Визуализирующие эллипсометры и микроскопы Брюстера

Спектральные визуализирующие эллипсометры

Спектральные визуализирующие эллипсометры
Эллипсометры с уникальной in-situ визуализацией от ведущего мирового производителя

Описание оборудования

   Эллипсометрия – очень чувствительный оптический метод, который используется уже в течение более чем 100 лет с целью получения информации о поверхности. Он основан на том явлении, что состояние поляризации света изменяется при отражении от поверхностей раздела сред. Основоположником метода эллипсометрии является немецкий исследователь Пауль Друде, применявший ее для получения оптических констант металлов и сверхтонких пленок. Затем долгое время метод оставался невостребованным. Однако в середине 20-го века с бурным развитием микроэлектроники, появлением лазеров и вычислительной техники он получил второе рождение и на сегодняшний день применяется в самых разных областях: микро- и наноэлектронике, физике полупроводников и физике твёрдого тела, в оптике, электрохимии, химии полимеров, биологии, медицине и в других, и занимает лидирующее место в ряду других аналитических методов.

   Спектральные визуализирующие эллипсометры Accurion

   Как комбинация методов нуль-эллипсометрии и микроскопии, спектральная визуализирующая эллипсометрия существенно расширяет возможности классического метода. Кроме возможности определения толщины и оптических свойств пленок и слоев, метод позволяет получить качественные изображения поверхностей с наилучшим латеральным разрешением среди подобных приборов — 1 мкм.

   Визуализирующий эллипсометр Accurion Nanofilm_EP4 обладает набором уникальных особенностей в сочетании с in-situ визуализацией в реальном времени. Это позволяет наблюдать структуру образца на микроскопическом уровне и измерять такие параметры, как: толщину покрытий, коэффициенты преломления и поглощения с картированием выбранной поверхности образца по этим параметрам.

   Отличительные особенности и области применения эллипсометров Accurion:

• Прямая in-situ визуализация образца с наилучшим латеральным разрешением по сравнению с коммерчески доступными аналогами.

• Исследования в диапазоне от 250 нм до 1700 нм с возможностью получения изображений на любой из длин волн в этом диапазоне.

• Большой набор аксессуаров для различных применений (ячейки для исследований границ раздела твердое — жидкость, жидкость — жидкость, контроля температуры, электрохимическая ячейка и многое другое).

• Запатентованная концепция «region of interest (ROI)» дает возможность параллельного исследования нескольких областей внутри выбранного поля зрения.

• Изучение динамических структур, таких как, движущиеся и образующиеся монослои на водной поверхности, растущие и адсорбированные слои, взаимодействие протеинов и многое другое.

• Изящное решение проблемы фоновых отражений при исследовании образцов на тонких прозрачных подложках beam cutter.

• Уникальная разработка среди объективов Nanochromat_2 для высокоразрешающей контрастной визуализации в диапазоне ультрафиолет (УФ) – ближний инфракрасный (БИК) свет с минимизированными искажающими эффетами.

• Интерактивное и легкое в использовании программное обеспечение для контроля и моделирования «EP4Control», полностью управляющее работой прибора и предлагающее широкий спектр возможностей обработки данных

Функциональность
01
Исследования материалов
Cлой графена
02
Приложения в биологии
Белковые комплексы на стекле
Видео
Спектральные визуализирующие эллипсометры

Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам
Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:
Похожее оборудование
Визуализирующий эллипсометр Nanofilm EP4
Уникальный спектральный визуализирующий эллипсометр
Рефлектометры Accurion видимого и УФ диапазонов
Специальные спектрометры отраженного света для изучения ориентации, объединения, адсорбции и химического изменения хромофоров в монослоях на поверхности воды
Микроскопы Брюстера
Одним из удивительных свойств оптики является возможность иметь нулевое отражение света при освещении идеальной поверхности под углом Брюстера

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
sales@imc-systems.ru
Наш телефон
+7 (495) 374-04-01