Вебинар JPK

Уважаемые друзья!

29 марта 2017 г. 10:00 — 10:45 по московскому времени приглашаем Вас на вебинар, посвященный выпуску нового гибридного инструмента оптический пинцет — атомно-силовой микроскоп (АСМ) немецким производителем JPK.

Оптический пинцет и АСМ по отдельности уже успешно себя зарекомендовали в различных областях. С их применением ученые исследуют мельчайшие структурные особенности, динамику и процессы взаимодействия объектов на молекулярном и клеточном уровне. Совмещение двух современных продвинутых методик в одной системе представляет новый уровень возможностей при визуализации в наномасштабе и силовой спектроскопии биологических объектов.

Посетители вебинара познакомятся с новым гибридным инструментом оптический пинцет — атомно-силовой микроскоп. В ходе вебинара освещены особенности технической реализации, а также возможные приложения. Кроме этого планируется дискуссия на тему совмещения с продвинутыми оптическими методиками, а также на тему приложений из области молекулярной динамики, механики клетки и иммунологии.

Для участия, пожалуйста, пройдите регистрацию по ссылке: https://attendee.gotowebinar.com/rt/3052152300421791489?source=Mailing+28.02.17

Категории оборудования

Все категории

Анализ физических свойств материалов

Анализ размеров частиц, свойств поверхности, термический анализ и реология.

Испытания материалов

Оборудование для испытания различных материалов от биологических тканей до современных высокопрочных сплавов на сжатие, циклическое нагружение, усталостную прочность, ударные, многоосевые, реологические воздействия, растяжение и кручение.

Наука и нанотехнологии

Более 10 лет наша компания занимается поставкой и обслуживанием уникального научного оборудования в области материаловедения, физики и химии. Уникальные комплексы для микроскопии, спектроскопии поверхности твердых тел, физики твердого тела и криомагнитных исследований.

Контроль технологических процессов и выбросов

Широкий выбор решений для газового анализа и анализа жидкости в промышленности.

Измерения геометрии и топологии

Контрольное и измерительное оборудование для электронной промышленности, обеспечивающее разнообразные технологические нормы, объемы производства и типы изделий электронной техники. Мы предлагаем оборудование для всех стадий производства электронных компонентов: от контроля чистых пластин и их обработки, до корпусирования и электрического тестирования готовых изделий.

Элементный и изотопный анализ

Определение элементного состава различных объектов является одним из самых востребованных видов анализа практически во всех областях науки и технологии производства. Наибольшую значимость элементный анализ имеет в таких областях, как металлургия, производство химических продукции — реагентов, удобрений, растворителей, лекарственных средств, производство ядерного топлива и полупроводниковых материалов.

Оборудование для экологического мониторинга

Оборудование и комплексные решения, от отдельного газоанализатора до передвижных и стационарных экологических постов (ПЭП, ПЭЛ, АСКЗА), систем мониторинга промышленных дымовых выбросов и сбросов сточных вод предприятий.

Хроматография и масс-спектрометрия

Это метод разделения и анализа смесей, основанный на распределении вещества между двумя фазами, подвижной и неподвижной. Наиболее современным типом детектора для хроматографа являются масс-спектрометрические детекторы, обладающие высочайшей чувствительностью, а также позволяющие устанавливать структуру неизвестных соединений по точной массе, а также картине фрагментации.

Молекулярный анализ

Инфракрасная спектроскопия с преобразованием Фурье (FTIR) исследует жидкие, твердые и газообразные объекты и предназначена для определения структуры молекул. В качестве прикладных задач возможны контроль качества сырья и продукции, определение содержания загрязняющих веществ в природных объектах, расшифровка состава сложных смесей. Широко используется в криминалистике, фармацевтике, полупроводниковой и атомной промышленности.