FOLLOW US ON
+7 (495) 374-04-01
Отраслевые решения
поиск
Eng | Ru
23.08.2017
НОВОСТИ КОМПАНИИ И ПАРТНЕРОВ

СЗМ-2017

Международная конференция "Сканирующая Зондовая Микроскопия – 2017" (Scanning Probe Microscopy – 2017) будет проводиться в г. Екатеринбург 28 – 30 августа 2017 на площадке Уральского федерального университета им. Б.Н. Ельцина.

Читать далее

24.03.2017
НОВОСТИ КОМПАНИИ И ПАРТНЕРОВ

GRIMM

Анализаторы пыли GRIMM, предназначены для измерения массовой концентрации частиц РМ-10, РМ-2,5, РМ-1 в атмосферном воздухе. Линейка приборов также дополнена анализаторами химического состава частиц для анализа биоматериалов, наночастиц, ПАУ, сажи и т.д.

Читать далее

13.03.2017
НОВОСТИ КОМПАНИИ И ПАРТНЕРОВ

Вебинар JPK

29 марта 2017 г. состоится вебинар "Совмещение оптического пинцета с атомно-силовым микроскопом: новый уровень возможностей"

Читать далее

06.03.2017
НОВОСТИ КОМПАНИИ И ПАРТНЕРОВ

Симпозиум

С 13 по 16 марта 2017 года при поддержке ООО "Группа Ай-Эм-Си" состоится XXI симпозиум «Нанофизика и наноэлектроника».

Читать далее

25.10.2016
НОВОСТИ КОМПАНИИ И ПАРТНЕРОВ

Perfomech 2

Второе поколение контроллеров Perfomech для наноинденторов от мирового лидера - Hysitron Instruments

Читать далее

Новости
23.08.2017
СЗМ-2017
Международная конференция "Сканирующая Зондовая Микроскопия – 2017" (Scanning Probe Microscopy – 2017) будет проводиться в г. Екатеринбург 28 – 30 августа 2017 на площадке Уральского федерального университета им. Б.Н. Ельцина.
24.03.2017
GRIMM
Анализаторы пыли GRIMM, предназначены для измерения массовой концентрации частиц РМ-10, РМ-2,5, РМ-1 в атмосферном воздухе. Линейка приборов также дополнена анализаторами химического состава частиц для анализа биоматериалов, наночастиц, ПАУ, сажи и т.д.
13.03.2017
Вебинар JPK
29 марта 2017 г. состоится вебинар "Совмещение оптического пинцета с атомно-силовым микроскопом: новый уровень возможностей"
06.03.2017
Симпозиум
С 13 по 16 марта 2017 года при поддержке ООО "Группа Ай-Эм-Си" состоится XXI симпозиум «Нанофизика и наноэлектроника».