RU EN
Задать вопрос

Flex-Axiom — один из самых универсальных и гибких в использовании сканирующих зондовых микроскопов

Усовершенствовав ключевые технологии, Nanosurf сделала Flex-Axiom одним из самых универсальных и гибких АСМ, позволяющим с легкостью выполнять широкий спектр приложений для исследования материалов. Для перемещения по оси XY Flex-Axiom использует линейный электромагнитный сканер, благодаря которому во всем диапазоне сканирования среднее отклонение линейности не превосходит 0,1% (первое место на рынке АСМ). Ось Z оснащена пьезоприводом и датчиком положения, обеспечивающим работу в замкнутом контуре. Чувствительная система кантилеверов может выполнять измерения в (МГц) диапазоне частот. В сочетании с мощным 24-битным контроллером C3000i с цифровой обратной связью и 2 двухканальными синхронными усилителями возможна наиболее полная характеризация самых различных материалов.

Функциональность

Flex-Axiom — ваш надежный инструмент для проведения топографических измерений и измерений метрологических характеристик как в воздушной среде, так и в жидкости. Дополнительные аксессуары для Flex-Axiom позволяют также проводить измерения механических, электрических и магнитных характеристик.

Flex-Axiom – Продажа и обслуживание, Москва в IMC-SYSTEMS

Примеры режимов «Топография», «Зондовая силовая микроскопия Кельвина» и «Магнитно-силовая микроскопия» для одного и того же образца из стали

Flex-Axiom – Продажа и обслуживание, Москва в IMC-SYSTEMS

3D АСМ Топография слоя MoS2

Стандартные моды Магнитные свойства Механические свойства
Динамическая полуконтактная мода (теппинг режим) Магнитно-силовая
микроскопия (MFM)
Модуляция силы взаимодействия
Контактная мода Жесткость и упругость
Мода поперечных сил Электрические свойства Адгезия
Мода отображения фаз Атомно-силовая микроскопия с измерением тока (C-AFM) Силовая спектроскопия
Пьезоэлектрическая силовая микроскопия (PFM) Микроманипуляции и растяжение
Температурная микроскопия Электростатическая силовая микроскопия (EFM) Силовое картирование
Сканирующая микроскопия теплопроводности (SThM) Зондовая силовая микроскопия Кельвина (KPFM) Литография и Наноманипуляции
Сканирующая микроскопия сопротивления растекания (SSRM) Электрохимическая атомно-силовая микроскопия
(EC-AFM)
Flex-Axiom – Продажа и обслуживание, Москва в IMC-SYSTEMS

Технические характеристики

FlexAFM 5 с C3000i контроллером

100-мкм сканирующая головка 10-мкм сканирующая головка
Размер образцов без предметного столика – не ограничен
с предметным столиком – не больше 100 мм
Максимальная высота чашки Петри (уровень жидкости) 9 мм (6 мм)
Диапазон ручной регулировки высоты 6 мм
Диапазон автоматической регулировки высоты 2 мм
Максимальный диапазон сканирования (XY) 100 мкм(1) 10 мкм(1)
Максимальная высота (Z) 10 мкм(2) 3 мкм(1)
Средняя ошибка линейности XY < 0.1%
XY-плоскостность при максимальном диапазоне сканирования ср. 5 нм ср. 1 нм
Уровень шума детектора (RMS) ср. 60 пм / макс. 100 пм(3,4)
Уровень шума Z-сенсора (RMS) ср. 180 пм / макс. 200 пм(3)
Уровень шума при измерениях по оси Z (RMS, статический режим, воздух) ср. 100 пм / макс. 200 пм
Уровень шума при измерениях по оси Z (RMS, динамический режим, воздух) ср. 35 пм / макс. 50 пм
Размеры сканирующей головки 413 x 158 x 53 мм
Масса сканирующей головки 1.25 кг

Кантилевер

Ширина мин. 20 мкм
Длина мин. 40 мкм
Светоотражающее покрытие рекомендуется
Измерения в жидких средах да, с золотым покрытием
Толщина чипа 300 мкм, 500 мкм или 600 мкм в зависимости от вида кантилевера

(1) – Допуск ± 5%
(2) – Допуск ± 10%
(3) – Измерено при 2 кГц
(4) – Измерено с помощью XYContr кантилевера

скачать PDF
Закрыть

Скачать PDF

ФИО*
Компания
E-mail*
Телефон*

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Закрыть

Задать вопрос

Flex-Axiom — один из самых универсальных и гибких в использовании сканирующих зондовых микроскопов

ФИО*
Компания
Телефон*
Email*
Напишите вопрос и наименование продукции*
Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.