Сканирующая зондовая микроскопия

DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов

DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов
DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов
DriveAFM – функциональность зондовой микроскопии без компромиссов
Это результат многих лет исследований и самых последних разработок в области атомно-силовой микроскопии. Его отличает стабильная работа в любой среде, очень низкий уровень шума, получение изображений в высоком разрешении, большая область сканирования и полностью автоматизированная система, управляемая с помощью специально разработанного ПО.

Описание оборудования

  Идеальное решение для получения качественных изображений поверхности сложных образцов, таких как различные наноструктуры, белки или полимерные структуры (например, ДНК), а также более крупных объектов (микрометрового масштаба).

  В сканирующем зондовом микроскопе DriveAFM используются кантилеверы малого размера (10 мкм x 20 мкм вместо 27 мкм x 150 мкм), которых отличает пониженное гидродинамическое сопротивление, отличная чувствительность, значительно более высокая резонансная частота и широкая полоса пропускания. Это приводит к дополнительному улучшению качества изображения.

  Фототермическое возбуждение колебаний кантилевера обеспечивает беспрецедентную стабильность, линейную частотную характеристику и широкий диапазон работы в воздушной и жидкой средах. Благодаря этому возможны измерения в нескольких частотных диапазонах, при больших скоростях. Кроме того, подобный метод нечувствителен к изменениям окружающей среды и расстояния до образца. Также измерения в жидких средах позволяют получить более качественные данные по сравнению с методом пьезоакустического возбуждения. А благодаря таким решениям Nanosurf, как Cytomass Monitor, FluidFM и Flex-ANA, сфера применения DriveAFM становится только шире.

    DriveAFM – это первая полностью моторизованная система для АСМ (СЗМ), которая может быть интегрирована вместе с инвертированным оптическим микроскопом. Установка кантилевера, настройка двух источников света для системы обнаружения отклонения луча, системы фототермического возбуждения CleanDrive и фотодетектора полностью автоматизированы.

Функциональность
01
Снимок двухцепочечной ДНК
Снимок с высоким разрешением двухцепочечной ДНК, адсорбированной на слюде в буферном растворе. Можно наблюдать несколько цепей, которые показывают характерный периодический узор
02
Атомная решетка слюды (воздух)
Размер изображения: 7 нм.
03
Силовая карта живых клеток
Фибробласты при 37°C (совмещена со снимком, полученным методом дифференциально-интерференционного контраста)
04
Окрашивание фаз
АСМ снимок комбинируется со снимком, полученным методом дифференциально-интерференционного контраста
05
Атомно-силовая микроскопия
С измерением тока (C-AFM) пленки оксида индия-олова (ITO)
06
MFM-изображение
Решетки Шакти при приложении различных магнитных полей в плоскости. Размер изображения: 8 мкм.

Зондовая микроскопия без ограничений

Система CleanDrive обеспечивает надежную настройку работы кантилевера в жидких средах. Ее стабильность при изменениях условий окружающей среды и высокая чувствительность кантилеверов малых размеров обеспечивают четкую визуализацию даже при длительном наблюдении.

СЗМ DriveAFM раскрывает все свои возможности, когда дело касается исследований биологических объектов. Полная автоматизация позволяет перемещаться по образцу, не влияя на среду с регулируемой температурой.

Также DriveAFM сочетает в себе производительность и функциональность для исследований свойств простых материалов. Помимо получения различных изображений поверхности образцов система позволяет проводить оценку электрических (например, C-AFM, KPFM или PFM) или наномеханических свойств объектов. Различные дополнения, разработанные для DriveAFM, значительно расширяют его функционал: нагрев или охлаждение образца, приложение переменного магнитного поля, обнаружение слабых электрических токов и многое другое.

Основные характеристики

Режимы измерений: Стандартные моды:
  • - Контактная мода
  • - Мода поперечных сил
  • - Динамическая полуконтактная мода (теппинг режим)
  • - Мода отображения фаз


  • Магнитные свойства:
  • - Магнитно силовая микроскопия (MFM)


  • Электрические свойства:
  • - Атомно-силовая микроскопия с измерением тока (C-AFM)
  • - Пьезоэлектрическая силовая микроскопия (PFM)
  • - Электростатическая силовая микроскопия (EFM)
  • - Зондовая силовая микроскопия Кельвина (KPFM)


  • Механические свойства:
  • - Силовая спектроскопия
  • - Модуляция силы взаимодействия
  • - Жесткость и упругость
  • - Адгезия
  • - Силовое картирование
  • - Литография и Наноманипуляции
  • - Электрохимическая атомно силовая микроскопия (EC-AFM)
  • - Микроманипуляции и растяжение
  • Площадь сканирования:

    ср. 100 мк х 100 мкм х 20 мкм;

    мин. 95 мкм х 95 мкм х 18 мкм

    Источник света для считывания:

    Низкокогерентный суперлюминесцентный (СЛД) 850 нм

    Источник света CleanDrive:

    Лазер 785 нм

    Пропускная способность фотодетектора:

    ≥ 8

    Стандартный / максимальный размер образцов:

    100 мм

    150 мм

    Уровень шума при измерениях по оси Z (RMS, статический режим):

    < 30 пм

    Уровень шума при измерениях по оси Z (RMS, динамический режим):

