RU EN
Задать вопрос

Платформа для ближнепольной микроскопии neaSNOM

Данная модульная система разработана для комплексного решения многих исследовательских задач. В зависимости от комплектации с помощью данного микроскопа возможны визуализация в высоком разрешении и спектроскопия в видимом (VIS-), ближнем инфракрасном (NIR-), среднем инфракрасном (MIR-) и терагерцовом (THz-) диапазонах.

Возможная комплектация

Модуль Характеристики
VIS-NIR-MIR-THz лазер Широкополосные источники света:
600-1100 нм, 2.5-15.4 мкм, 0.1-3.0 ТГцЛазер накачки при сверхбыстрой спектроскопии:
488-640 нм (< 1 пс), 830-1100 нм (< 200 фс),  980-1400 нм (< 25 фс), 780 нм (< 100 фс), 1570 нм (< 40 фс)
VIS лазер Настраиваемая длина волны, например:
532 нм,  632 нм, 785 нм
NIR лазер Настраиваемая длина волны, например:
1064 нм,  1550 нм, 1520..1630 нм
MIR-IR лазер Настраиваемая длина волны, например:
4..12 мкм
Модуль для визуализации в наномасштабе (NIM)
Модуль для измерения параметров пропускания/отражения света
Модуль для инфракрасной (nano-FTIR) спектроскопии (NSM)
Закрыть

Задать вопрос

Платформа для ближнепольной микроскопии neaSNOM

ФИО*
Компания
Телефон*
Email*
Напишите вопрос и наименование продукции*
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.