Сканирующая зондовая микроскопия

Программное обеспечение Flex-ANA

Программное обеспечение Flex-ANA
АСМ для автоматического силового картирования
Система предназначена для автоматизации исследований наномеханических свойств самых различных материалов (отдельные клетки, ткани, каркасы, гидрогели, полимеры и т.д.) методами силовой спектроскопии и силового картирования

Описание оборудования

   Данная система Flex-ANA предназначена для исследования наномеханических свойств самых различных материалов (отдельные клетки, ткани, каркасы, гидрогели, полимеры и т.д.) методами силовой спектроскопии и силового картирования. При этом все измерения проводятся автоматизировано, интуитивно понятным способом.

   ANA совместим со сканерами серии FlexAFM от Nanosurf: Flex-Axiom – для проведения измерений свойств материалов, а также для приложений биологии в установке Flex-Bio – для исследования процессов, протекающих в живой материи.

   Отличительной чертой системы Flex-ANA является сочетание простых алгоритмов проведения эксперимента, гибкого программного обеспечения, а также высокоточного управления и позиционирования предметного столика. Система может выполнять многие виды наномеханических испытаний, анализов и моделирования.

   Особенности:
1) Моторизированный предметный столик позволяет перемещаться в диапазоне 32 мм х 32 мм х 5 мм.

2) Для увеличения возможностей силовой спектроскопии (измерения по оси Z до 100 мкм) система может быть оснащена дополнительным модулем.

3) Можно проводить измерения шероховатости в диапазоне от нескольких миллиметров до десятков микрометров.

4) Система может использоваться как специалистами различного рода, так и начинающими исследователями

Функциональность
01
Пример измерения модуля упругости
В различных точках образца альгината
02
АСМ топография и оценка параметров
Эластичности медицинских трубок (без защитного покрытия и с ним)
Видео
Automated Nanomechanical Analysis

Расходные материалы и аксессуары

К расходным материалам и аксессуарам
Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:
Похожее оборудование
DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов
Это результат многих лет исследований и самых последних разработок в области атомно-силовой микроскопии. Его отличает стабильная работа в любой среде, очень низкий уровень шума, получение изображений в высоком разрешении, большая область сканирования и полностью автоматизированная система, управляемая с помощью специально разработанного ПО.
Core AFM — лучшие возможности атомно-силовой микроскопии по доступной цене
Сочетание современного сканера, платформы для высокоточной навигации по образцу в плоскостях XYZ, активного виброизоляционного столика и защиты от воздушного потока
FlexAFM — один из самых универсальных и гибких в использовании сканирующих зондовых микроскопов
FlexAFM — ваш надежный инструмент для проведения топографических измерений и измерений метрологических характеристик как в воздушной среде, так и в жидкости
Flex-Bio — универсальный АСМ для исследования живой материи
Данный атомно-силовой микроскоп для биологических исследований  сочетает в себе универсальность и производительность
Сканирующий зондовый микроскоп Cytomass Monitor
Это единственный доступный в настоящее время исследовательский инструмент, позволяющий связать динамику клеточной массы с морфологией и состоянием клеток
Сканирующий зондовый микроскоп Alphacen 300
Alphacen 300 является серийно выпускаемым продуктом, результатом многих лет исследований и работы с индивидуальными заказами различных клиентов
Сканирующий зондовый микроскоп LensAFM
Данный блок может быть установлен как обычный объектив, что автоматически повышает разрешающую способность и другие измерительные возможности этих приборов
Сканирующий зондовый микроскоп NaniteAFM
NaniteAFM от Nanosurf позволяет проводить исследование и контроль высокотехнологичных поверхностей многих образцов, вне зависимости от их типа и размера
Сканирующий зондовый микроскоп NaioAFM
NaioAFM позволяет новым пользователям получать качественные АСМ снимки всего через 2 часа с начала работы
Сканирующий зондовый микроскоп FluidFM
Модуль FluidFM (FPM) позволяет сочетать в себе возможности жидкостной силовой микроскопии (ЖСМ) с чувствительностью и точностью АСМ
Сканирующий туннельный микроскоп NaioSTM
NaioSTM – это сканирующий туннельный микроскоп, который выделяется простотой настройки, максимально понятным использованием и удобством транспортировки
Nanosurf customizing
Поскольку атомно-силовые микроскопы продолжают находить все больше областей применения, особенно в промышленности (производственных процессах и контроле качества), стандартные решения часто не являются подходящими для решения поставленных задач
Зондовая система Fermi SPM
Новые СЗМ Fermi представляют собой компактные решения для сверхвысоковакуумных СЗМ в температурном диапазоне от 15 до 400 К
Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron
СЗМ Probe явлется компактным доступным завершенным решением для низкотемпературных СВВ СЗМ систем Omicron
Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT
Уникальный четырехточечный нанозонд с РЭМ колонной. Интеграция наноманипулятора на основе сканирующего зондового микроскопа и растровой электронной микроскопии
MULTISCAN Lab ScientaOmicron
Лаборатория MULTISCAN представляет собой инструмент, объединяющий различные методики анализа поверхности и работающие одновременно в одной области образца
Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1
Спустя год после присуждения Биннигу и Рореру Нобелевской премии в 1986 году компания Omicron представила первый сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп — легендарный UHV STM1
Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM
Метод низкотемпературной сканирующей туннельной микроскопии с момента выхода на рынок 15 лет назад в 1996 году остается востребованным в широком кругу научных областей
VT SPM
Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии
Large Sample SPM
СЗМ для больших образцов происходят от известных микроскопов VT серии и предлагают идеальное решение для больших образцов диаметром вплоть до 4 дюймов

Сервис и ремонт измерительного оборудования

Выезд сервис-инженера
В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
Сервисный договор
Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
Диагностика и ремонт
Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
Гарантия и качество
Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
Сервис оборудования

ФОРМА ДЛЯ
ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

Наша почта
sales@imc-systems.ru
Наш телефон
+7 (495) 374-04-01