О нас
Новости
Партнеры
Контакты
Карьера
Сервис
Испытательное оборудование
E-SHOP
+7 (495) 374-04-01
RU
EN
Наука и нанотехнологии
Анализаторы размеров частиц
Антивибрационные решения для науки и промышленности
Ближнепольная микроскопия и спектроскопия NEASPEC
Визуализирующие эллипсометры и микроскопы Брюстера
Голографические микроскопы и профилометры
Импедансная спектроскопия
Рентгеновская дифрактометрия
Наноинденторы
Оптические пинцеты Lumicks
Сканирующие зондовые микроскопы Nanosurf
Универсальные испытательные машины
Источники ScientaOmicron
Молекулярно-лучевая эпитаксия
Сканирующие зондовые микроскопы ScientaOmicron
Электронная спектроскопия ScientaOmicron
Компоненты для сверхвысковакуумного оборудования
Элементный и изотопный анализ
ИСП-АЭС EXPEC 6000
ИСП-АЭС EXPEC 6500
ИСП-МС SUPEC 7000
Атомно-абсорбционные спектрофотометры
Искровые оптико-эмиссионные спектрометры
Системы пробоподготовки
Лабораторные системы для минерализации
Методики выполнения измерений
Оборудование для экологического мониторинга
Вспомогательное оборудование
Оборудование для измерения концентраций пыли и размеров частиц
Оборудование для контроля качества воды
Оборудование для мониторинга атмосферного воздуха
Ольфактометрическое оборудование
Передвижные и стационарные комплексы экологического мониторинга
Переносное и портативное оборудование
Системы непрерывного мониторинга выбросов предприятий
Контроль технологических процессов и выбросов
Анализ и мониторинг в энергогенерации
Газоанализаторы для добычи и переработки природного газа
Газоанализаторы для мусоросжигательных заводов
Оборудование для анализа в нефтехимии и нефтепереработке
Поточный анализ в металлургии
IMC SYSTEMS
> Наука о поверхности
Товары по теме
DA20 Компактный ARPES анализатор с угловым разрешением
Компактный полусферический анализатор с гибким функционалом, оптимизированный для РФЭ (XPS), УФЭ (UPS) и фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением (ARPES) с высоким разрешением.
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр ScientaOmicron XPS Lab
Универсальная платформа для проведения исследований поверхности образцов методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, ОЖЕ-спектроскопии и ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии в сверхвысоком вакууме.
NanoWizard 3 BioScience AFM
Система энергодисперсионного микроанализа (ЭДС) Pulsetor XOne
Наиболее мощная система энергодисперсионного рентгеновского микроанализа (ЭДС) и обработки изображений, доступная на сегодняшний день.
Молекулярные принтеры Nano eNabler System™
The Nano eNabler™ - настольный молекулярный принтер, построенный на базе новой технологии контролируемой доставки наноразмерных объектов на поверхность подложки
Визуализирующий эллипсометр Nanofilm_EP4
Уникальный спектральный визуализирующий эллипсометр Accurion
Источник электронов SL 1000
Источник электронов
Источник электронов высокого разрешения SEM 20
Источник электронов для сканирующей Оже-микроскоии (оже-микрозонд) и растровой электронной микроскопии
Электронная пушка SEM 250 / SEM 500
Источники электронов для сканирующей Оже-микроскопии и растровой электронной микроскопии
Источник электронов с малым пятном EKF 1000
Источник электронов с малым пятном
Аргонная кластерная пушка GCIB 10S
Аргоновая кластерная система с ионным пучком
Электронная пушка для нейтрализации заряда CN 10
Источник электронов для нейтрализации заряда
Универсальная электронная пушка EKF 300
Источник электронов
Ионная пушка ISE 5
Источник ионного распыления
Ионная пушка FDG 150
Ионная пушка с плавающей колонной и дифференциальной откачкой
УФ источник HIS 14 HD
Высоковакуумный УФ источник высокой плотности
Источники монохроматического рентгена XM 1000 и XM 1200
Монохроматические рентгеновские источники XM 1000 и XM 1200 для приложений рентгеновский фотоэлектронных спектрометров
Источники рентгена DAR 400 и DAR 450
Рентгеновские источники с двойным анодом
УФ источник HIS 13
Высоковакуумный источник фотонов УФ диапазона
Источники ультрафиолетового излучения для UPS и ARPES
Узкополосные источники (Scienta Omicron) высокой интенсивности крайнего УФ диапазона
Крекинговые и вентильные источники
Крекинговые и вентильные источники для тонкопленочных технологий.
