Компания «Промышленный мониторинг и контроль» совместно с Hysitron (США) приглашает Вас и Ваших коллег посетить вебинар
«Системы измерения механических и трибологических свойств Hysitron в наномасштабе. Уникальные возможности качественного и количественного анализа параметров деформации и разрушения микро и наноструктур в СЭМ и ПЭМ микроскопе»
который состоится 17-го декабря 2013 года в 12:00 по московскому времени.
Для регистрации на вебинар просим Вас пройти по ссылке Участие бесплатно.
Вебинар будет посвящен обзору методик наноиндентирования и трибологии для исследования характеристик твердости, механической прочности и пластичности материалов и покрытий, механизмов разрушения и деформации, адгезии, поверхностных и приграничных эффектов, реализованных в системах исследования наномеханических свойств компании Hysitron TI. Так же планируется знакомство с возможностями новейших систем для качественных и количественных измерений механических свойств индивидуальных нанообъектов и элементов структуры компактных материалов в системе сканирующего и просвечивающего микроскопов при визуализации в высоком разрешении. Применение инструментов Hysitron для решения конкретных практических задач и фундаментальных исследований.
Основные темы, которые будут освещены в ходе вебинара:
— Определение механических свойств при квазистатическом индентировании: основные принципы, технические особенности и преимущества
— Возможности in- situ визуализации, обработки данных и изображений систем TI
— Определение параметров трения и износа поверхности в наномасштабе, адгезионные исследования многослойных и тонкопленочных структур
— Обзор дополнительных возможностей и технических решений для измерений при нагреве образца, высоких нагрузках, в динамическом режиме и др.
— Технологии Hysitron PI- количественные механические испытания на изгиб, растяжение, сжатие индивидуальных нанообъектов в СЭМ и ПЭМ микроскопах. Возможности комплексного подхода к исследованию механизмов деформации и разрушения наноматериалов, определение параметров возникновения и перемещения точечных и линейных дефектов в микроструктурах в интеграции со встроенными опциями микроскопии и режимами визуализации в высоком разрешении;
— Применение технологий Хайзитрон для исследования свойств образцов различного состава и структуры для перспективных областей науки и техники
В течение вебинара участники смогут задать интересующие их вопросы, поделиться опытом и запросить дополнительную информацию по наиболее интересным направлениям.
Будем рады ответить на Ваши вопросы.
докладчик — Васильева Екатерина Сергеевна, доцент кафедры технологий исследования материалов, СПбГПУ, кандидат технических наук
