Вебинар Hysitron 28.11.2013

Главная О нас Новости Вебинары Вебинар Hysitron 28.11.2013

28 ноября 2013

Уважаемые друзья и коллеги!
Компания «Промышленный мониторинг и контроль» совместно с Hysitron (США) приглашает Вас и Ваших коллег посетить вебинар

«Системы измерения механических и трибологических свойств Hysitron в наномасштабе. Уникальные возможности качественного и количественного анализа параметров деформации и разрушения микро и наноструктур в СЭМ и ПЭМ микроскопе»

который состоится 17-го декабря 2013 года в 12:00 по московскому времени.

Для регистрации на вебинар просим Вас пройти по ссылке Участие бесплатно.

Вебинар будет посвящен обзору методик наноиндентирования и трибологии для исследования характеристик твердости, механической прочности и пластичности материалов и покрытий, механизмов разрушения и деформации, адгезии, поверхностных и приграничных эффектов, реализованных в системах исследования наномеханических свойств компании Hysitron TI. Так же планируется знакомство с возможностями новейших систем для качественных и количественных измерений механических свойств индивидуальных нанообъектов и элементов структуры компактных материалов в системе сканирующего и просвечивающего микроскопов при визуализации в высоком разрешении. Применение инструментов Hysitron для решения конкретных практических задач и фундаментальных исследований.

Основные темы, которые будут освещены в ходе вебинара:
— Определение механических свойств при квазистатическом индентировании: основные принципы, технические особенности и преимущества
— Возможности in- situ визуализации, обработки данных и изображений систем TI
— Определение параметров трения и износа поверхности в наномасштабе, адгезионные исследования многослойных и тонкопленочных структур
— Обзор дополнительных возможностей и технических решений для измерений при нагреве образца, высоких нагрузках, в динамическом режиме и др.
— Технологии Hysitron PI- количественные механические испытания на изгиб, растяжение, сжатие индивидуальных нанообъектов в СЭМ и ПЭМ микроскопах. Возможности комплексного подхода к исследованию механизмов деформации и разрушения наноматериалов, определение параметров возникновения и перемещения точечных и линейных дефектов в микроструктурах в интеграции со встроенными опциями микроскопии и режимами визуализации в высоком разрешении;
— Применение технологий Хайзитрон для исследования свойств образцов различного состава и структуры для перспективных областей науки и техники
В течение вебинара участники смогут задать интересующие их вопросы, поделиться опытом и запросить дополнительную информацию по наиболее интересным направлениям.
Будем рады ответить на Ваши вопросы.

докладчик — Васильева Екатерина Сергеевна, доцент кафедры технологий исследования материалов, СПбГПУ, кандидат технических наук

Категории оборудования

Все категории

Анализ физических свойств материалов

Анализ размеров частиц, свойств поверхности, термический анализ и реология.

Испытания материалов

Оборудование для испытания различных материалов от биологических тканей до современных высокопрочных сплавов на сжатие, циклическое нагружение, усталостную прочность, ударные, многоосевые, реологические воздействия, растяжение и кручение.

Наука и нанотехнологии

Более 10 лет наша компания занимается поставкой и обслуживанием уникального научного оборудования в области материаловедения, физики и химии. Уникальные комплексы для микроскопии, спектроскопии поверхности твердых тел, физики твердого тела и криомагнитных исследований.

Контроль технологических процессов и выбросов

Широкий выбор решений для газового анализа и анализа жидкости в промышленности.

Измерения геометрии и топологии

Контрольное и измерительное оборудование для электронной промышленности, обеспечивающее разнообразные технологические нормы, объемы производства и типы изделий электронной техники. Мы предлагаем оборудование для всех стадий производства электронных компонентов: от контроля чистых пластин и их обработки, до корпусирования и электрического тестирования готовых изделий.

Элементный и изотопный анализ

Определение элементного состава различных объектов является одним из самых востребованных видов анализа практически во всех областях науки и технологии производства. Наибольшую значимость элементный анализ имеет в таких областях, как металлургия, производство химических продукции — реагентов, удобрений, растворителей, лекарственных средств, производство ядерного топлива и полупроводниковых материалов.

Оборудование для экологического мониторинга

Оборудование и комплексные решения, от отдельного газоанализатора до передвижных и стационарных экологических постов (ПЭП, ПЭЛ, АСКЗА), систем мониторинга промышленных дымовых выбросов и сбросов сточных вод предприятий.

Хроматография и масс-спектрометрия

Это метод разделения и анализа смесей, основанный на распределении вещества между двумя фазами, подвижной и неподвижной. Наиболее современным типом детектора для хроматографа являются масс-спектрометрические детекторы, обладающие высочайшей чувствительностью, а также позволяющие устанавливать структуру неизвестных соединений по точной массе, а также картине фрагментации.

Молекулярный анализ

Инфракрасная спектроскопия с преобразованием Фурье (FTIR) исследует жидкие, твердые и газообразные объекты и предназначена для определения структуры молекул. В качестве прикладных задач возможны контроль качества сырья и продукции, определение содержания загрязняющих веществ в природных объектах, расшифровка состава сложных смесей. Широко используется в криминалистике, фармацевтике, полупроводниковой и атомной промышленности.