    < 30 пм


    Видео
    Принцип работы CleanDrive Photothermal excitation
    Многофункциональный сканирующий зондовый микроскоп DriveAFM
    Вебинар Nanosurf AG, посвященный DriveAFM

    Расходные материалы и аксессуары

    К расходным материалам и аксессуарам
    Мы предлагаем широкий выбор расходных материалов и аксессуаров для зондовой атомно-силовой и электронной микроскопии по категориям:
    Похожее оборудование
    Core AFM — лучшие возможности атомно-силовой микроскопии по доступной цене
    Сочетание современного сканера, платформы для высокоточной навигации по образцу в плоскостях XYZ, активного виброизоляционного столика и защиты от воздушного потока
    FlexAFM — один из самых универсальных и гибких в использовании сканирующих зондовых микроскопов
    FlexAFM — ваш надежный инструмент для проведения топографических измерений и измерений метрологических характеристик как в воздушной среде, так и в жидкости
    Flex-Bio — универсальный АСМ для исследования живой материи
    Данный атомно-силовой микроскоп для биологических исследований  сочетает в себе универсальность и производительность
    Сканирующий зондовый микроскоп Cytomass Monitor
    Это единственный доступный в настоящее время исследовательский инструмент, позволяющий связать динамику клеточной массы с морфологией и состоянием клеток
    Сканирующий зондовый микроскоп Alphacen 300
    Alphacen 300 является серийно выпускаемым продуктом, результатом многих лет исследований и работы с индивидуальными заказами различных клиентов
    Сканирующий зондовый микроскоп LensAFM
    Данный блок может быть установлен как обычный объектив, что автоматически повышает разрешающую способность и другие измерительные возможности этих приборов
    Сканирующий зондовый микроскоп NaniteAFM
    NaniteAFM от Nanosurf позволяет проводить исследование и контроль высокотехнологичных поверхностей многих образцов, вне зависимости от их типа и размера
    Сканирующий зондовый микроскоп NaioAFM
    NaioAFM позволяет новым пользователям получать качественные АСМ снимки всего через 2 часа с начала работы
    Сканирующий зондовый микроскоп FluidFM
    Модуль FluidFM (FPM) позволяет сочетать в себе возможности жидкостной силовой микроскопии (ЖСМ) с чувствительностью и точностью АСМ
    Сканирующий туннельный микроскоп NaioSTM
    NaioSTM – это сканирующий туннельный микроскоп, который выделяется простотой настройки, максимально понятным использованием и удобством транспортировки
    Программное обеспечение Flex-ANA
    Данная система Flex-ANA предназначена для исследования наномеханических свойств самых различных материалов
    Nanosurf customizing
    Поскольку атомно-силовые микроскопы продолжают находить все больше областей применения, особенно в промышленности (производственных процессах и контроле качества), стандартные решения часто не являются подходящими для решения поставленных задач
    Зондовая система Fermi SPM
    Новые СЗМ Fermi представляют собой компактные решения для сверхвысоковакуумных СЗМ в температурном диапазоне от 15 до 400 К
    Компактная зондовая система SPM Probe ScientaOmicron
    СЗМ Probe явлется компактным доступным завершенным решением для низкотемпературных СВВ СЗМ систем Omicron
    Нанозонд ScientaOmicon NANOPROBE LT
    Уникальный четырехточечный нанозонд с РЭМ колонной. Интеграция наноманипулятора на основе сканирующего зондового микроскопа и растровой электронной микроскопии
    MULTISCAN Lab ScientaOmicron
    Лаборатория MULTISCAN представляет собой инструмент, объединяющий различные методики анализа поверхности и работающие одновременно в одной области образца
    Системы СЗМ ScientaOmicron комнатной температуры UHV STM 1
    Спустя год после присуждения Биннигу и Рореру Нобелевской премии в 1986 году компания Omicron представила первый сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп — легендарный UHV STM1
    Сканирующая зондовая микроскопия при низких температурах LT STM
    Метод низкотемпературной сканирующей туннельной микроскопии с момента выхода на рынок 15 лет назад в 1996 году остается востребованным в широком кругу научных областей
    VT SPM
    Сканирующие зондовые микроскопы с переменной температурой применяют последние разработки предусилителей и создают возможности для реальной субпикоамперной сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии
    Large Sample SPM
    СЗМ для больших образцов происходят от известных микроскопов VT серии и предлагают идеальное решение для больших образцов диаметром вплоть до 4 дюймов

    Сервис и ремонт измерительного оборудования

    Выезд сервис-инженера
    В кратчайшие сроки к вам приедет наш сервисный инженер для проведения ремонта.
    Сервисный договор
    Обслуживание «под ключ»: график выездов, экстренные выезды,склад запчастей «быстрого реагирования».
    Диагностика и ремонт
    Ремонтируем аналитическое и лабораторное оборудование всех ведущих марок, как представляемых эксклюзивно нами, так и сторонних производителей.
    Гарантия и качество
    Большой опыт оказания услуг по сервисному обслуживанию и ремонту измерительного оборудования.
    Сервис оборудования

    ФОРМА ДЛЯ
    ОБРАТНОЙ СВЯЗИ

    Нажимая на кнопку "Отправить", я даю согласие на обработку персональных данных.

    Напишите свой вопрос, укажите интересующее оборудование.

    Наша почта
    sales@imc-systems.ru
    Наш телефон
    +7 (495) 374-04-01