Электронная спектроскопия Scienta Omicron

DA20 Компактный ARPES анализатор с угловым разрешением

DA20 Компактный ARPES анализатор с угловым разрешением
Компактный полусферический анализатор с гибким функционалом, оптимизированный для РФЭ (XPS), УФЭ (UPS) и фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением (ARPES) с высоким разрешением

Описание оборудования

   Анализатор DA20 обладает инновационной технологией регистрации, которая ранее была доступна только в более крупных моделях, таких как ScientaOmicron DA30-L. Применяемые в приборе решения позволяют проводить ARPES измерения с высочайшим угловым разрешением и без необходимости вращения образца. Благодаря данному подходу возможно отображение электронной зонной структуры без дополнительных помех и без влияния матричных эффектов, что значительно упростит интерпретацию получаемых результатов.

   Особенности полусферического анализатора:

  • проведение измерений без вращения образца по запатентованному методу (WO2013/133739)
  • отсутствие матричных эффектов
  • обеспечиваются одинаковый размер и форма пятна для всех k//
  • требования к манипулятору снижены

   Представленный полусферический анализатор DA20 является современным, компактным (средний радиус составляет 135 мм) с гибким функционалом, оптимизированным для быстрых ФЭС (PES) измерений с высоким разрешением. Он разработан для обеспечения высокой пропускной способности и хорошо подходит для РФЭ (XPS),  УФЭ (UPS) и фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением (ARPES). А особая модульная конструкция имеет широкие возможности для дальнейших расширения и апгрейда.

Основные характеристики

Энергетическое разрешение

< 3 мэВ FWHM

Диапазон энергий (transmission mode)

0,5 эВ – 1 500 эВ

Угловые моды

±6°, ±10°

Диапазон энергии (angular mode)

3 эВ – 1 500 эВ

Диапазон энергии (deflection mode)

3 эВ – 200 эВ

Рабочее давление

< 10-5 мбар

Крепежный фланец

DN100CF (наружный диаметр 6 дюймов)

Видео
DA20 ARPES Analyser

Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам
Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:
Похожее оборудование
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр ScientaOmicron XPS Lab
Представляет собой универсальную платформу для проведения исследований поверхности образцов методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии в сверхвысоком вакууме
Электронный ARPES анализатор DFS30
Данный анализатор DFS30 оснащен инновационной технологией трехмерной регулировки фокуса
HAXPES Lab — Фотоэлектронный спектрометр с жестким рентгеном
Комплекс фотоэлектронной спектроскопии HAXPES-Lab построен на следующих базовых принципах
DA30 ARPES. Фотоэмиссионный спектрометр с угловым разрешением
DA30 ARPES. Фотоэмиссионный спектрометр с угловым разрешением
Полусферический анализатор Argus
Argus является полусферическим анализатором нового поколения, который построен на базе мультиканального детектора и обеспечивает бескомпромиссную производительность в экспериментах РФЭС и ЭСХА
Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры (РФЭС) по индивидуальному проекту
Спектрометрическая система MXPS оборудована тремя камерами: аналитической, препаративной и шлюзом быстрой загрузки образцов
LEED & RHEED
RHEED (Дифракция быстрых электронов или ДБЭ) система состоит из: — экрана на свинцовом стекле с окном просмотра (6″ OD)
NanoSAM. Оже-спектроскопия, нанозонд
Химический анализ Оже-спектрометрии и микроскопии с предельным разрешением
SCIENTA DA30. Полусферический анализатор
Система VG Scienta DA30 является разработкой последнего поколения. Новейшая конструкция дефлектора этого анализатора позволяет прибору детектировать электроны в полном конусе с углом раствора 30 градусов
SCIENTA R3000. Полусферический анализатор
Модель Scienta R3000 — компактный спектрометр с 135 мм радиусом полусферы электронного анализатора, вакуумный корпус которого выполнен из мю-металла
SCIENTA R4000. Полусферический анализатор
Scienta R4000 является самым эффективным на сегодняшний день спектрометром c радиусом полусферы электронного анализатора 200 мм
SCIENTA R8000. Полусферический анализатор
С появлением на рынке модели VG Scienta R8000 было переосмыслено современное положение дел в области электронной спектроскопии
FOCUS PEEM — Фотоэмиссионный электронный микроскоп
Фотоэмиссионная электронная микроскопия (PEEM) является чрезвычайно мощным методом для получения изображений магнитного контраста, а также топографической и химической томографии в высоком разрешении.
NanoESCA — РФЭ спектрометр и микроскоп
NanoESCA предлагает отображение химических состояний с непревзойденным РФЭС латеральным разрешением (< 500 нм в лабораторных условиях).

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
sales@imc-systems.ru
Наш телефон
+7 (495) 374-04-01