МЛЭ система EVO 25/50
Установка молекулярно-лучевой эпитаксии для работы с подложками 1" (EVO-25) или 2" (EVO-50)
Установка молекулярно-лучевой эпитаксии PRO-75/100
Установка для молекулярно-лучевой эпитаксии промышленного класса для больших положек
Эффузионные ячейки
Полный спектр эффузионных ячеек для всех видов осаждения
Установка молекулярно-лучевой эпитаксии LAB-10
Универсальная компактная лабораторная система молекулярно-лучевой эпитаксии (МЛЭ)
HAXPES Lab. Фотоэлектронный спектрометр с жестким рентгеном
Уникальный лабораторный HAXPES спектрометр - новые горизонты РФЭС экспериментов с источником жесткого монохроматизированного излучения
DA30 ARPES. Фотоэмиссионный спектрометр с угловым разрешением
Система фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением (установка для ARPES)
Полусферический анализатор Argus
Полусферический анализатор последнего поколения с мультиканальным детектором для приложений РФЭС и ЭСХА.
FOCUS PEEM. Фотоэмиссионный электронный микроскоп
Фотоэмиссионная электронная микроскопия (PEEM) является чрезвычайно мощным методом для получения изображений магнитного контраста, а также топографической и химической томографии в высоком разрешении
LEED & RHEED
Дифракция медленных и быстрых электронов (ДМЭ и ДБЭ)
Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры (РФЭС) по индивидуальному проекту
Высокопроизводительный РФЭ и Оже спектрометры, выполненные по индивидуальному заказу.
NanoESCA. РФЭ спектрометр и микроскоп
Уникальная технология РФЭС визуализации сверхвысокого разрешения
NanoSAM. Оже-спектроскопия, нанозонд
Химический анализ Оже-спектрометрии и микроскопии с предельным разрешением
SCIENTA DA30. Полусферический анализатор
Революционная разработка для фотоэлектронной спектроскопии с разрешением по углу и спину электронов. Запатентованная новая конструкция дефлектора.
SCIENTA R3000. Полусферический анализатор
SCIENTA R3000 - компактный и производительный спектрометр с 135 мм радиусом полусферы анализатора
SCIENTA R4000. Полусферический анализатор
SCIENTA R4000 - самый производительный спектрометр из когда-либо созданных
SCIENTA R8000. Полусферический анализатор
Новый шаг в эволюции спектрометров Scienta. Система с разрешающей способностью по энергии лучше 1 мэВ и угловым разрешением 0.05°
Цифровые видеокамеры для микроскопов
Цифровые видеокамеры с высоким соотношением цена/качество для широкого спектра применений
Монокулярные микроскопы
Высокопроизводительные монокулярные микроскопы Accu-Scope являются надежными инструментами с профессиональными отличительными особенностями по доступной цене
Криминалистические микроскопы (микроскопы сравнения)
Криминалистические микроскопы сравнения для применения в исследовании оружия, боеприпасов, изучения маркировки деталей и прочих специальных применений.
Спектральные визуализирующие эллипсометры
Спектральные визуализирующие эллипсометры с уникальной in-situ визуализацией от ведущего мирового производителя
Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT
NANOPROBE LT - уникальный четырехточечный нанозонд с РЭМ колонной. Интеграция наноманипулятора на основе сканирующего зондового микроскопа и растровой электронной микроскопии.
Сканирующие электронные микроскопы PEMTRON PS Series
Высочайшие характеристики растровой электронной микроскопии и доступная цена
Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM
Метод низкотемпературной сканирующей туннельной микроскопии с момента выхода на рынок 15 лет назад в 1996 году остается востребованным в широком кругу научных областей. Визуализация и спектроскопия отдельных молекул, манипуляции атомами, графен, полупроводники и сверхпроводники - лишь некоторые из примеров приложений.
VT SPM
Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии.