Назад

Свыше 100 000 профилей в секунду!

Поделиться:

СВЕРХВЫСОКОСКОРОСТНОЙ ЦИФРОВОЙ ГОЛОГРАФИЧЕСКИЙ МИКРОСКОП DHM®: СВЫШЕ 100 000 ТОПОГРАФИЧЕСКИХ ПРОФИЛЕЙ В СЕКУНДУ!

Новая высота покорена в сфере сверхвысокоскоростных трехмерных измерениях топографии поверхности. В октябре 2019 года компания Lync?e Tec SA запущен цифровой голографический микроскоп DHM T1000 со сверхскоростной камерой Photron Fastcam Nova, позволяющей получать данные о топологии поверхности с частотой 12 500 кадров/сек при разрешении 1024*1024 точек и 116 000 кадров/сек при разрешении 256*256 точек.

Высокоскоростные трехмерные измерения топологии поверхности нам нужны для проводимых в лаборатории исследований. После детального анализа рынка мы связались с компанией Lync?e для определения наиболее подходящего решения. Недавно поставленная система обеспечивает простоту использования, полностью настраиваемый интерфейс программного обеспечения, оптическую схему, удовлетворяющую нашим потребностям в адаптации голографического микроскопа для работы с высокоскоростными камерами. Мы ожидаем возможности выполнять выдающиеся исследования и рады возможности сотрудничества с компанией Lync?e Tec.

Профессор Джеймс Френдс, Калифорнийский университет Сан-Диего, США

С использованием нового микроскопа доктор Френдс и его коллеги наблюдают апериодические случайные явления – среди них – акустические волновые явления на поверхности капель жидкости. Это достижение открывает новое применение для DHM®, в том числе в таких областях, как запасание энергии, анализ воздействий, изучение границ раздела жидкостей, переходные процессы, анализ напряжений, испарение, сушка, абсорбция, десорбция и явления растворения и иных. Для указанных задач разработан специальный программный интерфейс, позволяющий управлять параметрами высокоскоростной камеры (скорость, затвор), управлять различными режимами запуска камеры, оптимально обращаться к буферу внутренней памяти камеры, воспроизводить полученную последовательность, выбирать соответствующие кадры и экспортировать их. Высокоскоростной цифровой голографический микроскоп DHM®совместим с высокоскоростной камерой Photron. Он может быть настроен как на режим проходящего света, так и на отражение, и работает на одной длине волны.

Пример применения данной технологии — динамическая характеристика топографии перестраиваемой линзы производства Optotune AG. Форма таких линз и, в частности, их фокусное расстояние, могут регулироваться электрически. В левой части иллюстрации демонстрируется процесс записи перестройки цветной видеокамерой со скоростью 60 кадров в секунду. Как видно, камера обеспечивает изображение объекта, но не дает информации об изменении топографии.

В то же время, постоянный и точный контроль формы линзы важен для обеспечения высокого качества и характеристик без аберраций. Цифровой голографический микроскоп DHM позволяет измерять его с высоким разрешением, сравнимым с разрешением интерферометров. Одним из преимуществ, среди прочих, является динамический анализ формы линзы при подаче прямоугольного входного напряжения, с помощью такого воздействия, в частности, было определено, что после каждого изменения напряжения перед стабилизацией формы линзы появляется эффект паразитных колебаний. Высокоскоростной DHM был использован для эффективной характеристики этого поведения, влияющего как на оптические свойства линзы, так и на диапазон рабочих частот. На анимации показано сравнение трехмерной топографии временной последовательности, записанной со скоростью 60 кадров в секунду с обычной камерой и со скоростью 12’800 кадров в секунду с высокоскоростным цифровым голографическим микроскопом DHM при движении объектива с прямоугольным сигналом с частотой 30 Гц.

Категории оборудования

Все категории
Анализ физических свойств материалов Анализ физических свойств материалов
Анализ размеров частиц, свойств поверхности, термический анализ и реология.
Испытания материалов Испытания материалов
Оборудование для испытания различных материалов от биологических тканей до современных высокопрочных сплавов на сжатие, циклическое нагружение, усталостную прочность, ударные, многоосевые, реологические воздействия, растяжение и кручение.
Наука и нанотехнологии Наука и нанотехнологии
Более 10 лет наша компания занимается поставкой и обслуживанием уникального научного оборудования в области материаловедения, физики и химии. Уникальные комплексы для микроскопии, спектроскопии поверхности твердых тел, физики твердого тела и криомагнитных исследований.
Контроль технологических процессов и выбросов Контроль технологических процессов и выбросов
Широкий выбор решений для газового анализа и анализа жидкости в промышленности.
Измерения геометрии и топологии Измерения геометрии и топологии
Контрольное и измерительное оборудование для электронной промышленности, обеспечивающее разнообразные технологические нормы, объемы производства и типы изделий электронной техники. Мы предлагаем оборудование для всех стадий производства электронных компонентов: от контроля чистых пластин и их обработки, до корпусирования и электрического тестирования готовых изделий.
Элементный и изотопный анализ Элементный и изотопный анализ
Определение элементного состава различных объектов является одним из самых востребованных видов анализа практически во всех областях науки и технологии производства. Наибольшую значимость элементный анализ имеет в таких областях, как металлургия, производство химических продукции — реагентов, удобрений, растворителей, лекарственных средств, производство ядерного топлива и полупроводниковых материалов.
Оборудование для экологического мониторинга Оборудование для экологического мониторинга
Оборудование и комплексные решения, от отдельного газоанализатора до передвижных и стационарных экологических постов (ПЭП, ПЭЛ, АСКЗА), систем мониторинга промышленных дымовых выбросов и сбросов сточных вод предприятий.
Хроматография и масс-спектрометрия Хроматография и масс-спектрометрия
Это метод разделения и анализа смесей, основанный на распределении вещества между двумя фазами, подвижной и неподвижной. Наиболее современным типом детектора для хроматографа являются масс-спектрометрические детекторы, обладающие высочайшей чувствительностью, а также позволяющие устанавливать структуру неизвестных соединений по точной массе, а также картине фрагментации.
Молекулярный анализ Молекулярный анализ
Инфракрасная спектроскопия с преобразованием Фурье (FTIR) исследует жидкие, твердые и газообразные объекты и предназначена для определения структуры молекул. В качестве прикладных задач возможны контроль качества сырья и продукции, определение содержания загрязняющих веществ в природных объектах, расшифровка состава сложных смесей. Широко используется в криминалистике, фармацевтике, полупроводниковой и атомной промышленности.

Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам
Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования