Назад

Симпозиум

Поделиться:

С 13 по 16 марта 2017 года при поддержке ООО «Группа Ай-Эм-Си» состоится XXI симпозиум «Нанофизика и наноэлектроника». Ежегодный международный симпозиум «Нанофизика и наноэлектроника» продолжает начатые в 1997–1998 г. г. регулярные обсуждения актуальных проблем в области физики полупроводниковых наноструктур, рентгеновской оптики и зондовой микроскопии в рамках ежегодных рабочих совещаний с участием всех активно работающих в этом направлении исследовательских групп в России и с привлечением ученых из-за рубежа.

Научная тематика cимпозиума охватывает широкий круг вопросов физики конденсированных сред, ее актуальность диктуется большим количеством работ в этой области в России и за рубежом и лежит в рамках одного из приоритетных направлений развития науки, технологий и техники в России.На cимпозиуме уделяется особое внимание обсуждению транспортных, оптических свойств полупроводниковых, магнитных и сверхпроводящих наноструктур, методам их изготовления и тестирования. Симпозиум позволяет обсудить результаты исследований, полученные российскими учеными, систематизировать их и провести сравнительный анализ с достижениями зарубежных научных групп.

На симпозиуме будут организованы пленарные, устные и стендовые сессии по следующим направлениям:

Сверхпроводящие наносистемы:

  • слоистые сверхпроводники;

  • джозефсоновская электроника;

  • гибридные системы сверхпроводник-ферромагнетик;

  • мезоскопические сверхпроводящие системы.

Магнитные наноструктуры:

  • магнитные наночастицы, тонкие пленки и сверхрешетки;

  • спиновый транспорт в магнитных материалах, новые материалы спинтроники;

  • магнитосиловая микроскопия наноструктур;

  • микромагнитное моделирование.

Полупроводниковые наноструктуры:

  • электронные, оптические свойства, методы формирования;

  • физические явления, лежащие в основе оптоэлектронных свойств низкоразмерных гетероструктур в видимом и ИК диапазонах;

  • физика неравновесных и инвертированных распределений и внутризонных оптических переходов горячих носителей в полупроводниковых структурах с квантовыми ямами;

  • нелинейные оптические явления в наноструктурах;

  • оптические свойства экситонов в наноструктурах;

  • фемтосекундная спектроскопия наноструктур;

  • нанокристаллические материалы;

  • структурные, оптические, электрофизические свойства наноструктур;

Зондовая микроскопия:

  • измерения и технологии атомарного и нанометрового масштаба;

  • углеродные наноструктуры;

  • наноструктуры на основе органических материалов;

  • аналитические методы исследования наноструктур;

  • применение методов сканирующей зондовой микроскопии для исследования и модификации свойств поверхности твердого тела.

Многослойная и кристаллическая рентгеновская оптика:

  • проекционная рентгеновская литография;

  • рентгеновская микроскопия;

  • рентгеновская астрономия;

  • рентгеновская диагностика плазмы;

  • новые методы диагностики многослойных структур из сверхтонких пленок.

Адрес симпозиума в сети интернет http://nanosymp.ru/ru/index

Категории оборудования

Все категории
Анализ физических свойств материалов Анализ физических свойств материалов
Анализ размеров частиц, свойств поверхности, термический анализ и реология.
Испытания материалов Испытания материалов
Оборудование для испытания различных материалов от биологических тканей до современных высокопрочных сплавов на сжатие, циклическое нагружение, усталостную прочность, ударные, многоосевые, реологические воздействия, растяжение и кручение.
Наука и нанотехнологии Наука и нанотехнологии
Более 10 лет наша компания занимается поставкой и обслуживанием уникального научного оборудования в области материаловедения, физики и химии. Уникальные комплексы для микроскопии, спектроскопии поверхности твердых тел, физики твердого тела и криомагнитных исследований.
Контроль технологических процессов и выбросов Контроль технологических процессов и выбросов
Широкий выбор решений для газового анализа и анализа жидкости в промышленности.
Измерения геометрии и топологии Измерения геометрии и топологии
Контрольное и измерительное оборудование для электронной промышленности, обеспечивающее разнообразные технологические нормы, объемы производства и типы изделий электронной техники. Мы предлагаем оборудование для всех стадий производства электронных компонентов: от контроля чистых пластин и их обработки, до корпусирования и электрического тестирования готовых изделий.
Элементный и изотопный анализ Элементный и изотопный анализ
Определение элементного состава различных объектов является одним из самых востребованных видов анализа практически во всех областях науки и технологии производства. Наибольшую значимость элементный анализ имеет в таких областях, как металлургия, производство химических продукции — реагентов, удобрений, растворителей, лекарственных средств, производство ядерного топлива и полупроводниковых материалов.
Оборудование для экологического мониторинга Оборудование для экологического мониторинга
Оборудование и комплексные решения, от отдельного газоанализатора до передвижных и стационарных экологических постов (ПЭП, ПЭЛ, АСКЗА), систем мониторинга промышленных дымовых выбросов и сбросов сточных вод предприятий.
Хроматография и масс-спектрометрия Хроматография и масс-спектрометрия
Это метод разделения и анализа смесей, основанный на распределении вещества между двумя фазами, подвижной и неподвижной. Наиболее современным типом детектора для хроматографа являются масс-спектрометрические детекторы, обладающие высочайшей чувствительностью, а также позволяющие устанавливать структуру неизвестных соединений по точной массе, а также картине фрагментации.
Молекулярный анализ Молекулярный анализ
Инфракрасная спектроскопия с преобразованием Фурье (FTIR) исследует жидкие, твердые и газообразные объекты и предназначена для определения структуры молекул. В качестве прикладных задач возможны контроль качества сырья и продукции, определение содержания загрязняющих веществ в природных объектах, расшифровка состава сложных смесей. Широко используется в криминалистике, фармацевтике, полупроводниковой и атомной промышленности.

Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам
Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования