FOLLOW US ON
+7 (495) 374-04-01
Отраслевые решения
Задать вопрос
СЗМ для больших образцов Large Sample SPM ScientaOmicron

СЗМ для больших образцов Large Sample SPM ScientaOmicron

СЗМ для больших образцов происходят от известных микроскопов VT серии и предлагают идеальное решение для больших образцов диаметром вплоть до 4 дюймов.

 

Ключевые особенности:

  • образцы диаметром вплоть до 4 дюймов
  • реальная пикоамперная СТМ
  • усовершенствованная спектроскопия dI/dV
  • классическая АСМ с системой отклонения кантилевера
  • АСМ с датчиком QPlus
  • опция подсистемы
  • совместим с линейкой Fab

Интеграция

Конструкция прбора легко позволяет совмещать его с приборами молеулярно-пучковой эпитаксии и изготовления полупроводниковых пластин. СЗМ для больших образцов размещаются в специально разработанных камерах и имеют внутреннюю пружинную подвеску и вихретоковое демпфирование. Камера может непосредственно устанавливаться на существующую вакуумную систему. 

При работе с некоторыми системами (такими, как системы с большими механическими насосами или криогенными генераторами) возникают критически высокие уровни вибраций. Для таких случаев разработана специальная подсистема с высокопроизводительным механизмом подавления вибраций.

Замена зонда и образца

СЗМ для больших образцов обладает возможностью управления образцом. Линейный привод осуществляет перемещение образца в камеру микроскопа, где он далее размещается на погрузочное устройство и опускается на столик микроскопа для осуществления сканирования.

 

Вихретоковое демфирование

Вместе с микроскопом UHV STM1 компания Omicron представила систему вихретокового демпфирования, установившую новую веху в технологии высоковакуумных СЗМ. Она типична для всех систем СЗМ Omicron и обеспечивает высокое разрешение сканирующей туннельной микроскопии даже в неидеальных условиях на протяжении уже более 25 лет.

 

Закрыть

Задать вопрос

Оборудование для контроля воды IMC Systems - научное оборудование, инспекция в полупроводниковой промышленности, оборудование для экологического мониторинга и контроля технологических процессов

ФИО*
Компания
E-mail*
Телефон*
Вопрос*