Описание оборудования
NaioAFM позволяет новым пользователям получать качественные АСМ снимки всего через 2 часа с начала работы. Подобная экономия времени возможна за счет простоты используемого ПО и удобства системы установки кантилеверов, где не требуется дополнительной выравнивания при помощи лазера.
Основные характеристики
Предметный столик |
|
---|---|
Режимы измерений |
Стандартные моды:
Магнитные свойства:
Электрические свойства:
Механические свойства:
|
Максимальный диапазон |
70 мкм (1.0 нм) / 14 мкм (0.2 нм) (1)) |
Уровень шума (RMS, статический/динамический режим) |
ср. 0.4 нм (макс. 0.8 нм) |
Максимальные размер / высота образца |
12 мм / 3.5 мм |
Уровень шума при измерениях по оси Z (RMS, статический режим, воздух) |
ср. 350 пм / макс. 500 пм |
Кантилевер |
|
Ширина |
мин. 28 мкм |
Длина |
мин. 225 мкм |
Светоотражающее покрытие |
рекомендуется |
Измерения в жидких средах |
нет возможности |
Толщина чипа |
300 мкм |
Форма |
только одиночные, прямоугольного сечения |
(1) – Допуск ± 10%
Сервис и ремонт измерительного оборудования
ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.
Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.