Сканирующая зондовая микроскопия

Сканирующий зондовый микроскоп NaioAFM

Сканирующий зондовый микроскоп NaioAFM
Наилучший выбор для проведения занятий в области атомно-силовой микроскопии
Представляет собой систему для АСМ «все-в-одном», простую в использовании, с дружелюбным и понятным пользователю интерфейсом, включающую в себя все основные режимы для проведения исследований

Описание оборудования

   NaioAFM позволяет новым пользователям получать качественные АСМ снимки всего через 2 часа с начала работы. Подобная экономия времени возможна за счет простоты используемого ПО и удобства системы установки кантилеверов, где не требуется дополнительной выравнивания при помощи лазера.

Функциональность
01
Топография тефлоновой ePTFE мембраны
 
02
Фазовый состав полимерной смеси
Представлен в виде цветных участков на 3D топографии (размер изображения: 20 мкм)
03
3D топография полимерной смеси
 
04
Результаты исследований адгезивных свойств

Основные характеристики

Предметный столик

Режимы измерений

Стандартные моды:

  • • Контактная мода
  • • Динамическая полуконтактная мода (теппинг режим)
  • • Мода отображения фаз

Магнитные свойства:

  • • Магнитно силовая микроскопия (MFM)

Электрические свойства:

  • • Атомно-силовая микроскопия с измерением тока (C-AFM)
  • • Электростатическая силовая микроскопия (EFM)
  • • Сканирующая микроскопия сопротивления растекания (SSRM)

Механические свойства:

  • • Силовая спектроскопия
  • • Модуляция силы взаимодействия
  • • Силовое картирование
  • • Литография и Наноманипуляции

Максимальный диапазон
сканирования / высота (разрешение)

70 мкм (1.0 нм) / 14 мкм (0.2 нм) (1))

Уровень шума  (RMS,
статический/динамический режим)    

ср. 0.4 нм (макс. 0.8 нм)
ср. 0.3 нм (макс. 0.8 нм)

Максимальные размер / высота образца

12 мм / 3.5 мм

Уровень шума при измерениях по оси Z (RMS, статический режим, воздух)

ср. 350 пм / макс. 500 пм

Кантилевер

Ширина

мин. 28 мкм

Длина

мин. 225 мкм

Светоотражающее покрытие

рекомендуется

Измерения в жидких средах

нет возможности

Толщина чипа

300 мкм

Форма

только одиночные, прямоугольного сечения


(1) – Допуск ± 10%

Видео
NaioAFM System Overview

Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам
Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:
Похожее оборудование
DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов
Это результат многих лет исследований и самых последних разработок в области атомно-силовой микроскопии. Его отличает стабильная работа в любой среде, очень низкий уровень шума, получение изображений в высоком разрешении, большая область сканирования и полностью автоматизированная система, управляемая с помощью специально разработанного ПО.
Core AFM — лучшие возможности атомно-силовой микроскопии по доступной цене
Сочетание современного сканера, платформы для высокоточной навигации по образцу в плоскостях XYZ, активного виброизоляционного столика и защиты от воздушного потока
FlexAFM — один из самых универсальных и гибких в использовании сканирующих зондовых микроскопов
FlexAFM — ваш надежный инструмент для проведения топографических измерений и измерений метрологических характеристик как в воздушной среде, так и в жидкости
Flex-Bio — универсальный АСМ для исследования живой материи
Данный атомно-силовой микроскоп для биологических исследований  сочетает в себе универсальность и производительность
Сканирующий зондовый микроскоп Cytomass Monitor
Это единственный доступный в настоящее время исследовательский инструмент, позволяющий связать динамику клеточной массы с морфологией и состоянием клеток
Сканирующий зондовый микроскоп Alphacen 300
Alphacen 300 является серийно выпускаемым продуктом, результатом многих лет исследований и работы с индивидуальными заказами различных клиентов
Сканирующий зондовый микроскоп LensAFM
Данный блок может быть установлен как обычный объектив, что автоматически повышает разрешающую способность и другие измерительные возможности этих приборов
Сканирующий зондовый микроскоп NaniteAFM
NaniteAFM от Nanosurf позволяет проводить исследование и контроль высокотехнологичных поверхностей многих образцов, вне зависимости от их типа и размера
Сканирующий зондовый микроскоп FluidFM
Модуль FluidFM (FPM) позволяет сочетать в себе возможности жидкостной силовой микроскопии (ЖСМ) с чувствительностью и точностью АСМ
Сканирующий туннельный микроскоп NaioSTM
NaioSTM – это сканирующий туннельный микроскоп, который выделяется простотой настройки, максимально понятным использованием и удобством транспортировки
Программное обеспечение Flex-ANA
Данная система Flex-ANA предназначена для исследования наномеханических свойств самых различных материалов
Nanosurf customizing
Поскольку атомно-силовые микроскопы продолжают находить все больше областей применения, особенно в промышленности (производственных процессах и контроле качества), стандартные решения часто не являются подходящими для решения поставленных задач
Зондовая система Fermi SPM
Новые СЗМ Fermi представляют собой компактные решения для сверхвысоковакуумных СЗМ в температурном диапазоне от 15 до 400 К
Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron
СЗМ Probe явлется компактным доступным завершенным решением для низкотемпературных СВВ СЗМ систем Omicron
Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT
Уникальный четырехточечный нанозонд с РЭМ колонной. Интеграция наноманипулятора на основе сканирующего зондового микроскопа и растровой электронной микроскопии
MULTISCAN Lab ScientaOmicron
Лаборатория MULTISCAN представляет собой инструмент, объединяющий различные методики анализа поверхности и работающие одновременно в одной области образца
Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1
Спустя год после присуждения Биннигу и Рореру Нобелевской премии в 1986 году компания Omicron представила первый сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп — легендарный UHV STM1
Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM
Метод низкотемпературной сканирующей туннельной микроскопии с момента выхода на рынок 15 лет назад в 1996 году остается востребованным в широком кругу научных областей
VT SPM
Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии
Large Sample SPM
СЗМ для больших образцов происходят от известных микроскопов VT серии и предлагают идеальное решение для больших образцов диаметром вплоть до 4 дюймов

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
sales@imc-systems.ru
Наш телефон
+7 (495) 374-04-01